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誠摯邀請您參TI「交錯轉換模式功率因數校正技術」網路研討會

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1#
發表於 2007-10-18 13:52:19 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
親愛的工程師:+ o( i3 i, `- K
: x* R1 V( u  e8 m- ]3 i' O
EEplace (www.EEplace.com) 誠摯邀請您參加一個非常重要的TI網路研討會,題目為"交錯轉換模式功率因數校正技術"   
. S& Q2 |2 e) L1 D( c: n  Y! h5 x: }2 ?8 b/ C" O# P+ \0 S
日期 : 2007年10月30日 (星期二)
. n1 n7 `+ X: I* C% X 時間和地點 : 上午10:00-11:30 (台北時間),通過您的 PC 上網收聽  7 Y3 o) D% J2 n0 |
+ K* b' t% ^( r) J3 j# F( N! f, ~) n
   
' f. Y( c# N5 \
# b: O$ Z5 ?) ~, R. u( k$ m6 O內容摘要, x/ l4 R2 [1 J$ o2 j
本次研討會將介紹業界首款單晶片的交錯轉換模式功率因數校正(PFC)控制電路。該電路幫助降低了電源系統的成本,並可在數位電視、個人電腦及入門級伺服器平台等消費性電子應用中節省功耗。這一個雙相的高效能控制器適用於75-800瓦的應用,可以簡化電源系統設計,把開關損耗減到最小,並且相比傳統的單相轉換模式拓撲技術或連續導通模式(CCM)拓撲技術,該控制器節省了系統成本和板上空間。
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報名參加
6 I' `* m8 u8 B9 F! |9 s" W請點選此處*立即至 EEplace 平台登記,免費參加我們的研討會。現場參加者只要在研討會結束後填妥回饋表,便可參加抽獎活動,贏取一部 iPod nano。
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$ K% Y. [4 v, x, m" v  U. {不要錯過與 TI 的專家即時交流的機會!
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EEplace和EEplace的標志屬利賞有限公司(WebPro Limited) 的註冊商標。- f; H- k( H! `- K, n4 o2 C
Texas Instruments的標誌屬Texas Instruments Inc.的註冊商標。
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2#
 樓主| 發表於 2007-10-18 13:55:14 | 只看該作者
http://www.eeplace.com/eeplace/e ... IL&eventid=1449' o: s" a" `! U. R! ?

  B1 |4 z# {3 K/ z- r/ A" `5 _那天我可能有事!!  有沒有人可以拿到這一份資料!!
1 y8 i" z9 X% h5 e$ U' T然後 POST 到電源管理的版面唷!!
2 n, I6 T8 ?1 @我相信  一定有相當的參考價值!!+ E' J5 o  v% p- t7 b0 h8 D+ l
主辦單位是 Chip123-IC 不知道跟本版有沒有關西唷!!
; x# s3 }# }3 j
, @, _' y9 M5 F& U- s[ 本帖最後由 mt7344 於 2007-10-18 01:56 PM 編輯 ]
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