Synopsys捐贈Variation-Aware Extension技術給IEEE

jiming

國際電機電子工程學會（IEEE）的1481工作小組最近通過新思科技（Synopsys）的一項提案，針對 IEEE所採用的標準寄生交換格式（Standard Parasitic Exchange Format, SPEF），Synopsys捐贈重要技術以擴充SPEF功能，此舉將協助設計業者有效因應65奈米或更先進製程中，常遇到的製程與溫度變異等問題。  

    在這項提案中，Synopsys將提供一項互通的介面（common medium），以便不同的EDA工具之間，也能傳遞重要而敏感的寄生訊息（sensitivity-based parasitic information），同時Synopsys提供的key extensions，也可精準而確切地表達出先進製程中所需的互連寄生敏感度訊息（interconnect parasitic sensitivity information），強化現有的IEEE standard 1481-1999之SPEF功能。 在1481工作小組通過後，IEEE的Standard Board 可望於近期內投票，以決定將此次Synopsys所提供的SPEF extension，正式納入SPEF標準(standard)當中。

   科技應用產品逐漸走向輕、薄、短、小，對IC設計者的挑戰也日益增加，尤其在互連架構中常遭遇的隨機製程變異，如何能精確而有效的建立模型（modeling），已成為設計過程中必要的程序。析出（extraction）與分析（analysis）工具使用統計技術（statistical techniques）來建立模型，而針對物理與電子流程中之參數（physical and electrical process parameters）相關的互連寄生（interconnect parasitics）需要具有高敏感，才能有效而精確地進行統計分析。

   制定一套以敏感度為基礎的SPEF格式標準（A standard sensitivity-based SPEF format），可協助寄生析出（parasitic extraction）設計工具，建立具寄生面值（nominal values）的排線表列（netlist），並且對互連變異參數（interconnect process parameters）高度敏感，因而可以更為容易地供分析、模擬，及實作執行（implementation）等方面的工具讀取。
+ m! a) O1 }6 f' D5 y& v
    AMD資深副總裁Adrian Hartog指出，一套具sensitivity extension之業界標準的SPEF格式（industry-standard SPEF format），對於我們執行65奈米先進設計，具有高度的價值，它可結合各種不同的EDA工具，有效支援我們在statistical design flow中的新格式，我們相當讚賞Synopsys的捐贈行為，也希望它能早日納入產業的標準中。

    Synopsys 策略發展副總裁Rich Goldman則表示，愈來愈多像AMD這類業界領導廠商，都反映65奈米及更先進設計所遭遇的製程與溫度變異的挑戰，此次SPEF標準之功能擴充（SPEF extension）對於協助因應這類挑戰是相當關鍵的，我們主動與IEEE 1481工作小組合作，希望能盡速建立業界共通的sensitivity-based SPEF standard，以便促進電子產業的整體發展。