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Tektronix提高光學調變分析解決方案能力
新增支援DSA8300數位取樣示波器的OM4000光學分析儀,將垂直解析度提高到16位元
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( |# }$ M1 r9 u1 K" G2 c【2012 年 5 月 16 日 台 北 訊】–全球示波器領導廠商Tektronix 宣佈,其OM4000系列光學調變分析儀現在可以驅動DSA8300數位取樣示波器,使其提供比即時解決方案還高的垂直解析度,分析PM-QPSK、QAM和其他複雜的調變訊號,降低總系統成本。8 N1 \" U/ q( E m4 o$ P% x7 ?% R
+ C- K& y/ @' h# h" S有了OM4000增強功能,Tektronix可使光學網路設計人員和製造商在即時和等效時間擷取系統之間,靈活選擇適合自己的量測需求。Tektronix是光學調變系統唯一的供應商,提供搭配即時和等時 (取樣) 示波器使用的單一調變分析儀。
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OM4000搭配DSA8300適用於網路設備製造商和設計人員,或正在尋找降低整體系統成本的人,讓他們可以比即時示波器還高的的垂直解析度進行分析。DSA8300提供的主要功能包括:
: K$ I; k; W( {: Z•60 GHz時的16位垂直解析度和450μVRMS基準雜訊,增加動態範圍和準確度
+ i# r8 k& h# S6 \; d•四個通道上高達60 GHz的頻寬,有助於未來系統升級,因應新一代傳輸率需求
9 g+ k, d1 P4 N' i& a•時序抖動可低至450 fs RMS,能看到真正的訊號效能/ I6 W7 Q. ^. Y! z% s" \5 L" ?
4 ^6 K3 ]" N5 [' R$ `7 q& f! v4 CTektronix.效能示波器總經理Brian Reich表示:「隨著全球對頻寬的需求迅速增長,我們的客戶都被要求設法提高效率、資料傳輸率和光學網路設備的可靠性,且同時降低成本。有了OM4000系列的增強功能,我們便能滿足這些需求,提供靈活的節省成本方式、更高的垂直解析度和未來系統升級所需的量測頻寬。」
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; U# ]! Y" A" v* XTektronix OM4000系列光學調變分析儀解決方案,能夠準確有效地以 100 Gb/s 及以上的取樣率擷取光纖的串列通訊訊號,並分析其特性。Tektronix 具有光波相干性訊號分析功能,能穩定擷取訊號並顯示星座圖、Q圖、偏振分析和雷射源,讓您更瞭解光纖架構的訊號品質。/ v' ]6 b f( {5 F
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OM4000支援DSA8300示波器,現開放訂購,預計6月開始出貨。 |
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