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7 w' w/ r+ U& v& n/ m' u) v" y02.探針點測晶片電性的影像5 {5 T9 g2 J& r) U2 J# L$ Y. N/ u
1 X' q6 {/ g1 _2 u! B日前,南台科大邀集南科管理局副局長林威呈與園區內高科技公司主管、專家學者等共同座談「南台科大材料與故障分析中心」的規劃與發展,以讓服務項目能更符合業界的需求。 c4 M( v" f, H- Z/ i4 n
& p, y/ }2 O i" R& w. f校長戴謙指出,中心成立宗旨,建構南台科大為產學的校園,為南科建立優質的科學園區;本校地理位置接近南科,有責任建立更好的研究環境,為南部與全臺高科技產業發展做更多的貢獻。
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南科副局長林威呈表示,中心的功能,等同是廠商的外部實驗室,可提供園區內廠商材料及元件的可靠性分析工作。南科目前沒有這樣的高科技設備,這個中心的成立,除了可以降低廠商的研發經費外,也提高產品開發的時效性,大幅提高業界的競爭力。 |
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