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[問題求助] 【问题求助】一个关于bandgap量产测试的问题

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1#
發表於 2012-2-29 20:18:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
我设计的bandgap在做simulation时,各个corner下都能稳定在标准电压很小的范围之内,但量产测试却发现输出电压非常发散,偏差达到了正负3%。我在CP测试中通过trimming将电压搬回到标准输出电压附近,但CP后的温度曲线形状也是很发散的。请问有没有办法在CP测试中将温度曲线trimming到一个合适的形状?如果不能,大家是怎么解决这个问题的?
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2#
發表於 2012-3-21 07:12:02 | 只看該作者
我不知道你在模擬時有沒有把電阻也用Fab所提供的電阻model
; y- m* R1 }  ?) z9 ?% S因為Fab所提供的電阻model會有電壓係數和溫度係變,在不同的電壓和溫度變化下,特性會有些微差異: F# _6 A) U9 _9 H/ X; O3 v9 L
而CP trimming的值是在固定某一個溫度下做的,故而無法做到從負溫度掃到高溫的情況
9 m6 l/ q5 \  U: P' i. Y2 {以前,我們是拿IC進烤箱去量測,從-10度開始用人工方式量測,每次調高10度變化,一直到80度
. q0 O9 r6 T# N$ A% g因為這種方式無法用CP去試,故而只是用於工程驗證,且只用於少數幾顆IC
3#
發表於 2012-4-13 19:52:02 | 只看該作者
回復 1# ycheng : E' I1 B- t/ m! f" v+ t8 Y2 C; t" q1 y

5 U- z6 A4 d6 M+ p& A1 H3 K4 Q& `# J- U4 v
    其实3%是可以接受的啊。如果要求高,要每个都修的……
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