6/19~20 LTE市場趨勢與測試應用研討會

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活動時間/地點：
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台北場次: 2012 年6月19日(週二)　 集思台大會議中心/柏拉圖廳
4 f/ K) H1 d! f8 x1 Y7 ]7 F4 h3 w新竹場次: 2012 年6月20日(週三)   科技生活館/愛因斯坦廳
主辦單位：安立知股份有限公司(ANRITSU)
參加費用：免費
0 M$ |5 m) _3 e  v本研討會提供：精美課程講義、精緻餐點，會後將進行抽獎活動。

長程演進計畫(LTE)的發展聲勢日益高漲，是最被看好的行動通訊系統。在LTE手機接續問世，後端應用軟體更顯得重要。為了讓廣大的客戶群能夠更加暸解LTE市場趨勢、LTE的應用及如何測試。特地舉辦LTE最新市場趨勢，以及測試應用研討會。
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LTE量測設備領導品牌 - 安立知(Anritsu)深知您在測試上的需求，藉由此次機會介紹ME7834L/MD8475A，包含最新GCF/PTCRB測試能力、電信業者最新的發展現況、IMS應用，以及VoLTE/SVLTE/CSFB/TD-LTE等各種測試功能。安立知竭誠邀請您報名參加，每場次僅限120位貴賓，欲報從速！

報名方式：

線上報名: 電電公會網站 [台北場點此，新竹場點此] 或安立知活動網頁[點此]報名

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時　間	主　題	講　師
08:30~09:00	報到
09:00~10:00	LTE最新市場趨勢	Product Marketing, Anritsu Japan: Saito Toru
10:00~10:20	Coffee Break
10:20~11:20	LTE手機應用層實際環境測試 (MD8475A)	Product Marketing, Anritsu Japan: Saito Toru
11:20~12:00	MD8475A實機展示 (VoLTE)
12:00~13:00	Lunch	) v  |" E8 I' n8 b' X; S
13:00~14:30	電信業者最新發展現況 (ME7834L)	Channel Development Manager, Anritsu UK: Tzachi Zack & Product Marketing, Anritsu Japan: Parthiban Palanivel
14:30~14:50	Coffee Break
14:50~16:20	IMS原理以及應用功能 Live demo (MD8430A + Radvision IMS)	Product Manager, Radvision : Eli Cohen
16:20~16:30	Q&A及抽獎活動

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*主辦單位保留活動議程更動權利，若有變更將另行通知。

*若遇不可抗拒之因素如颱風、地震等，將以氣象局公告為基準，取消或延後本次研討會。