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[問題求助] transmission gate 與 tri-state 對ESD的能力?

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1#
發表於 2012-6-21 15:43:29 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
請問各位前輩~
: p9 Y6 s/ M1 f) T6 d' {在相同的輸入PAD(ESD Diode、第二級的電阻相同)時, Z# Q  y0 q& s/ c
內部線路接transmission gate(pad會接到drain、source)$ M2 A$ q' R; U% ]1 ]
跟tri-state(pad接在gate)
2 T' ^" L8 q. {. ~; I5 ?兩者,哪一個ESD的能力比較強) @% q  D6 u  g4 t! ?
而transmission gate又可分成有做ESD rule跟沒做的
4 ]: h1 }( V  ?! w那三者,又是哪一個比較強呢?
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7#
發表於 2022-9-16 11:46:57 | 只看該作者
相當專業的內容,感謝大大分享心得
" k+ E2 A2 F5 c3 K
6#
發表於 2014-9-22 22:33:31 | 只看該作者
goooooooooooooooooooooooooooooooooood

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參與人數 1Chipcoin -10 收起 理由
atitizz -10 尊重分享者!請認真回覆!

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5#
發表於 2012-8-21 21:50:54 | 只看該作者
回復  andyjackcao ; P7 H9 P$ a4 A' S# k

$ n& c0 _; G+ U  J5 x- {原因是什么呢?一般不是用drain的pn结去保护gate吗?那不是就隐含着认为gate的耐压比 ...
# `0 j4 B! q, c1 ^gaojun927 發表於 2012-6-26 14:58

/ D( W1 ~- {* z3 D. g( e5 d5 P2 [/ P; H4 p6 _
' a4 ~) E$ u  e. E& }" T0 C. B
5 P: S8 y) L8 s  c) ~# S! E
8 l# L% F$ q: T" k+ S5 H! f- D5 S
    是这样的;4 Q8 l& ?) z& N( |3 w  V- M# L& U
   通常gate,相比pn结更容易失效;但有ESD保护器件(DIODE)时,gate端会被很好的钳位,而如果存在较小的pn结,容易承受不住较大的电流而失效
4#
發表於 2012-7-9 14:51:45 | 只看該作者
接drain 的比接gate的强,同意三楼的观点
3#
發表於 2012-6-26 14:58:49 | 只看該作者
回復 2# andyjackcao
+ L/ ?# U( x5 H% u6 l0 @! J* j1 S7 s$ l) S
原因是什么呢?一般不是用drain的pn结去保护gate吗?那不是就隐含着认为gate的耐压比较差,所以推论下来输入接drain比接gate要好。
2#
發表於 2012-6-24 16:43:57 | 只看該作者
請問各位前輩~6 e6 V' p' R& O- j9 x/ O. k
在相同的輸入PAD(ESD Diode、第二級的電阻相同)時
0 E% p; W$ _% D, U內部線路接transmission gate(pad會接到dr ...
  [9 Z4 P$ ^' Z( slupiu 發表於 2012-6-21 15:43
& B' l) L3 L, o3 a: s" Z
1),两者比较时,跟tri-state(pad接在gate),ESD能力较好
5 ~/ G; F  B9 t5 S2),三者比较时,follow ESD rule的transmission gate与tri-state(pad接在gate),相差不多。
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