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樓主 |
發表於 2010-6-10 18:34:18
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本次通過的4項標準包括:; N9 f( |7 z3 H* H1 q
3 J0 Q. D7 P: g, x3 J: U; h
(1) SEMI D56-0310為明室對比(ACR)量測方法,定義顯示器在有環境光的影響下對比量測方法,此方法能更忠實呈現顯示器在真實環境內之影像表現。4 w% x6 z& ?: |- e, l
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(2) SEMI D57-0310為雲紋(Mura)量化標準,此標準透過人因實驗分析出人眼觀看Mura之視覺方程式,透過此方程式能算出不同狀況下Mura的量化數據,解決長久以來Mura 不易量化之困擾。 c! z* b, ~! c! F$ g
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(3) SEMI D58-0310為畫質檢測時Color breakup現象之名詞定義,確認各公司對使用術語的共識並完成定義,減少溝通上之不必要誤解。 z# ?- {$ C, r5 Z' O- Q! o+ c
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(4) SEMI D59-0710為3D 顯示器之名詞定義,確認各公司對使用術語的共識並完成定義,減少溝通上之不必要誤解,以利相關技術的發展。
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工研院量測中心副主任林增耀指出:「目前平面顯示器產品對比的規格標示為在黑暗環境下的對比值,與顯示器大部分都是在有外界光照明的環境下使用的狀況不符。ACR標準提供依據室內不同光照明程度量測液晶顯示器對比表現,能忠實反應實際使用的情境。製造業者可依此更深入了解自家產品品質和市場定位,而對於消費者來說能夠買到更符合期待的產品,降低交易紛爭的風險。另一方面,雲紋自動化檢測和量化也是平面顯示器產業長久以來欲解決的重要課題。目前雲紋檢測仍需仰賴人工,耗時費力且無法量化,因此新通過的MURA標準正可提供製造廠與客戶作為共同的參考依據,降低因人眼主觀因素所判斷不一致性造成的紛爭。」 |
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