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P1 V c. [5 p, K& |/ H$ p( {- x1 A03.積體電路晶片在微光顯微鏡分析下的影像5 [( D$ S* F+ k5 _& k
+ N w" T# x% u) p「南台科大材料與故障分析中心」投資 3,800 萬元添購高效能聚焦離子束顯微鏡,硬體設備投資超過一億元以上。並整合該校現有的貴重儀器設備,例如:微光顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、掃瞄試電子顯。微鏡、傅立葉遠紅外線分析儀等先進科技設備。+ ]* s5 u# ^- D, j. c! B
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邱裕中教授指出,該中心異於一般業界單純的元件故障分析用途,除可協助業界找出元件故障原因外,並可提出改進方案,及從檢測到問題排除的完整方案。透過產學計畫的模式,該中心將提供南部 IC 及光電產業,優質的材料與元件故障率分析之技術服務。2 C( N" f" \; M" Y- D7 i w
( f, v) f3 x3 I# p7 L資料來源:Southern Taiwan University http://www.stut.edu.tw/3 _8 g: d* e0 W/ o$ s% U1 d7 ?% W; [; L
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訊息來源:南台科技大學 |
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