各位先進好: % @/ ~3 F) \4 x4 z1 O 小弟最近作的一顆高速的FLASH ADC, 但是因為學校的儀器的取樣率不夠高, 所以無法直接量測, 之前在其他論文上看到有人在最後的數位輸出用DFF將值存入& u, n, l! Y2 y H8 P' o& X( v8 l- q
但是DFF所用的頻率是原本ADC的取樣頻率地32分之1, 不大懂這樣的原理為何? 想請問一下板上的高手們是否有用過這樣的測試設置可否交一下. & X# H& o# o$ h. F+ [, E U 而或是有其它更容易的測試方法可以交一下, 感謝.5 m( n' i. |9 j; ?/ ^8 ]) f