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樓主: sjhor
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[問題求助] e-fuse?

  [複製鏈接]
41#
發表於 2013-9-11 13:39:27 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me ~~~
42#
發表於 2013-10-6 10:11:52 | 只看該作者
The information of eFuse is useful for me
43#
發表於 2014-1-10 16:00:16 | 只看該作者
回復 2# finster
4 A7 m" r1 C2 ?( ~9 g/ `5 I0 [  B5 U8 i4 d: U: B
/ {, t/ s- A8 k: X# y, f
    感謝分享,最近剛接觸收益良多
44#
發表於 2014-3-4 23:41:51 | 只看該作者
e Fuse 就是FT TRIM 方式 因為 PACKAGE 後BANDGAP 電壓會飄 6mv (paper)   所以如BANDGAP RFE 要準到 1MV
5 R# Y1 e" A% W. Y9 O! s% b$ J; p; m! X
得如此
$ R+ O! Z& @9 L# ^' s/ c: t' ~' M4 b- O; s
一般 使用 POLY FUSE 燒有RISK是萬一第一次沒燒斷變高阻抗就燒不了, t5 [' `* H# [. p1 k9 B* C
METAL FUSE 當EFUSE 是可以 但是  VANGUARD 本身有IP  有提到如果 每次READ 都留電流會慢慢燒EFUSE
* T8 m0 j% r& a- t8 {. s( n  M5 k2 q6 i
一般做法是POWER ON 先READ 後就不再去讀E FUSE 可降低問提
, {" d1 C) o  G還有 FUSE燒 on  off  impedance 要有資料: h( z" M" I8 Y  O6 b! s
7 p' P' Y, s; s6 v9 p' t2 P
VANGUARD 有
45#
發表於 2014-3-13 12:48:25 | 只看該作者
感謝各位無私分享, 請問有無efuse SEM照片可分享.謝謝: D! \/ x  ?7 f* a9 u$ N4 O
4 L( E1 z; L6 n7 P" Z% k3 V
Laser fuse 可用高倍率顯微鏡看到..但願還沒看過efuse的..
46#
發表於 2014-7-23 09:53:18 | 只看該作者
回復 11# emcthomas
& L% s1 F/ ~& t
( b, E  a" J8 o
% _) V1 G+ c; `$ `6 N    OTP工艺太贵了,目前用Poly fuse的多,注意trim电流要大于10mA以上,trim路径上的电阻要够小。
47#
發表於 2014-7-30 15:29:55 | 只看該作者
感謝大大提供e-Fuse的資訊,學習到了!
  X6 Q, O8 c) T; O雖然公司也使用了OTP,但royalty貴的很,還是自己做e-Fuse比較實在 ...
4 k; ]0 K6 Q( Y$ M; _billycsu 發表於 2013-1-24 01:54 PM

6 S1 b9 D! b+ W6 J# q2 E. G/ ?5 y" {3 @0 ]/ Z- M. t
剛好看到這個討論
! }+ r8 P6 U3 x" F% \! i/ k5 f% ze-fuse自己做, 風險很高!! 光是 reliability 就是個問題~9 F) s3 J- \; G2 n) M3 M) r' W' X3 q
大部份的人都認為燒斷之後就是兩端沒接上的意思, no!6 R0 f8 D8 B* _" I. L: Z; A
這個"斷"並不是真的就完全開路, 除了可能斷不乾淨之外
4 i/ N' g9 ~7 d  ]9 v; f還有recovery的問題! # d0 d+ B8 \: U# A# w2 y/ j# ^
可能chip用了一陣子之後你會發現讀出來的值錯了, 原本斷的fuse又接上了!
$ h9 d/ _* I% p這種事只有親身遇過才知道....
  L1 q* |3 ~# F, @- d, y3 y+ k至於原理可以去查查 failure analysis 的書: f) d( D& s5 F  F! m6 Y& m3 A8 V
: I8 W3 k/ q6 e1 ~* `$ @
前陣子剛好有機會跟某製程廠的IP部門副總聊到這個問題6 v# k/ L6 G, ]; K
他也confirm了這點~
" t! C" H0 s2 w' ]! i$ C他特別強調使用IP一定要在spec上的電壓/時間範圍/sequence下操作, 他們才guarantee + l0 }) @( z0 S* ~5 ~1 g! {% |" D! ^- f+ L
所以為了產品的reliability, 有些錢還是得花....
48#
發表於 2015-10-26 14:57:34 | 只看該作者
感謝分享解釋得非常清楚。
49#
發表於 2015-10-26 23:02:01 | 只看該作者
多謝大家的詳細解說$ C7 \; E$ h: G! Q( A, I
小弟做test key失敗好幾次
$ m- x% d8 V4 _8 [4 a2 s! O  y果然沒有FAB幫忙) j: i0 f/ L& m/ n, C9 A
要花很多時間
50#
發表於 2023-2-14 09:07:10 | 只看該作者
谢谢各位大佬,有用哦~~~~~
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