Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 3180|回復: 1
打印 上一主題 下一主題

[問題求助] 請教一下flash 測試的問題

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2008-2-29 17:12:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
各位先進:
& E8 w0 e* t  a8 Q5 _* p      想請教一下flash測試的問題, 我的問題是在測flash時如果能把所有的control signals
5 Z. S! c- ?7 a# T# ~及DIN/DOUT全部打到PAD or PIN上, 那基本上是沒有問題的, 但如果想要設計成core limit的話, [/ S, C1 w0 F3 _8 w* u  r! o
勢必一定要用mux out的方式, 這樣一來我的問題是各位先進有沒有經驗是如何做的呢?我目前的想法
$ l% }9 S0 u5 u( S+ R3 f6 G" B是慢慢切,一次write某些bits,沒被mux到的就先fix在1 or 0, 分段去測, 不管是Write or Read
6 v( I5 N: `% ~4 b* g8 f& J& Y5 b都是一樣.不知各位大大的想法是怎麼樣? 謝謝指教
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
2#
發表於 2008-3-4 15:41:13 | 只看該作者
Address 及 DQ bus改成 DDR,多一根/clock,出pin就接近除2了。
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-12-31 04:42 AM , Processed in 0.150008 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表