10/20 「智慧型車輛零組件標準與驗證能量建立」計畫研討會

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標檢局邀您掌握國際車電標準動態

7 V. k9 E4 M% j( j# q8 y2 z(20101007 16:51:57)經濟部標準檢驗局「智慧型車輛零組件標準與驗證能量建立」計畫，99年度成果於10月20日在台北台大醫院國際會議中心辦理研討會分享與說明。

0 L$ q) @$ p( a" F7 s, b# S2 V本研討會將由財團法人車輛研究測試中心（ARTC）執行「車輛電子系統標準及驗證能量建立」子計畫，以及逢甲大學IC-EMC研究發展中心辦理「車用晶片系統封裝EMC/SI/PI」子計畫共同說明，並邀請到Chrysler資深經理王政博士回國分享國際車廠的車輛電子環境驗證標準資訊，以協助我國車輛電子產業了解國際驗證技術發展趨勢，以及未來在驗證標準上的因應與規劃，有助提升車電產業國際競爭力。
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$ A: c$ p, |+ d9 h5 z6 f  f+ x6 L本活動為不容錯過之技術饗宴，竭誠歡迎對車電標準動態有興趣的產業先進們參與，報名請洽ARTC網站「車輛學院」。
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7 S+ ~5 I8 t7 C, n/ N訊息來源：車輛研究測試中心

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經濟部標準檢驗局 99 年度成果發表暨技術研討會

: G! d3 l) s9 X車輛工業在各國工業發展歷程中常具有指標性的象徵意義，而台灣零組件廠商在全球車輛領域更有著舉足輕重的地位。近年來，隨著車輛電子的熱浪興起，使得ICT產業有機會與汽車工藝結合，而積體電路(IC)製程技術演進快速，隨著IC 功能增強、操作速度加快，使得目前電機電子與車輛產業在系統整合時電磁干擾問題益趨嚴重，IC 已成為電子系統之整體電磁干擾能量的重要來源。一般而言，解決EMC 的問題越往源頭越容易解決，且所需成本較低，因此EMC 技術發展的趨勢將由系統開始，而後逐漸朝模組與電路板設計方向的系統內干擾問題研究，未來則必須往晶片層級的設計與製程解決EMC 的問題。
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本計畫依據行政院 2006 年產業科技策略會議重要結論與建議對策，屬跨部會署合作之特性，經濟部標準檢驗局屬「智慧型車輛產業發展」分項主辦單位，此計畫為「智慧型車輛零組件檢測技術標準及驗證能量建立」分項計畫，本次活動由逢甲大學IC-EMC 研究發展中心與財團法人車輛研究測試中心進行成果發表，會議中也將邀請美國車廠專家針對國內外車輛電子環境驗證標準趨勢，以及國際車廠驗證規範制定內容進行解析，以協助我國車輛電子相關產業了解國際驗證技術發展趨勢，有助於提升我國車輛電子相關產業國際競爭力。
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# c0 b  c  ^1 `% x7 m- B; K此外，為提昇台灣在 EMC 領域的整體技術能力，經濟部標準檢驗局每年均贊助舉辦國內EMC 相關領域的技術研討會，介紹EMC技術標準與設計研究實例，並探討EMC 問題的解決對策。本計畫成果期能提昇產業界解決EMC、PI、SI 等迫切問題的技術與能力，建立完整的 EMC 設計規範與量測技術，並培養國內產業界在產品差異性設計時所需的相關專業人才。本活動為不容錯過之技術饗宴，內容精采可期，敬邀閣下與會共襄盛舉。
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【活動時間】 2010 年10 月20 日﹙三﹚08:40～16:30
【活動地點】台大醫院國際會議中心 4 樓401 演講廳
（台北市中正區徐州路 2 號 / 02-7724-0109）
1 N# n, I/ \' A. O5 U: r3 N! O【報名截止】 2010 年10 月15 日﹙五﹚
! F5 q. `5 o" \: A【報名費用】全程完全免費
【報名方式】線上報名 http://www.artc.org.tw

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時 間 活動內容/講題講演/參與者
3 R# h) M! _' b) G  s) @+ m- }08：40~09：00 報到
09：00~09：10 開場致詞標檢局首長
* _7 R% J' t2 e  m+ O6 z! [09：10~09：30 貴賓致詞產學研貴賓
09：30~10：20 「車用晶片系統封裝EMC/SI/PI 之技術研究暨設計競賽」頒獎典禮 標檢局首長
( t% e8 r, G: r8 P2 b$ C8 ~10：20~10：50 成果展 & 技術交流 (Tea Time)
9 ~0 M( g# f0 t- L8 ~$ w" J10：50~11：10 「標檢局 IC-EMC 計畫執行成果與未來展望」逢甲大學林漢年 教授
# y8 A  v% E, \' e  z11：10~12：10 「公聽會及座談會」(IEC 62132、61967) 逢甲大學林漢年 教授
$ n1 f6 a( A8 }' w12：10~13：00 午餐
/ x( f9 a1 K' X% M. j, h* m  ?' u13：00~13：20 「車輛電子系統標準及驗證能量建立」計畫成果發表 車輛中心林根源 博士
; @  W2 j1 Y- b13：20~14：30 「車輛電子共通性環境可靠度驗證標準介紹」(ISO 16750) Chrysler Senior Manager 王政博士
14：30~14：50 休息
9 C# K1 G& I( J0 D, u! b& U2 `7 ~" f14：50~16：00 「國際車廠車輛電子環境驗證標準解析」(Customer Duty Cycle Study, Analysis, and Application) Chrysler Senior Manager 王政博士
16：00~16：30 綜合討論 總計畫主持人 標檢局 謝翰璋組長

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7 e" M( c) X) C. q" b+ V車輛中心團隊與Chrysler資深經理王政博士（左二）合影，感謝王博士對車電環境可靠度的經驗分享。

" G' ~: \+ G) f9 T隨著積體電路(IC)的功能越來越強、操作速度愈來越快，使得目前電機電子與車輛產業在系統整合時所造成的電磁干擾問題也越來越嚴重，積體電路(IC)已成為電子系統之整體電磁干擾能量的重要來源，因此電磁相容性(EMC)技術發展的趨勢將是由系統開始，而後逐漸朝模組與電路板設計方向的系統內干擾問題研究，未來則無可置疑地必須往晶片層級的設計與製程解決EMC的問題。
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( }* R* I+ f$ W' T有鑒於此，經濟部標準檢驗局自97年起即擬定為期4年的「智慧型車輛零組件標準與驗證能量建立」計畫，並委託財團法人車輛研究測試中心（ARTC）執行「車輛電子系統標準及驗證能量建立」子計畫，同時亦由逢甲大學IC-EMC研究發展中心辦理「車用晶片系統封裝EMC/SI/PI」子計畫。99年度的成果於10月20日在台北辦理成果發表會分享與說明。

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標檢局99年車電標準成果發表會由逢甲大學副校長李秉乾（左起）、電電公會汽電委員會副主委游文光、標檢局長陳介山與ARTC總經理黃隆洲等貴賓蒞臨致詞。

成果發表會由標檢局陳介山局長主持，並邀請到電電公會及汽車電子委員會副主任委員游文光董事長、ARTC總經理黃隆洲、逢甲大學副校長李秉乾與元智大學通訊研究中心主任彭松村等產官學研貴賓致詞開幕。陳局長表示，智慧化科技已是生活的基本配備，更大量的運用到車輛上，然而如何讓所有智慧化車輛的設計、製造與使用都有規則可依循及擁有高可靠度則有賴標準的訂定，因此標檢局的「智慧型車輛零組件標準與驗證能量建立」計畫，即在促使業界能有標準可循，藉以提升民眾行車的品質。
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ARTC與逢甲大學各別執行的子計畫已是第三年，目的即在於協助我國車輛電子產業了解國際驗證技術發展趨勢和積體電路電磁相容性(IC-EMC)之量測與分析技術，以及未來在驗證標準上的因應與規劃，有助提升車電產業國際競爭力，在一步步的建構與耕耘下，已然可以看到些許成績。為提昇台灣在 EMC 領域的整體技術能力，經濟部標準檢驗局每年均贊助舉辦學國內EMC相關領域的技術研討會。逢甲大學並於99年10月18 ~ 19日於標準檢驗局舉辦「高速數位電路之EMC問題與雜訊原因分析(RCA)及設計技術」研討會，除了由通訊系暨IC-EMC研究中心林漢年博士介紹IC及模組之EMC量測技術與限制值分級規劃趨勢外，該研討會將藉由專題演講、實務分析與意見交流討論，以期能夠提昇產業界解決EMC、PI、SI等迫切問題的技術與能力，建立完整的 EMC 設計規範與量測技術，並培養國內產業界在產品差異性設計時所需的相關專業人才。

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標檢局長陳介山與車用晶片系統設計競賽得獎者合照
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今年的成果發表會再度邀請Chrysler資深經理王政博士回國分享技術經驗，而主題也從北美放大到全球，分析國際車廠的車輛電子環境驗證標準。除了國外經驗分享外，為鼓勵國內產業界與學術界更重視電磁相容的設計與分析技術，亦由逢甲大學IC-EMC研究發展中心針對車用晶片系統封裝EMC/SI/PI之技術研究承辦設計競賽，一同在這次研討會中頒獎給傑出的產業組與學術組代表（產業組：優等：環鴻科技、微星科技、（鴻海、裕隆汽車）；甲等：財團法人台灣電子檢驗中心、新眾電腦、為升電裝、奕柇科技；佳作：鍇振科技、智微科技）、（學術組：第一名：國立勤益科技大學；第二名～第三名：逢甲大學；甲等：逢甲大學、交通大學；佳作：雲林科技大學、交通大學），同時也將於現場展示分享成果。
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與會業者表示，在知識經濟的時代，要具有競爭優勢及主動權就必須知道如何透過技術標準的參與以掌握技術趨勢，而本研討會是個協助相關產業進一步了解國際發展趨勢與世界接軌的好機會。相當樂見政府在制定我國車輛電子標準時主動積極整合上中下游，並向全球看齊、與國際接軌，此作為對產業在研發、法規、測試與驗證面的一體作業相當有助益，同時也把最專業的相關產官學研單位拉進來協力，更是業界一大福音。