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標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班 [打印本頁]

作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班
●主辦單位:工研院新竹學習中心 ( _, ~  c5 Y* N& z. d$ b* @
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 5 @) o6 ^8 o& f6 S" K! g
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
- x3 Q! m3 ^# s2 O7 h( W- @3 y/ @●課程費用:5,000(含稅) 6 M. {/ i/ u3 M# V; c8 P
●報名截止日期:100/12/01(四)
" r* [# E5 A. t+ S0 n●開班人數:10人以上 (最低開班人數) 0 m" \# _) y( n& a) o: V
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 % K. |0 j% @; ?: T9 k
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網: ~" g1 O% M% I) J
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■課程目標: {7 T( Z- J4 h# T9 Y. }' R) O- v
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本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。% s! O) c( O+ _- F; ^' @8 i

5 n. j) j! Y- r- J■課程大綱! f2 e8 P/ U0 v2 h
第一天:12/08(四)9:00~16:00 " N9 x! j9 h' N( I
專利檢索入門與檢索規畫
" V6 J9 T, Z4 @( S  \; E1 ?免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲) 6 z+ B2 n9 d5 L/ M
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 - r' ~/ W9 V* [( w# O
0 {9 b: v6 s: r0 t; G; `- Q# b' Z
第二天:12/09(五) 9:00~16:00 & h1 R9 J# y7 w: v8 z$ ]" a% s) T
專利分析可提供之情報
) ^  S( z$ J4 X$ r. x3 y7 i7 E專利地圖試做範例 - u4 l' e3 m; @& }" e( l8 f
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
& u; J0 z3 [( Q# H*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
■講師介紹1 U! t/ {0 P5 m: F  O. b! F
吳俊逸 博士
1 m0 ?8 W) b) N! t在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 ; c9 B# y% I$ q9 P
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
% Z* Y- P$ N* P學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 8 a5 `( C; @4 \& I2 i; S
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
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- i& x) Y$ s" I2 J專長與經驗:
# O- T. z7 j' Y( G+ D) g3 a6 {- y7 _ 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March). / y' u) e9 E  V! a. |) i+ z
 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
2 [2 \. M( H- ]" ~# `! J9 u 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). 0 \7 I4 \9 Y* K& N5 G7 d  T
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). ) K  ?3 s0 U4 b: T& O4 Q
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經歷:
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$ @% f: D% u% @/ `  @工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 ) S& z# g. _( n& f: A
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 9 n) I/ g6 {4 M% @5 q/ u  l
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
作者: globe0968    時間: 2012-6-20 09:28 AM
標題: 資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」
(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
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9 X/ x! v. b7 X1 g為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。4 I9 v5 U: g' H$ H) H% J

. ?9 Z: R2 q$ m: b/ G: I% \本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
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訊息來源:財團法人資訊工業策進會




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