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本帖最後由 tk02376 於 2010-6-22 04:34 PM 編輯
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歡迎參加安捷倫科技所舉辦的最新射頻量測技術分享會,這場免費的技術分享會,將介紹包含最新的元件測試技術、雜訊對信號量測所帶來的影響、信號產生常面臨問題與信號除錯技巧等,以協助您克服各種無線通訊技術量測挑戰。透過安捷倫專業工程師的介紹,讓您了解正確的使用儀器及將其功能發揮到極限,協助您解決工作上的問題。相信本分享會將對從事射頻微波通訊電路及射頻通訊系統整合的工程師會有很大的幫助。歡迎蒞臨參加。
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. s" @6 y" s$ x0 j; ^# mKeywords:* ]9 `% E2 Z& r: `
Noise-like signal, Dynamic range, DANL, Common sources of error, Waveform clipping, ALC, Amplitude flatness, Phase coherency, OFDM, VSA, TDR, Network Analyzer, PDN, PCB
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本研討會實機展示 - 無線信號疑難排除
- 雜訊位準延展與低雜訊路徑
- 向量信號分析與產生
- 手持式信號分析與偵測
- 天線、纜線連接器測試之應用
- 評估DC-DC轉換器及功率分配元件
| | 費用 | 日期 | 地點 | 詳細資訊 | | | | 免費 | 2010-07-14, e/ p" `! V/ _4 d$ q
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