NI帶你擺脫傳統ATE! 2015半導體測試暨技術研討會

SophieWeng@G

近年來，智慧型手機、穿戴式裝置於全球消費性電子界掀起熱潮，背後最大的推手即是半導體技術的演進。然而，新製程與設計卻讓半導體複雜性更高，需橫跨無線晶片組、MEMS、記憶體、微處理器等多樣領域。因此，降低毛利、縮短製造週期以奪得上市先機，便是讓半導體製造商取得成功的關鍵之一。

NI將於本研討會介紹透過PXI平台具備的開發彈性，提供開放式架構ATE，輕鬆解決混合式訊號測試困難，並針對不同議題作案例分析，讓您了解當今半導體測試必知的重要技術。

* 時間：2015/08/27(四) 8:40~16:10
* 地點：新竹愛因斯坦大樓3樓(竹北市自強南路8號)
* 費用：免費 (主辦單位提供午餐及抽獎)
* 議程：
1.擺脫傳統ATE的束縛，擁抱開放式測試平台
2.Revelotion of High Speed Digital Singal Test Approaches
3.如何挑戰你要的SMU進行電性測試
4.建構LED多點測試系統
5.雜訊指數量測與RFIC測識實務
6.混和訊號量測-飆速密技分享
7.讓PA測試變簡單的三大重要技術
8.影像視覺與半導體檢測的緊密結合-CIS


活動焦點：
1. 透過開放式架構測試縮短產品EVT到PVT的測試開發流程。
2. 創新的高速序列與邏輯分析技術，降低系統成本並應用到量產測試。
3. 先進的高精準電源供應與量測技術，取得更完整的半導體元件特性測試結果。
4. 業界針對 RFIC、CIS 與 LED 的測試實務分享。

詳細活動議程與細節，請上 NI 官網查詢：taiwan.ni.com