7/22 嵌入式網路通訊裝置評比技術與工具開發研討座談會

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活動地點： 國立交通大學(新竹市大學路1001號) 電子資訊研究大樓 1F 第二會議室
指導單位： 經濟部工業局、工業技術研究院
$ f/ d! K% w. D: B+ J" q+ `主辦單位： 工研院交大網路測試中心 (NBL)

# T/ a/ r% u: [4 N$ [: j8 s+ A+ L9 }交大網路測試中心(Network Benchmarking Lab, www.nbl.org.tw)成立8年來，已服務近100家廠商，測試超過500個產品，基於這樣的基礎與經驗，我們希望能夠往上游推進，從黑箱(black-box)測試進到灰箱(gray-box)測試與白箱(white-box)測試，協助系統廠之外，也協助IC設計公司，測試turn-key solutions及硬體IP模組，從NBL衍生出EBL(Embedded Benchmarking Lab)或ESBL(Embedded & SoC Benchmarking Lab)。

此次研討會是EBL努力的第一步成果呈現，我們將現有嵌入式系統在時間、耗電與儲存(time, power, storage)測試(testing)與量測(profiling)的現有工具(off-the-shelf tools)，加入我們自己加值或開發的工具與方法(EBL Solutions)，整合成EBL1.0 Test Suite，用來測試評比Netbooks, Android handhelds及SSD各4個產品(共12個產品)。除了公開評比結果，我們將報告5項EBL Solutions，並有一場EBL/ESBL展望的產學座談會。
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時間	講題	主講人
12:30-13:15	報到 & 自助式午餐
13:15-13:30	來賓致詞	引言人：交通大學	吳重雨 校長
		交通大學電資中心	林寶樹 主任
		交大網路測試中心	林盈達 主任
13:30-14:20	嵌入式產品公開測試評比 (50mins)Profiling Time, Power, and Storage on Netbooks, Android Handhelds, and SSD評比產品:1. 8 Y6 l& g# g7 e3 U, qNetbook – Acer Aspire One D150 / Asus EeePC 1000 / BenQ JoyBook Lite U101 / Dell Inspiron 9102. Android Handheld - Acer Liquid / HTC Hero / Motorola Milestone / Samsung i75003. ( g, r& m+ n/ t' a1 j+ q: P  n& d8 aSSD – Intel X25-M SATA2 / Mtron SSD 7500 / OCZ Vertex SATA2 / Transcend TS16GSSD25S-S	交大網路測試中心	甘東杰
14:20-14:30	中場休息 (Tea & Coffee)
14:30-15:40	嵌入式產品測試技術之應用 (70mins)
	1. 0 s+ q, W' F5 xSolid-State Disks Benchmark: Workload-Oriented Benchmark for Solid-State Disks	交通大學 資工系	張立平 教授
	2. System Stability testing tool for Android devices: Android Key Logger	交大網路測試中心	甘東杰
	3. Power Consumption:(a.) ; V& [% l9 a3 ePowerMemo: Profiling software power consumption of mobile devices in a controlled wireless network		Ilter Suat、游政錕
	(b.) Calibrating Parameters and Formula for Process-level Energy Consumption Profiling		尤云千
	4. % ]4 y+ @4 m: CTime Profiling: Booting, browsing and streaming time profiling and bottleneck analysis on Android-Based systems		杜之雄
15:40-15:50	中場休息 (Tea & Coffee)
15:50-17:00	座談議題：從NBL到EBL/ESBL (70mins)1. 台灣資通之系統商與IC商是否需要有第三方測試機構來提升產品競爭力?2. 目前對嵌入式系統產品與IC產品在哪些項目較欠缺自動化測試，導致測試週期過長?3. , n8 c3 }* m9 x: Z( F9 g對於現今嵌入式系統的耗電及耗時的測試工具是否足夠? 還有哪些欠缺?4. ( Y. F: L. U, `1 YQ&A (嵌入式系統與IC測試技術之經驗分享及建議)	主持人：交大網路測試中心	林盈達 主任
		座談人:
		工研院 0 B# n" f3 V) n7 @) P% O資通所	莊國煜 經理
		交通大學 資工系	陳添福 教授
		交通大學 資工系	張立平 教授
		華碩科技(ASUS)	沈長毅 經理
		正崴精密(Foxlink)	梁毅忠 副理

*交大網路測試中心保留更改議程及講師之權利，若有更改將不另行通知。