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查明造成半導體器件損壞的電過載(EOS)事件的根源是有難度的,而EOS事件出現無規律性時難度會更大。 為闡明如何才能對EOS事件追根溯源,在此用一個實例說明我們是如何幫助一位用戶辯認兩種運算放大器(opamps)的失效原因的。' o: W0 h* o: j, S6 b* Q: n
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想要找 EOS 的相關資料!結果只找到這篇!!- Y/ S: F9 f; K6 G5 z$ v
資料有點老!! 但是! 也是他們經驗累積出來的!!; ]; t a- q! J' H. _. l: y# F" F2 }
權限10 & 3RDB, 5 page!! 已經轉成繁體字了!!8 j! r" w6 [# W; L5 L2 |1 q; V9 t
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[ 本帖最後由 mt7344 於 2007-6-21 07:25 PM 編輯 ] |
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