安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)針對光纖元件和系統的研發與製造,在旗下的光纖測試組合中加入6款新的極化分析與控制解決方案。這些新產品可讓研究與設計人員以無可比擬的速度和準確度,對所有極化相關參數進行完整的特性描述。安捷倫將在9月17-19日於德國柏林國際會議中心舉辦的歐洲光纖通訊展(ECOC)中,在15號展示館的069 - 074號攤位首次展示這些產品。 3 s1 @. C3 k9 Z3 q) m! J
, w( h/ O' m0 P 這些產品是以安捷倫在2007年6月購併的Adaptif Photonics所開發、且經產業證實可靠的技術為基礎。對製造商來說,這個新的產品組合針對校準、調整和最終測試提供了快速又經濟的控制與測試解決方案,有助於降低測試成本及提升良率和產能。
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台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理申義龍表示:「我們購併Adaptif Photonics的目的是為了加強我們旗下的光纖測試與量測產品。這些新產品提供了光纖測試產業前所未見的效能,並賦予客戶更齊備的工具來解決他們在高速寬頻網路設計上的元件測試需求。」
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' h9 w* m9 x- |. y* d& R4 J安捷倫新款極化產品與測試解決方案) M7 j' F+ E( |/ H/ N/ E1 i3 d" Z
4 Y/ o% O3 Z+ U: |; duN7781A是一款小巧的高速極化分析儀,它具備了分析光纖信號的極化特性之完整能力,包括邦加球(Stokes參數)的極化狀態(SOP)再現。5 M* R: K+ L" A8 Y5 V1 Y' m7 }
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uN7782A PER分析儀是為了以高速及絕佳準確度來測試PM光纖的極化消光比(PER)而設計。即時量測能力加上自動化介面,使這款儀器非常適合整合到製造系統中,例如光纖元件的引線處理台。( H0 T* n; D2 U6 a# @
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uN7783A熱循環裝置完全由Agilent N7782A PER分析儀所控制,它可為待測光纖提供準確又穩定的溫度循環。2 P) N; B* ]$ k
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u新的極化控制器系列“ N7784A、N7785A和N7786A ”,即使輸入SOP因溫度偏移和機械穩定過程而產生波動和偏移,也能提供穩定的輸出SOP。這可以提升校準和調整過程的速度與可靠度,從而節省時間和成本。Agilent N7786A內建一個偏極計,可提供高速的極化分析能力;在每秒高達1M個取樣的取樣率下可擷取超過500,000個取樣。
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! |) e! P( t- M W, Y/ f) ^uN7788A元件分析儀的專屬技術可媲美著名的光纖元件瓊斯矩陣本徵分析(Jones-Matrix-Eigenanalysis; JME)或差動群組延遲(DGD)。安捷倫新的單一掃描技術提供了一組完整的參數,包括DGD/ PMD / PDL / 二階PMD、功率 / 損耗、TE / TM損耗、主極化狀態 (PSPs)、及Jones和Mueller矩陣,這些全都整合在一台測試儀器中。 |