7/12, 14 LTE市場趨勢與測試應用研討會

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時間：新竹場次: 2011 年7月12日(週二)　台北場次: 2011 年7月14日(週四)
  Q% |9 s$ {- B2 q地點：新竹場次: 科技生活館 201會議室  台北場次: 集思台大會議中心 蘇格拉底廳
% R$ M2 J8 s7 W主辦單位：安立知股份有限公司、台灣區電機電子工業同業公會
參加費用：免費
本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。

0 t4 l1 b3 v% m% r4 W' ?5 P. @簡介：
0 ]4 \1 K8 `& ?+ ^- @長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統，在3G與4G技術的世代交替之際，正是群雄競逐商機的最佳時機。
: ]) }/ f+ k( Y( M' XLTE量測設備領導品牌- 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，在LTE FDD/TDD上皆推出從RF到Protocol最穩定的解決方案，而承襲MD8470A新品MD8475A訊令測試儀，將首次在台灣亮相；想知道LTE測試是可以多麼簡單容易上手嗎？安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！
報名方式：線上報名：http://tinyurl.com/4xy6kal

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時　間	主　題	講　師 $ h8 b. S% k" B+ a- w
13:10~13:20 . @% [1 R" x& I; J	報到
13:20~13:30	開場	; E  M* C0 n- o  _
13:30~14:00	LTE Requirements for GCF and PTCRB ( d+ h/ O: j! d. S台灣檢驗科技股份有限公司 - E- R, u( c6 f% Y* n電子通訊實驗室行動通訊部門經理 9 }8 [. o' S- K# a郭金興 Ben Kuo
14:00~14:30 $ p6 Q1 p' f$ A: u; M9 F	LTE FDD/TDD訊令測試解決方案 + I9 _( ~+ ^% d	台灣安立知 / O  ^( n4 \: u2 e應用工程師 薛伊良 Petrushka Hsueh , F# s9 G& }  A6 f7 |- N% V7 t  o0 \5 E
14:30~15:00 ( T4 T. a6 A5 Z2 Y	All in One 人性化的手機應用測試解決方案 - W  f- x% ^  P
15:00~15:30	Coffee Break	2 u7 }! p5 j3 B* _0 A & ]' F) B" m+ b4 Y* o% b
15:30~16:10	LTE連網展示- MD8475A 2 S: G: f6 j+ F: G/ C: m	薛伊良 Petrushka Hsueh
16:10~16:40	LTE FDD/TDD射頻量測與自動化測試	台灣安立知 + ?- ], q1 {4 `  A- v5 a技術副理 8 z* t5 L7 a. E吳錫坤 Howard Wu
16:40~17:00 ; N" E3 @: p5 D- w- T# _# q( r	LTE Calibration overview & J. g6 [$ e& p5 u0 c	台灣安立知 軟體工程師 王孝群 Enzo Wang 0 I" z! G4 A% P5 \8 {+ y
17:00~ + s5 ?# ?3 ~6 o" C* j- ~! j  e	Q&A及抽獎活動 1 y. r, T% [4 [2 F	& Q1 ~3 \) _/ W! _

*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。
4 G# V# o) K  R+ ^/ `*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。