請問OPA的Flicker Noise & Thermal Noise 可以用Hspice 模擬出來嗎?

deltachen

請問OPA的Flicker Noise  &  Thermal Noise 可以用Hspice 模擬出來嗎?
. e) k/ u4 E( j) X$ K9 v
  P8 x: a# }/ n0 R- k( T* ?& [3 w5 S7 z目前正在設計一個OPA的電路....想要應用在Audio

設計的驗證想法就是：
3 a, c8 B( m% D: Y% L% |2 }         輸入一個1K的sin wave到OPA.....再用matlab去看OPA的輸出頻譜.....然後看它Thermal & Flicker Noise的頻譜上面的分佈
! b3 l" c# i* A
% C2 B3 |% X: g7 v) i設計準則：
　　　依照Razavi第七章所述,  要降低Flicker Noise,則要用PMOS跟大面積的W*L做為OPA的Input stage

8 J( k& r- L. P4 J結果：
　　　我做了兩顆OPA.....差別就是Inupt stage的size差四倍.........但是跑出來的結果....低頻的部份感覺沒什麼變化!!
9 m4 w- j* |6 K6 F, C3 O
問題：
3 e" d( C, M+ U3 G- J6 e　　　請問各位前輩.....這樣做有沒有問題呢??？

% F! W2 H, E3 i, Y　　　是否跟Hspice的 .noise指令的使用有關係???
0 C0 E- V  o# r7 |0 p  F
　　　還是model�面跟本沒有noise的參數啊 ???　　

kuohsi

Hspice跑.tran看不到thermal, flicker noise的，
* |  _% u; Q5 C3 x, @你可以單獨用.noise指令，看OP的flicker noise！

fet

2 o: z4 a4 ]* {5 g! R* r7 C
Noise analysis傳統是用AC的方法。不過，現在也可以看到在transient中的效果。
$ ^# I  V, ^9 W' n* y（1）Cadence 的spectre simulator已經提供transient noise分析的選項。當你simulate transient的時候，會發現多了一個選項。Cadence有一份Application Note講如何使用。TRnoiseAN.pdf，你可能需要你的Cadence管理員進入Cadence的support網站下載。
http://sourcelink.cadence.com/do ... /2006/TrnoiseAN.pdf
也可參考
# P) R4 v" I6 L6 {2 _; ahttp://www.cadence.com/community ... noise-analysis.aspx

% x: d  h; }7 \/ Q（2）HSPICE也跟進，在新版中提供transient noise分析。見
http://www.synopsys.com/TOOLS/VE ... ages/HSPICE-ds.aspx

) _" p: e' S6 Q. U" b. w7 h) ~" STransient Noise Analysis
HSPICE’s transient noise analysis enables users to predict the effects of device noise (channel, thermal, flicker, and shot noise) on time domain waveforms. HSPICE offers two powerful approaches for simulating transient noise.

Monte Carlo approach: Monte Carlo samples generate an ensemble of noise stimulated waveforms for statistical evaluation. HSPICE supports noise bandwidth and scaling controls and enables the user to plot histograms of the simulation results.
3 F9 d& R; w& Y. {# W5 [8 q
: e2 |9 w/ ]9 X# p! UStochastic Differential Equations (SDE) approach: With this fast approach to transient noise analysis, statistics are predicted directly using SDEs that solve for the time-varying circuit covariance matrix. SDE noise measurements reveal waveform uncertainty and results can be used to predict circuit jitter due to device noise.

2 H- ?  l  C7 B+ P, f( e" P不過，我本人還沒有用過，以后打算用。不過總之應該是可以的，你可再搜索一下資料。

fet

更多的參考文獻：
% C. d9 ~/ K; ^! q) m. {
http://www.sciencedirect.com/sci ... 80a29b2dae5b6962300

6 K/ F" T7 Q4 f4 T% c( F6 Dhttp://ieeexplore.ieee.org/stamp ... mp;arnumber=1239279