Agilent 4080系列滿足了各種量測需求 包括RF和快閃記憶體測試

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安捷倫科技4080系列新款參數測試平台 為半導體製造與研究環境的工程人員提供前所未見的效能
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- N3 ~: U2 Y8 O安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）日前發表專為解決半導體製造與研究環境工程人員之評估需求而設計的新一代參數測試平台。Agilent 4080系列以前所未見的效能，涵蓋完整範圍之量測需求 – 從主流製程到45奈米以上的先進製程。

採先進製程的新晶圓製造廠，將必須面對更嚴竣的參數測試挑戰。快閃記憶體，尤其是NAND快閃記憶體，也會在參數測試上造成一些困難的挑戰。出於需要，參數測試已經超越純DC量測，而進一步包含各種不同的量測類型，包括平行測試、快閃記憶體儲存單元寫入/抹除測試及RF S參數特性描述。因為預期到這些需求，安捷倫開發了多樣化的4080參數測試平台。
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Agilent 4080系列所採用的新平台具備了更快的CPU及同步/非同步平行測試能力，有助於大幅提升量測速度。4080系列是一款可擴充的模組式生產測試平台，可讓客戶輕易地增加新的測試能力，例如NAND/NOR快閃記憶體儲存單元特性描述和RF S參數量測。該系列共推出三種機型：4082A參數測試系統 – 通用參數測試用；4082F快閃記憶體儲存單元參數測試系統 – NAND/NOR快閃記憶體測試用；以及4083A DC/RF參數測試系統 – 可滿足最新RF裝置的高頻量測需求。
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* G7 E, k3 F+ r4 Z安捷倫科技半導體測試事業部副總裁暨總經理Minoru Ebihara表示：「當我們現有的客戶擴大營運規模或建立新的晶圓廠時，Agilent 4080系列可以協助他們解決新一代產品的參數測試挑戰。此外，我們很高興為繼續擴展的NAND快閃記憶體市場，提供生產就緒（production-ready）測試解決方案。」
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更快的CPU和新的虛擬多測試頭技術可進一步提升效能

6 g$ [5 p3 o5 L/ q7 [: t, ?* xAgilent 4080系列具備同業最佳的效能和功能，以及領先業界的技術進展。該系列擁有一顆功能超強的CPU，在不修改程式的情況下，平均可使轉移的4070測試計畫速度提升10%到20%。

執行Agilent SPECS（Semiconductor Process Evaluation Core Software；半導體製程評估核心軟體）測試環境的4080系列，是同時支援同步和非同步平行測試的首款參數測試器。除了同步平行量測 – 對少量的裝置來說是極有效率的技術 – 之外，安捷倫還新推出功能強大的專屬虛擬多測試頭技術，其可透過先進的“非同步平行”測試能力完全獨立地執行測試，比起傳統的序列式測試方法最多可減少50%的測試時間。
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統一的結構與三種不同配置

Agilent 4080系列以一個統一的結構為基礎。全部三種機型都支援兩種DC切換矩陣卡：標準低電流版和超低電流版。這些儀器還具備高速電容量測單元（HS-CMU），可在1 kHz到2 MHz的範圍執行超快的電容量測。
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Agilent 4082A參數測試系統是一高速生產測試器，專為從主流製程到45奈米以上先進製程的所有量測需求而設計。

Agilent 4082F快閃記憶體儲存單元參數測試系統是為了解決快閃記憶體儲存單元測試的各種挑戰而設計，其包含半導體脈衝產生器單元（SPGU）主機和高電壓SPGU（HV-SPGU）模組。4082F HV-SPGU具備+/- 40 V輸出（80 V峰對峰），能控制脈衝的上升和下降時間（小到20 ns），也能準確控制解析度小到2 mV的脈衝位準。
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Agilent 4083A DC/RF參數測試系統是第一款在測試頭整合20 GHz 8x10 RF矩陣之生產參數測試器。4083A RF矩陣在一次連接中最多可量測5個RF結構，透過這項能力不但加快了量測速度，還可因減少接點磨損而延長探測卡的使用壽命。
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有關Agilent 4080系列的詳細資訊，請造訪www.agilent.com/see/4080。

7 @9 y. Z4 Y, _% ALinux的支援與4070系列相容性使成本減到最低
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: n1 g8 S; t# OAgilent 4080系列系統軟體及Agilent SPECS和SPECS-FA測試環境完全以Linux為基礎，目前使用4070系列的客戶不太需要修改現有的程式碼就能直接利用Agilent 4080系列新的硬體功能，從而加速產能的提升。

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安捷倫科技將參與JEDEC快閃記憶體儲存高峰論壇

為唯一與會的量測設備廠商

屆時將進行簡報，協助電腦與消費性電子製造商

發展符合產業標準的新一代快閃記憶體產品

# z% V% m0 X: Y安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)將於3月31 日以及4月6 - 7日，參加美國電子裝置工程設計聯合會(JEDEC)舉辦的快閃記憶體儲存高峰論壇(Flash Storage Summit)，是會中唯一的量測設備廠商。安捷倫將在會中與電腦與消費性電子廠商高階主管，共同探討如何驗證目前與未來之快閃記憶體系統的設計，以及如何確保這些設計符合最新產業標準。
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& l8 n( s& C4 S% |; n: w安捷倫將在會中，詳細解說快閃記憶體的特殊驗證需求，以及新一代快閃記憶體與模組的驗證要求，讓設計與驗證工程師了解，如何順利執行驗證流程，從而快速推出產品上市，並滿足客戶的需求。

# ?! Y- y7 O5 v5 s# N) ~4 R; R隨著GPS導航系統、行動裝置、數位相機，以及個人數位助理的需求日益升高，快速記憶體的需求也因而水漲船高，因其可在嚴苛的環境中，支援高速儲存並提供超大儲存容量。目前業界有多種不同的快閃記憶體技術，其中多項技術均經過最佳化設計，以支援不同儲存應用。安捷倫全力支援所有的介面標準，並協助JEDEC制訂並推動通用型快閃儲存 (Universal Flash Storage) 規格。

安捷倫提供業界功能最完整且機種最齊全的記憶體測試儀器，旨在協助客戶持續提高信號傳輸速度、降低開發成本，並因應快速成長之多媒體應用的需求。安捷倫是JEDEC等多家標準組織的核心成員，每當產業制訂新標準、發展新記憶體元件，及研發新記憶體技術，安捷倫都能率先掌握最新脈動，以協助重要客戶發展新規格與產品。許多客戶均倚賴安捷倫產品提供的記憶體測試功能，來設計記憶體元件和內建這些記憶體的系統，同時發展創新特色，並且有效除錯。

台灣安捷倫電子量測事業群總經理張志銘表示：「安捷倫將持續與 JEDEC密切合作。我們有許多客戶都須借重新的記憶體技術來達成業務目標，因此我們很樂意共襄盛舉，協助JEDEC舉辦快閃記憶體儲存高峰會。我們的參與，再一次突顯安捷倫在眾多標準領域中的領導地位，包括VESA、PCI-SIG® 和OSA。」
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JEDEC
快閃記憶體儲存高峰會將分別於3月31日、4月2日，及4月6至7日，在中國上海、台灣台北及美國聖荷西等地舉行。有關完整的研討會主題，請瀏覽：www.jedec.org/Home/trade_events/flash09/index.htm。
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* P0 Z* V- p& K) V有關記憶體技術和安捷倫測試解決方案的詳細資訊，請瀏覽：www.agilent.com/find/memory_backgrounder網站。

2 e# P; C+ ~' C  y  A" jJEDEC成立於 1958年，最初是美國電子工業協會(Electronic Industries Association)旗下的標準組織，負責制訂各種半導體標準。在1999年，JEDEC成為獨立的標準組織，並更名為JEDEC固態電子元件技術協會(Solid State Technology)
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除了參加 JEDEC Flash Storage Summit之外，安捷倫也將於4月7日舉辦一場名為：「確保DDR 記憶體子系統之互連性與效能」的網路研討會。有關此研討會的詳細資訊，請瀏覽
http://seminar2.techonline.com/s/agilent_apr0709網站。