|
根據經濟部統計,2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣,加上新製程及 IC 技術不斷推進,半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上,伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗,產線滿載的情形下,「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求,這些無疑都是即將要面臨的挑戰。- O, Q& O+ d, O( B J& z5 g( F8 Z
; Q- k9 f9 _& O3 P# \ Z若將產品的測試流程放大來看, R&D進行 EVT、DVT,進而再交由產線進行PVT,若 R&D 和產線使用的測試設備不同,除了增加實質的測試成本,也增加了雙方溝通的時間成本;一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備,將可縮減一半的資金成本,且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。5 j0 f5 N$ b8 H4 e4 S
! ~0 Z& I5 ?( D0 {7 I: @+ e
為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間,美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統,讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統,以大幅減少測試成本,並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度,同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。
. {9 `/ G4 {4 x1 K# I1 t* E4 j
$ M. Y) D& h3 x: G& ?% E* d. o此次研討會,將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦,歡迎各界相關專業人士一同與會,和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。
8 V9 P: [9 W, |% @7 }( A0 h# U
活動相關報名方法如下,歡迎大家踴躍報名!
; z) P# P+ C D' g+ X
( L3 `2 F3 w+ a【活動報名方法】. e$ e" C6 D2 \3 y) A. y5 t
活動地點:新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)
?; Y) V/ `% { w% w" k活動日期:2012.4.10 (二) 09:00 ~ 16:50% D0 t% h8 \# G4 w2 F3 }
電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555* M ~) m+ x8 t$ v G
網路報名:http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp |
|