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樓主: sjhor
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[問題求助] e-fuse?

  [複製鏈接]
41#
發表於 2013-9-11 13:39:27 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me ~~~
42#
發表於 2013-10-6 10:11:52 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me
43#
發表於 2014-1-10 16:00:16 | 只看該作者
回復 2# finster + g7 z( e5 Y- T/ V7 l7 O; t
6 H, d; q& a9 }3 O( e5 H- Q8 @5 Y
0 K& R1 c) ^7 N) L5 m! [
    感謝分享,最近剛接觸收益良多
44#
發表於 2014-3-4 23:41:51 | 只看該作者
e Fuse 就是FT TRIM 方式 因為 PACKAGE 後BANDGAP 電壓會飄 6mv (paper)   所以如BANDGAP RFE 要準到 1MV 4 F) b9 Y% Y9 }" M
! ?. }2 u- H! g" J/ r% N# `" M
得如此0 g0 F3 k! v3 a  r; v+ X6 V  Z

3 l6 m! k$ C9 Y" ?, O一般 使用 POLY FUSE 燒有RISK是萬一第一次沒燒斷變高阻抗就燒不了. a# j  l3 T7 Z
METAL FUSE 當EFUSE 是可以 但是  VANGUARD 本身有IP  有提到如果 每次READ 都留電流會慢慢燒EFUSE
( T9 Q' _, q2 M! y( M8 c" ~7 v# [; ?4 H* h6 q1 {. c4 m
一般做法是POWER ON 先READ 後就不再去讀E FUSE 可降低問提
6 D! H; t+ q" W還有 FUSE燒 on  off  impedance 要有資料( C0 y) [$ J8 a# c
) k8 q. x2 J1 M6 q' z; w+ t
VANGUARD 有
45#
發表於 2014-3-13 12:48:25 | 只看該作者
感謝各位無私分享, 請問有無efuse SEM照片可分享.謝謝7 F/ j1 H; A+ i. n$ \2 d
  o& j( r4 I* i' e, L" k
Laser fuse 可用高倍率顯微鏡看到..但願還沒看過efuse的..
46#
發表於 2014-7-23 09:53:18 | 只看該作者
回復 11# emcthomas
1 ]( n' C3 G$ W* m4 L5 ]9 [2 e! A- w+ V. E( }  X2 p

" {- R1 b- ^1 A    OTP工艺太贵了,目前用Poly fuse的多,注意trim电流要大于10mA以上,trim路径上的电阻要够小。
47#
發表於 2014-7-30 15:29:55 | 只看該作者
感謝大大提供e-Fuse的資訊,學習到了!% Z) p9 z4 x2 v# {: t: {
雖然公司也使用了OTP,但royalty貴的很,還是自己做e-Fuse比較實在 ...0 }0 @4 F) W! U, R& k8 q6 Q
billycsu 發表於 2013-1-24 01:54 PM

/ b* G$ g  }! P/ o! Y6 H! ~3 V, y1 h
- x$ l" e' ?& O2 O剛好看到這個討論
. n1 D! d5 Z' }e-fuse自己做, 風險很高!! 光是 reliability 就是個問題~6 n: M' Y& P/ q, B( Z7 {' x
大部份的人都認為燒斷之後就是兩端沒接上的意思, no!1 o) y4 O: A- ?% \! w3 `
這個"斷"並不是真的就完全開路, 除了可能斷不乾淨之外
: J: j, V: B) m: |  T還有recovery的問題! # b4 s+ ~+ J$ C# d/ T
可能chip用了一陣子之後你會發現讀出來的值錯了, 原本斷的fuse又接上了!
+ W% I* W2 h, g/ Y( F# d& m這種事只有親身遇過才知道....
3 G* W* D% v7 C2 q! L* E9 Y, Q1 Z至於原理可以去查查 failure analysis 的書
7 J4 y6 O' a3 }2 g' l# a$ e* h0 H* I. t- E% ?0 u
前陣子剛好有機會跟某製程廠的IP部門副總聊到這個問題4 o$ e7 w: K/ w# x8 X% K; `2 x
他也confirm了這點~+ A, P# x& q$ K: K
他特別強調使用IP一定要在spec上的電壓/時間範圍/sequence下操作, 他們才guarantee
3 g; p  _& b3 E4 L3 c所以為了產品的reliability, 有些錢還是得花....
48#
發表於 2015-10-26 14:57:34 | 只看該作者
感謝分享解釋得非常清楚。
49#
發表於 2015-10-26 23:02:01 | 只看該作者
多謝大家的詳細解說
! d, ^" ^) p, H  ^小弟做test key失敗好幾次$ i! z* G/ ~: D) t
果然沒有FAB幫忙
# n/ ]. `' J% q& R9 Q9 O& ?要花很多時間
50#
發表於 2023-2-14 09:07:10 | 只看該作者
谢谢各位大佬,有用哦~~~~~
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