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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好
, I  S6 G) Z  [, o
2 v) v- ?2 Z0 l& @% [2 w在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護4 r. ], r1 ~9 E8 h
* h2 d/ c3 m6 U
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
; K' n! Q8 d" x5 V; I
% F" r' e+ D/ h9 [1 b造成LVS驗證顯示短路
1 I2 U6 [3 O2 |& J  l3 o. f3 {- [# H
" K, f6 n, @& H4 ]因為用的是TSRI給的library& u/ {7 s* Z& J# N
8 u. p. f% m- H3 @! _# b
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的
9 o; }; I. D6 j6 t' z% j( G" o3 {; s' h
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
0 }' E' h0 `6 k- n7 n, _1 y# f: f- E7 v( V/ f, j5 I1 V, `! A8 c, |
是stream in 的時候就有問題了嗎?
1 q, W: }) \5 z; M6 ?5 A" ~, R2 `( d+ M) ~9 g8 A
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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