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[問題求助] 加入T18 ESD IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好  S4 k1 \& N- K
7 l% ~& Q" p  U: m4 m7 f4 M1 A
在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護$ C7 L0 o% |2 p; b% v. l9 s
8 ]# N! h" `1 T# j) v# G
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
1 d2 W7 _6 A% w6 ]/ m. y
; c. S8 m7 b% w" G: s# F造成LVS驗證顯示短路
- X+ f$ a; r4 m/ A/ H+ ^8 K: d" {. C) s2 p1 _/ Z% o7 X* x
因為用的是TSRI給的library1 y4 b& H/ X6 k3 J, q' R
8 |. |; K/ l- m* M& E
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的
' N. ?: K- S. `( a+ q
/ o! x* [+ y9 ~# ^) X5 K而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
2 Q; Z1 X7 S3 S% [- [) a9 m' r4 y9 j# H$ [0 w  `
是stream in 的時候就有問題了嗎?* E' O1 B) P% _/ z' q

" q# f" e; \% q請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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