9/29 工研院資通所「3D IC技術及標準研討會」

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指導單位：經濟部工業局
) M" u3 m+ P3 O8 ?主辦單位:工業技術研究院資訊與通訊研究所
5 F+ z" v* [; L9 g; A5 F: F協辦單位:先進堆疊系統與應用研發聯盟（Ad-STAC），國際半導體設備材料產業協會（SEMI），台灣半導體產業協會 (TSIA)
舉辦地點: (新竹) 工業技術研究院 新竹縣竹東鎮中興路四段195號9館010會議室

) W/ i2 d( d' ]; v/ f) Z' g近年來消費性產品應用功能的複雜度急速增加，如照像功能、網路、多媒體應用的興起，手機輕薄短小的需求，均帶動晶片封裝技術快速的由平面轉進立體堆疊技術。而近年來引起產學研各界關注的3D IC技術，則挾帶薄型、低系統成本、高效能，且容許高度異質晶片整合等優勢，可望成為下一世代封裝技術趨勢。然我國廠商卻因在國外標準組織著墨不多，除無法取得技術發展重要資訊外，也喪失規格訂定的主導權；大部分關鍵IP均掌握在國際廠商手中，經常面臨國外廠商智財掣肘，在新產品開發上需支付高額權利金，影響我國廠商的營運成本、市場開發以及國際競爭力。有鑑於此，工業技術研究院資通所邀請多位講師，針對我國在3D IC技術前進國際組織，參與制定標準的規劃及展望，並對3D IC技術進行實際探討分享與互動交流。

) ^3 ~1 i1 v4 G* X+ M1 i; z! p2 s課程表:
13:00～13:30 報到
13:30～13:35 開場致詞 工研院資通所 吳文慶組長
9 l$ n' j% |' E# ?& m% K& ]13:35～14:05 SEMI 國際產業技術標準介紹. 國際半體體設備材料產業協會 黃敏良經理
14:05～14:45 從JEDEC 標準看3D IC可靠度 南台科技大學 唐經洲教授
14:45～15:05 Break
5 \3 u2 H$ k. t; w; D15:05～15:45 Extensions of Current Test Standards for 3D ICs 中央大學 李進福教授
+ |, b7 G$ @8 _$ l% z15:45～16:25 Design Challenges of 3D ICs 美國賓州州立大學 謝源教授
2 k' t4 @) A3 A6 m2 |% K) n: K5 ?16:25～16:40 Q & A

* \: f: a! `* I4 W2 @+ `/ \名額:100位
費用: 免費
: H2 N( X1 H7 X( Q7 d3 @報名方式: 線上報名
) u& t! t$ y' d; O8 Y報名截止: 額滿為止