4/12 新竹 NI 新興半導體測試技術研討會

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根據經濟部統計，2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣，加上新製程及 IC 技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上，伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
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若將產品的測試流程放大來看， R&D進行 EVT、DVT，進而再交由產線進行PVT，若 R&D 和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。
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* S+ L6 D8 U2 s0 _. g! y為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間，美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度，同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。

% F7 y5 f# h0 s' q此次研討會，將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦，歡迎各界相關專業人士一同與會，和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。

活動相關報名方法如下，歡迎大家踴躍報名！
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【活動報名方法】
活動地點：新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)
, B; B( G7 E# }# n活動日期：2012.4.10 (二)  09:00 ~ 16:50
4 N: p4 x8 _: s8 y( L+ ?$ b電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
網路報名：http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp