時間
) _$ Y- P! k( }2 H2 _ y# n+ B6 |" T | 講題 6 b7 Z7 {6 s! ?/ X: ~- h
| 主講人
; f6 V: I6 R k, d |
10:00-10:30
: N5 U& ]- }8 H' d( z/ } | 報到
" h7 P% d* R1 I4 ]3 ^# T |
10:30-10:50
& ~3 L r5 C- g* l | 主辦單位及貴賓致詞
. G& d, Q8 d1 e5 {: Z | 交通大學林一平副校長
. `3 U% T( A; l e# v經濟部工業局代表
( y. Q7 J2 p; T9 n# W) P- F& V資訊工業策進會何寶中副執行長
. u7 S j! Z5 _7 ^3 Y- O" h交通大學電資中心林寶樹主任 |
10:50-11:00 ' g2 P( r0 ?. P: E& }# Z7 l
| 資策會交大嵌入式測試中心(III-NCTU EBL)成立揭牌儀式
; A, e% c2 B% G; j! x0 @* v交通大學 林一平副校長、經濟部工業局代表、
, @9 `* E. s5 q* r' V" u, y" k' i資訊工業策進會 何寶中副執行長、交通大學電資中心 林寶樹主任、
1 D) a: Q* [! d$ l資策會網路多媒體研究所 馮明惠所長、廠商代表 2 ~7 S: @1 T* q$ x# S3 v4 \/ n
III-NCTU EBL主要成員介紹與合影 ' r1 E( b1 o& p" L# i3 ?. @6 O8 z+ v; w
資策會網多所 何文楨副所長、交通大學 林盈達教授、交通大學 陳添福教授、
% p* E' M: d1 G e% C交通大學 張立平教授、台灣科技大學 賴源正教授、雲林科技大學 朱宗賢教授、
5 [ T- j- T0 r& |) }+ R- ?& ~! ^逢甲大學 張貴忠教授
% j' w! ^8 N- R/ i7 s, D |
11:00-11:15 & w, v* a$ {" W6 H: _( f2 ]0 M
| 茶會(自由交流)
, n/ b9 V2 }2 Q- W6 ] |
11:15-11:30
& {% }7 v6 R# q* u X b | 資策會交大嵌入式測試中心營運說明 @# t7 |* v8 n" p
| III-NCTU EBL 林盈達博士 0 m8 i8 _1 ? @9 ~
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11:30-12:30 ( m; f) G9 ?3 b& B
| 座談會:
7 R6 G0 ^8 K5 Z% \, z) c從NBL到EBL - 尋找產業需求 $ F* ]* R+ R7 ?% ^4 {2 b* {4 i* @
1.在嵌入式產業中,廠商期許第三方測試評比單位扮演什麼樣的角色來協助產業發展?
/ ]6 U p' c& p8 l4 p, V1 h2 Y2.嵌入式產品開發的過程中,較容易遇到哪些問題導致產品延後上市?出貨前在廠商內部會經過哪些審驗條件產品才能上市?
2 d) S1 o, p! f8 H3.廠商是否期望第三方測試中心針對嵌入式產品建立標準化評比指標來進行產品效能、耗能及穩定度的量測? 7 |2 t' O F3 f( W6 ?
4.對於EBL提供的測試評比服務及測試方案的期待與建議? | 主談人:
5 @7 G* C- H0 y, q# t3 Q YIII-NCTU EBL主任何文楨博士
# a* N4 h3 X4 g' }6 X. l0 I與談人: $ }- }4 s, Q: N$ r
NCTU NBL 陳一瑋執行主任 * j$ h* V; z1 g
III-NCTU EBL 林盈達博士 5 y* ]3 \' l: n0 Y- C# |
0 o9 _2 S0 i( f/ {5 U m& Y
安謀國際陳洛經理
* q) E6 a. _. w/ v R晶心科技林志明總經理 ) e- g# u5 K' G; ?; j
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12:30-13:30 | 午餐 $ E) p$ B$ i h F q
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13:30-14:10 4 n' Q0 r; ^- `9 D! h& a) H
| 嵌入式系統核心評比技術簡介 # K9 U% F/ u. D" [2 L
1.自動化測試方案 : J& Q( Q+ j L9 v
2.系統效能剖析方案 % i) Q6 w2 F4 n# J/ S
3.系統耗電剖析方案 + y# ^ T9 J E. e7 T
4.固態硬碟(SSD)評比方案 | III-NCTU EBL 甘東杰經理
- k/ V: A; B k0 s. e$ |& q" R |
14:10-14:40
3 I7 s8 ~1 c. {! x* a$ h a# N | III Android Device Testing Solution
2 V- S9 x& p4 m. v5 }! p1.Multi-device Testing Solution % }' \0 X/ z" J: Y. Z c. L6 @1 D
2.Visual User Interface Testing Solution 8 W$ o) K8 [& g" U( }2 V2 t
3.Customized Testing Solution | III-NCTU EBL 林敬文經理 . v2 t, U# X* G5 w) N6 ], R+ W9 b5 p
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14:40-14:50 | 休息時間 (Tea & Coffee) ( ~- {: L* r$ w" l% {2 U
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14:50-16:00 9 S2 l$ X+ v- g8 W
| 座談會:
1 [0 A4 i. W7 Z" l: _( n$ cAndroid產品問題:速度、耗電、相容性、與穩定性 ; L' B8 _2 N* y, G
1.針對嵌入式產品要建立哪些評比指標才能有效量測產品效能、耗能及穩定度的表現?
0 X$ g- @8 l0 S) M- k2 S( L2.不同類型的Android產品相繼問世,未來應用程式、作業系統版本及裝置間的相容性是否會造成廠商及應用程式開發商的維護成本大幅提升? ) n' E5 K; C8 ]" X! H
3.對於EBL所提供的測試服務及測試方案的期待與建議? | 主談人:
) H( T/ Y$ ]0 E* IIII-NCTU EBL
: h9 l6 _2 F- Y5 C; e/ s林盈達博士 2 o7 t2 ?# P$ |) M" B- v, B% @
與談人: * m3 G+ _# `9 P1 u) l
工研院莊國煜經理
- M5 c6 d8 A! M# V3 X' c$ T安謀國際莊智鑫經理 ; r8 A& }! W _ K9 d/ g4 Q8 E
正崴科技劉明德經理 9 @2 ^5 \; s" U% \0 V: y
III-NCTU EBL林敬文經理
3 D/ \8 Z) M& m6 l& Y- DIII-NCTU EBL甘東杰經理 5 f# [& d0 M* X/ h3 ?+ N) Z
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