2011創新測試與測量技術評選

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老將、新秀？勝出在哪？

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- _) R  E2 [( Y全新的 Agilent InfiniiVision 2000 X 系列具有 70至200 MHz 的頻寬和同類產品中最快的波形捕獲率，可以顯示信號的細節並更有效的捕獲偶發事件。同檔產品中首創的 8 通道混合信號示波器（MSO），以及業界唯一的集成式函數發生器，為工程師提供了更強大的測量能力，滿足了他們在設備採購預算緊張時的需求。獨創的教育套件為高校教學實驗室培養符合工程要求的合格人才創造了條件。
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6 N+ D, ]9 x5 z" F( O% ?7 T全新的 Agilent InfiniiVision 3000 X 系列示波器提供從 100至 500 MHz 的頻寬，進一步提高了該檔次示波器的性能，包括業界領先的 1,000,000 次波形/秒的波形捕獲率。16 通道 MSO、集成的函數發生器和硬體加速串列協定解碼功能。

該系列示波器的核心是安捷倫自主研發的MegaZoom 四代晶片。該晶片體系結構支援業界最快的波形捕獲率和深存儲下的快響應，此外還集成了邏輯分析儀、函數發生器和協定分析儀功能，因此工程師和教育工作者可用經濟的價格獲得性能先進的示波器。
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2 ]7 C: _! |; k. L* pAgilent InfiniiVision X 系列示波器為工程師和技術人員提供了多種重要的幫助：

  K3 G$ O0 x, C, s2 H1.更強的觀測與捕獲能力：該系列提供同檔次示波器中最快的波形捕獲率，即使在深記憶體啟用時也可以最大限度減少死區時間並保持出色的回應速度。另外所有型號都配備了 8.5 英寸 WVGA 顯示幕，使觀測更加直觀方便。
2.四合一儀器可以完成更多工：除了同類產品中最出色的示波器性能之外，該系列示波器還提供了 MSO 功能；集成的函數發生器；硬體加速串列協定分析選件等。
( W6 \" y1 U  k3.通過未來升級獲得更多投資保護： 該產品是業內同檔次產品中唯一可完全升級的（包括頻寬）示波器。

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Aeroflex 於2011年3月17推出PXI3000 LTE TDD測量庫套件。 LTE TDD測量庫套件提供測量功能庫，根據 ETSI TS 36.521-1 (3GPP 8.4.0 版) 要求測量LTE TDD 上行鏈路信號特性。

1.功率
2.發射信號品質-- 頻率誤差、誤差向量幅度 (EVM)、IQ 斜率/增益失衡、符號時鐘誤差、IQ 分量 (載波洩漏)、未分配 RB 帶內發射、頻譜平坦度
3.輸出射頻 (RF) 頻譜輻射-- 佔用頻寬、頻譜輻射範本、鄰道洩漏功率比
4 i+ O0 K% g( U4.互補積累分佈函數 (CCDF)
5.星座圖分析

5 q4 e. g1 J4 h/ L6 @7 M( \LTE TDD 可單獨作為 303x 數位化儀選件。可對 1.4 MHz 至 20 MHz範圍內不同頻寬上行鏈路 (SC-FDMA) 信號，以及 QPSK、QAM16 和 QAM64 各種調製方式進行測試分析。除數字測量結果外，測量套件還提供頻譜輻射範本、CCDF、星座圖、EVM 與載波及 EVM與符號的圖形顯示功能。上行鏈路信號 EVM 分析支援 PUSCH、SRS 和 PUCCH通道配置。同時，支持不連續傳輸 (DTX) 狀態下的信號測量。
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" d) s* c. G3 `1 d; ZLTE TDD測量套件配置於 PXI 射頻 (RF) 測試系統以用於開發和生產無線收發信機、子模組和 RFIC (射頻積體電路)。測量套件有助於生產環境下充分發揮 PXI 3000 測試儀快速、高性能和高度靈活的優點，顯著提高 LTE 設備的測試效率。

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6 }. I3 r9 I; V( fF365電流鉗表集多種創新特色於一身，更加人性化的設計，使它更加容易攜帶，更加安全，更容易測量普通鉗表難以測量的電路，具有以下顯著特點：
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1，創新的鳥嘴形又薄又小鉗頭設計，使密集排線的測量更加容易 ；
: }+ f; n2 B' F2，機身輕巧，創新的可分離鉗頭設計，不僅適合測量更加密集的排線，還適合在狹小的空間內測量，1m的鉗頭延長線，增強了讀數的靈活性；
3，創新的內置手電筒功能，可以照明工作區域，使測量工作更加安全；
+ g" n& X! e. O/ o3 s4，真有效值測量交流電流或電壓，即使是存在畸變的電路，或典型的非正弦波電路，仍然能夠準備地測量；
5，大螢幕帶背光6000字顯示，200A交直流電流測量，600V交直流電壓測量，6000Ω電阻量程。

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9 m8 Y* ^" _6 h; H多條通道工作在最高頻寬
4 K# h1 S3 Q2 F+ I' e( N/ X) k, i5通道(頻寬45GHz)
10通道(頻寬30GHz)
20通道(頻寬20GHz,16 GHz或者13 GHz)
1單一的主機和多個從機可以在通道上進行靈活的升級
+ V$ V+ [. x+ {8 W) r3 w; ?2全部的頻寬（範圍13-45 GHz）使用相同的結構設計，可以進行 頻寬升級。
/ H5 a' r/ n* I) }3多核心伺服器處理器使力科的 X-Stream II技術在長存儲下, 多通道捕獲時達到最佳性能
4所有通道由同一個時鐘系統控制，以確保所有通道具有最高的 時基精度
6 b# O+ \- A7 `7 |5最低的抖動雜訊基底(125 fsrms)和最高的時基穩定性

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T3Ster 作為全球唯一符合JEDEC最新熱測試標準的商業工具，提供非破壞的方法獲取封裝器件的熱特性，它包含系列靈活裝備的硬體，包括瞬態測試台以及多個配件(恒溫器，功率放大器，熱電偶信號前端放大器，JEDEC標準的測試溫箱，測試板以及特殊設備：測試TIM以及PWB需要用到的設備，等)。

針對LED照明行業，它配置TERALED系統，通過溫度和電流函數，自動測試功率LED的熱特性和光特性。T3Ster的先進技術變革了工程師處理熱測試問題的方法：
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1啟動測試延遲時間1 微秒 （市場上其他產品延遲時間為1毫秒）
2測試週期短，以“秒、分鐘”為單位 （市場上其他產品以天為單位）
( R( O2 X5 M7 e5 \- `3採樣點高達65000個，測試可重複性好
, y/ w9 p9 B# |2 |# C0 N4高信噪比，SNR>4000, FoM="10000" W/℃
/ t0 d9 K5 Z$ B0 r5結溫測試精度：0.01℃

: x& Q7 _( M; H! H, M. O3 C+ `" b5 F測試結果可用於晶片以及TIMs的熱失效分析。 T3Ster測得的功率封裝元器件的動態熱模型可導入到CFD工具中運行模擬分析，也適用於電路模擬器分析

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! E5 o! u  t% t0 rNI PXIe-5186數位化儀由NI與泰克公司共同研發，具有5 GHz頻寬和12.5 GS/s取樣速率。
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/ E9 V+ f1 ]2 ?3 @, I/ g全新數位化儀中的泰克專利ASIC晶片是進行高速信號採集的基礎，具有低雜訊、高線性度等特點，並且基於高可靠性的IBM 7HP SiGe技術實現。泰克的Enabling Technology技術保證了極佳的信號保真度，並可實現超低抖動特性。極低的500飛秒(RMS)抖動確保了5GHz時的有效位數（ENOB）可達5.5比特。NI專利技術為全新數位化儀提供高資料輸送量，可實現更快的測試速度，利用多模組定時與同步技術可進一步創建高通道數的集成測試系統。該數位化儀適用於3U PXI Express平臺，能夠以700 MB/s的速率進行高速資料傳輸，並且多個模組間的通道同步精度可達160ps。這些功能使全新數位化儀成為自動化生產測試、半導體ATE和高能物理測量系統等應用的理想之選。

8 N8 @5 P. z- p" @& l全新數位化儀可結合NI LabVIEW，進行儀器控制與自動化應用；同時也可利用NI LabWindows™/CVI ANSI C軟體發展環境或Microsoft Visual Studio .NET開發工具，使用各種語言進行程式設計。工程師可以使用NI-SCOPE儀器驅動以及全新LabVIEW抖動分析工具包加速開發。LabVIEW抖動分析工具包提供了豐富的函式程式庫，可用於抖動、眼圖和相位雜訊等測量。

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羅德與施瓦茨公司RTO示波器具有極佳的信號保真度、極高的採集率和首創的即時數位觸發系統，其結構緊湊，分為1 GHz和2 GHz兩類。這些示波器有硬體加速的測量與分析功能，以及先進的使用者介面，能給使用者帶來真正快樂的工作體驗。業界無可匹敵的每秒一百萬個波形，故障排查準確，無需猜測，採集率極高，對功能不存在任何限制，支援歷史資訊查看功能，故障分析快速。源于硬體加速的創新方案，使得測量速度極高，對於複雜的分析功能也不例外，FFT 頻譜分析功能強大，易於操作，範本測試配置快捷，結果可靠，分析功能先進，每通道同時可分析多達三個波形。獨到的數位觸發設計，觸發抖動極低，可以實現高精度測量，全頻寬範圍內，觸發靈敏度極高，對於觸發信號，使用可調數位濾波器快速序列中，不會遮罩觸發事件。尖端射頻技術，保證了固有雜訊極低，測量精度極高，使用單核模數轉換器，動態範圍更大，全頻寬測量，即使對於輸入靈敏度範圍 ≤ 2mV/div的情況，與溫度無關的增益和偏差誤差極小，通道與通道之間的隔離度極高，無串擾現象。

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SGM8704為軌對軌輸入輸出的微功耗比較器，具有超低功耗，回應快速，工作電壓低等特點，推挽式輸出，帶有雙相輸出和輸出鎖存功能，觸發後可以保持輸出狀態。靜態電流330nA，傳播延時6.8μs，最大失調電壓3mV，供電電壓1.4V~5.5V，主要應用於對產品功耗有嚴格要求的領域。

SGM8704是綠色環保產品，溫度範圍達到工業標準–40°C 到+85°C，並採用SO-8和MSOP-8的小封裝。

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/ q/ C4 p0 S( D$ h3 ]BERTScope™誤碼率分析儀系列為測量串列資料系統的信號完整性提供了一種新方法。BERTScope是能夠以高達26Gb/s速率實現碼型生成和誤碼分析的解決方案，它集成了壓力發生器，進行壓力眼圖靈敏度(SRS)和抖動容限一致性測試，可以在運行過程中改變測試信號的資料速率、施加的壓力和資料碼型，而且相互獨立；支援各種信號變化，測試晶片組/系統靈敏度。與其它BERT不同，BERTScope提供了用戶熟悉的測試結果眼圖，對比特定標準範本，從BER角度迅速瞭解信號完整性。誤碼定位功能提供了詳細的BER碼型靈敏度，加快識別確定性BER誤碼與隨機性BER誤碼，説明客戶更快找到和解決影響系統性能的問題，節省調試時間，從而更快將產品推向市場。業內唯一高達28.6Gb/s 連續可調的時鐘恢復，覆蓋下一代IO標準，包括PCIe3.0、10GBASE-KR、16xFC、25/28G CEI和100GBASE-LR-4/100GBase-ER-4，保障客戶投資。BERTScope 的使用者介面設計直觀、操作簡單，使工程師能夠專心于測試，而無需花大量時間用來學習儀器操作。

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5 h- p0 Z% S# a% zWT1800是廣受讚譽的橫河數位功率計WT1600的替代產品,致力於為節能事業做出更大貢獻，能夠提供更多增強型功能改善功率測試精度。 突出性能: 業內首創測量兩路諧波信號,一台WT1800就可以同時測量變頻器的輸入和輸出兩端的諧波信號,很好地解決了由於變頻器輸入和輸出端的電壓和電流頻率不同而導致只能分別測量輸入和輸出的問題; 測量直流電功率的精度為讀數的± 0.05%,測量交流電功率（50/60Hz）的精度為讀數的± 0.1%,非常適合測量光伏電池產生的直流功率和變頻器的DC/AC輸出; 大幅提高了數位信號的處理能力,取樣速率高達2MS/s(16位解析度),是WT1600的10倍,電氣信號的電壓和電流的測量頻寬也提高到5MHz,是WT1600的5倍,能夠測量高頻的電氣信號; 最大能夠測量6個點的電功率輸入信號,能用於需要多個測量點的設備開發,比如變頻器驅動馬達,既降低了成本又提高了效率。 WT1800的以上特性,決定了它能更好的滿足節能和新能源領域的測試需要,如:電動汽車/混合動力汽車和電動汽車充電設備的開發與測試,節能家電和辦公自動化設備的開發與測試,以及光伏電池和風電的變頻器開發與測試。

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Optametra 與Tektronix結合，創造出同級產品最佳分析功能與效能，以因應新興的連貫光學標準要求

  E# N8 J) x" \3 o1 [& z5 J0 t8 |【2011 年 8 月 2 日 台 北 訊】–測試、量測及監測產品及解決方案的領導供應商 Tektronix宣布收購 Optametra, LLC，但不公布交易細節。  

7 E+ i% p3 u2 D5 h+ @; h' r! U3 |, UOptametra 創立於 2007 年，專精 100 G 以上連貫的測試。2009 年 3 月，該公司推出了 40 G Coherent 光波訊號分析儀，並在同一年稍後推出 100 G 的版本。該公司是連貫測試的先驅，在研發和製造領域的產品和客戶支援上，一直保持著領先的地位。Optametra  訊號分析套裝軟體提供了最相關的資訊顯示、最相關的調變格式，以及最廣的線寬容限。  

Tektronix總裁 Amir Aghdaei 表示：「連貫光學標準的出現，造成了通訊市場的技術轉型，並帶來新的測試挑戰。Optametra 技術搭配我們新一代的效能示波器，可讓我們為客戶提供強大的解決方案，因應此一市場的需求。這可強化我們在通訊與光學市場的地位，建置我們的產品組合與取樣示波器和 BERTScope。」

+ K% w$ ^/ b+ o& Q! `' ?Optametra 總裁暨共同創辦人 Robert Marsland 表示：「我們很高興加入Tektronix，也看到克服這些新興挑戰所帶來的重大機會，成為Tektronix的一部分將會讓我們成長。」

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Filmetrics (美商菲樂) 宣佈推出兩部令人耳目一新的動畫短片和一本免費介紹薄膜重要性以及如何透過光譜分析測量薄膜厚度的指南讀物
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; |# P% V# Y- C. p! P& V; q(20110802 14:11:12)Filmetrics 宣佈推出兩部令人耳目一新的動畫短片和一本免費介紹薄膜的重要性以及如何透過光譜分析測量薄膜厚度的指南讀物。
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5 [3 `! t2 F/ f2 p" eFilmetrics總裁查莫斯博士表示：「這些短片是獨一無二的。主角歪先生，一不小心開進了薄膜測量技術領域。你一定會享受這些又誇張又幽默的短片並從中瞭解這項技術。」

三個部分涵蓋薄膜世界的不同層面。第一部短片讓我們瞭解，在每天的生活中都遇到薄膜，從手機、電視，甚至我們的眼鏡，薄膜隨處可見。第二部短片，詳細描述了Filmetrics如何利用光譜特徵測量薄膜厚度。最後，免費測量指南更詳細地介紹薄膜厚度測量過程。

7 U) H9 O( i9 C4 W; _0 t網站：
) `- V, |1 W% |/ `, X9 Ghttp://cn.filmetrics.com/videos/
- s! r! c0 _9 o( W' u. Phttp://cn.filmetrics.com/technology
# d) W# A( ]6 r
: v- F! a' ~7 T$ x. |; z% ]" e+ n) S) b: bFilmetrics 公司介紹
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憑藉多年薄膜厚度測量（薄膜厚度測量）的經驗和遍佈全球的辦事處，Filmetrics 提供了簡單易用的儀器和無可比擬的支援。總部位於加州聖地牙哥，Filmetrics 擁有全系列薄膜厚度（薄膜厚度）測量系統，並不斷開發更有效的薄膜測量新產品和技術。Filmetrics 成立於1995年，並迅速確立了桌上型薄膜測量產業的領先地位。

mister_liu

8 j. {$ v& _# v% R旭捷電子於日前推出一款光功率測試儀,OPM-001. 此款產品主要是針對FTTx/xPON被動光纖網路(Passive Optical Network, PON)的光功率的測試儀錶,可在BPON/EPON/GPON架構上實現語音、資料和視訊訊號的同步測量和顯示。還可設置功率準位，對每個波長提供通過、警告或未通過狀態指示。儀錶適用於光纖通信系統的現場開通、驗收和維護，可廣泛應用於電信業者、鐵路、網通、電力、軍隊等領域，它是PON網路工程、施工和維護的理想選擇。

mister_liu

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產品特點:
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/ a  [1 i5 J# V$ g; G8 Q* I●        同時測試PON系統中的1490nm，1550nm， 1310nm 三種波長相應的功率值
4 Q  L" E  ^; [3 J●        雙測量埠，支援13100nm上行波長的突發模式(Burst Mode)測試和1490nm、1550nm的下行信號
, d; s! k& q' [) F: V●        可進行PON光信號測量和普通光功率計測量
( ~2 |% y, g+ ^7 z●        無需中斷設備，可在PON網路的任何位置進行實光信號測量
●        通過、警告或未通過指示，3個指示燈直觀顯示被測光路狀態
●        可存儲150筆測量資料，存儲資料可通過USB埠傳到PC
* r1 v- K4 ^( L1 e! l  f●        通過USB進行資料傳送，方便快捷。
* Q" B3 o% Q% F4 Y2 N  ^9 ~●        通過後臺軟體設置閾值，上傳資料，校準波長。
●        易於使用，只需連接光纖即可讀取結果。
●       自動關機功能，並可在設備上進行時間設置、閾值設置。
●       兩顆AA電池供電，易於更換
7 l2 X) Q3 {* T. V●       掌上型設計，堅固的保護外套，適合現場操作；
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; v+ _  F' c( p應用時機 :

3 K. e( o3 h+ j1 u8 c●       FTTx/PON開通：在開通階段，對所有PON信號進行測量，驗證並確保滿足網路標準
- h8 b7 Y# |- b0 Q4 h; n0 T●       FTTx/PON維護：日常維護中各種傳輸問題，如：連接器端面受汙，光纖巨集彎、斷裂，光端機故障等；都會產生信號損耗或傳輸性能下降。