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標題: 6/10-NEBS技術研討會(免費) [打印本頁]

作者: ritaliu0604    時間: 2013-6-4 04:22 PM
標題: 6/10-NEBS技術研討會(免費)
財團法台灣電子檢驗中心 (ETC) 與北國家安規認證有限公司 (MET) 協助國內相關業界了解美國各大信設備製造商於產品的安全性、電磁相容及可性等符合美國信運營商的需求舉辦此研討會,次研討會詳如檔。主要探討在 NEBS 測試中GR-63及GR-1089標準的理解應用,MET美國的NEBS專家將會結合實際案例,來賓進行標準剖析解答您的產品在出口美國時試認證中遇到問題,本活動免費參加,額滿截,歡迎業者踴出席。
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! j0 i: q0 l' ~1 V2 d7 I3 @研討會時間:2013年610日(一),下13:00~17:00) s$ Y9 ?( f2 x5 k0 S0 O7 |. |- v! n
研討會地點:大集思會議中-米開朗基羅廳 (台北市羅斯福路四段85號B1-台灣學第二活動中內)7 N' i' e$ @* {& r( e$ D* @
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線上名: http://course.etc.org.tw/UserEnd ... ignUp.aspx?ciNO=746




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