邁向無線與數位技術整合的新紀元' D/ n, [% V; q1 D2 g# a : M4 T" H& r6 ]( P; l; _6 _8 V 長期以來,資通訊產業一直是帶動台灣發展的主要驅動力,而今,隨著全球個人 電腦、電腦網路和智慧型手機等銷售增長,台灣廠商靈活的經營策略以及快速跟上最新發展的研發能力,形成完整的供應鏈,開創台灣今日立足於全球資通訊產業的地位。 + u2 m' o+ H' O6 b 資通訊展業前景無限,投入者眾,充滿創新與秉持服務客戶最佳精神的台灣安捷倫科技,一直都是客戶的最佳夥伴,為協助相關廠商藉由量測技術讓工作更得心應手,連續十一年,台灣安捷倫科技盛大舉辦電子量測論壇,與顧客們分享當前最熱門的科技應用及其全系列解決方案。此次,台灣安捷倫科技將提供更具主題性的內容,並針對相關技術趨勢,進行剖析目前最受關注的無線通訊及數位量測二大主題。! ]3 ]: [' \. c/ B4 N8 o# U2 T2 P# @ 無線通訊論壇 行動裝置市場的爆炸性成長,促使無線設備製造商加速建置LTE裝置與制定新世代無線連接規格,以滿足使用者對寬頻數據服務功能日益迫切的需求。此次論壇,安捷倫將為您帶來領先市場的LTE-Advanced與802.11ac測試解決方案與技術簡介、創新MIMO的測試技術、與洞悉行動裝置的完全測試要訣,會場亦將展示最新無線測試設備與解決方案,並且重申了安捷倫在無線通訊技術演進的過程中扮演強力、積極的領導角色的承諾。 0 X9 e$ W6 M f4 n4 c 數位量測論壇: R6 t* I& a# X( l: d W9 W 近來雲端運算、智慧型手機、平板電腦以及電子書閱讀器等風潮所引領之新一波數位革命中,高速的數位及光通訊技術已成為各廠商提昇競爭力及搶攻市佔之關鍵。此次論壇,安捷倫科技針對USB, STAT和PCIe3.0新興傳輸介面、Displayport 和HDMI熱門顯示技術、DDR3和SD Memory高速記憶體測試、綜合元件測試以及未來前瞻科技等五大主題進行探討。 6月28、30日,台灣安捷倫科技誠摯邀請您參加「2011安捷倫電子量測論壇」,請立即選定主題,踴躍報名參加。* O' H. {8 `, Q5 H+ D! P : I9 L+ x- Z, ]$ ~4 J! h | ||
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6 F& B9 Z9 s% r: ^4 ]/ }4 l 活動時間及地點: 台北場 活動代號:11_EV_010383 s8 V; g! ?( h$ b 2011年6月28日 (二) 5 R# D: d" t0 g* \' I1 L8 A" K 台北富邦國際會議中心 B2 ABCDE廳 台北市敦化南路一段108號 map5 w: g y1 k- a; _8 R- ? 新竹場 活動代號:11_EV_010384 2011年6月30日 (四) : b' [" d2 R% d" ~7 _ 煙波飯店 B1 麗池館凡爾賽、阿波羅廳 新竹市明湖路773號 map |
數位量測論壇 | 無線通訊論壇 | |
08:40~09:20 | 報到 / 展示攤技術交流 | 報到 / 展示攤技術交流 |
09:20~09:30 | 研討會簡介及致歡迎詞 | 研討會簡介及致歡迎詞 |
09:30~10:20 | Enabling the Compliance Test of USB, SATA, PCIe 3.0& z3 K3 U' [" p) g2 V7 G Francis Liu Senior Project Manager, x& ?; Z6 n% Q7 d" T Agilent Technologies | The Road to 4G: IMT-Advanced and LTE-Advanced. \: d T/ Y7 o$ r Brian Su Project Manager3 G- H+ _, G. @4 ^% H! }# s" c Agilent Technologies |
10:20~11:00 | 茶點休息及實機展示 | 茶點休息及實機展示 |
11:00~11:50 | Validation Testing for DisplayPort and HDMI Brian Fetz 0 S8 f; y4 B! `" h Measurement and Display Applications Product Manager Agilent Technologies | Using Antenna Pattern Measurement for Flexible and Cost-Effective MIMO Over-The-Air Characterization) r0 w( {0 M3 O1 m8 L! y% a Jian-Hua Wu 5 M/ U( C, q/ ]' ? Application Engineer f0 f: p8 s& b Agilent Technologies |
11:50~13:00 | 茶點休息及實機展示 | 茶點休息及實機展示 |
13:00~13:40 | Techniques for Analysis, Validation, and Debug of High Speed DDR3 and SD Memory Jennie Grosslight Memory Product Manager8 i1 E, y# @+ t4 H5 D; t Agilent Technologies | Understanding the Next Generation of 9 t( G" |: W' L$ `+ v8 W WiFi Technology and Testing - 802.11ac Mirin Lew Application Expert8 f `# b! {7 b7 @- J% M& } Agilent Technologies |
13:40~14:20 | 茶點休息及實機展示 | 茶點休息及實機展示 |
14:20~15:00 | Electrical-, protocol- and application layer validation of MIPI D-PHY and M-PHY designs7 Q! \& G8 K" A9 a/ | Joe Lin $ x. Q! r# X O' C; l+ { Application Engineer Agilent Technologies | Testing Today's Mobile Device: Multi-band, Multi-format and Multi-function! ?: d" C& ?+ S% G7 Z, \1 g Philip Chang Senior Project Manager# a" w$ R6 w* g* z6 I2 m/ s0 e \ Agilent Technologies |
15:00~15:40 | 茶點休息及實機展示 | 茶點休息及實機展示 |
15:40~16:20 | New technologies for high speed digital I/O Hansjoerg Haisch Optical Products R&D Manager+ f% Z- R. T* Y) p0 D! }) M7 K8 a Agilent Technologies | Optimizing Battery Operating Time of Wireless Devices Ed Brorein Application Expert. j' y8 Z9 _9 u4 V. ^& B. y/ ]( @& b! Y! } Agilent Technologiess |
16:20~16:30 | 幸運抽獎 | 幸運抽獎 |
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