吉時利推出實驗室級手持式射頻功率量測儀

jiming

吉時利(Keithley)推出Model 3500手持式射頻功率量測儀，為市面上第一台實驗室等級的手持式射頻功率量測儀。Model 3500小巧設計適用於實際作業環境及研發實驗室環境，不但具手持式裝置的便利，同時精確如固定式射頻功率量測儀，且價格只有同類產品的一半，不僅功能強大且價格實惠。手持式射頻功率量測儀為吉時利不斷擴大的射頻測試與量測解決方案家族中新增的成員，家族中還包括Model 2910向量訊號產生器及Model 2810向量訊號分析儀。
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7 z' z) |0 X# _Model 3500具有介於10M∼6GHz的寬廣頻率範圍，可應用在許多不同地方，諸如測試手機與基地台網路、無線區域網路(WLAN)裝置、無線射頻識別(RFID)讀取器、WiMAX裝置及無線感測器。由於該儀器動態量測的範圍寬達-63∼+20dBM，因此可直接從受測的裝置上量測訊號，也可穿過層層纜線及治具進行量測。內建的功率感測器，讓使用者免除必須同時攜帶儀器與分離式感測器模組的困擾，而內部的功率基準具自動校準功能，使用者毋須自行調校。
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2 |, p) a2 l' G: @- l/ P7 K新產品可快速而輕易達成實驗室等級的射頻量測，絕對精確度達±0.15dB，可進行精確的儀器量測，達到嚴格的測試極限，執行準確的元件校準。該儀器可用於實驗室，作為射頻功率資料紀錄器。使用正常或高速模式時，可輕易擷取資料，並透過內建USB介面傳送到個人電腦上，進行趨勢或偏移分析。此外，如果測得的訊號隨時間大幅變化，還可平均數值。雖該測試儀體積小，但精確不輸固定式儀器，可取代體型大而昂貴的儀器設備。

+ [' d# t5 m. }- o為提供較大彈性，Model 3500可使用電池、交直流變壓器模組或透過電腦的USB介面取得操作所需的電力。在照明不足的區域進行量測時，則有背光源可提供照明，而為延長電池壽命，還可設定自行關閉背光源，儀器功能依照使用者偏好設定完成後，可記憶起來，方便下次使用。

吉時利網址：www.keithley.com

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推出7.1版KTEI升級軟體配合MODEL 4200-SCS有效保護客戶投資
C-V/I-V/PULSE I-V測試範圍擴展，適合各種應用

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新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)針對獲獎無數的Model 4200-SCS 半導體特性分析系統推出7.1版Keithley Test Environment Interactive (KTEI)。這款升級軟體能檢測更高功率的半導體元件；也能支援小訊號元件的特性分析。Model 4200-SCS是市面上最完整的半導體特性分析儀，不僅讓嚴苛的量測作業變得容易，更能夠保護資本設備的投資、進而降低測試成本。欲了解Model 4200-SCS免費升級方案的資訊，請瀏覽：http://www.keithley.com/products/semiconductor/?mn=4200-SCS


KTEI V7.1 結合一系列創新的特色與功能，擴展Model 4200-CVU(電容-電壓單元)的性能：包括軟體支援方案，能針對功率最高達200V DC、300mA的半導體元件進行特性分析 (或400V差動偏壓) 。這項功能對工程師來說非常實用，不僅限於LDMOS的單一領域，還包括其他高功率半導體元件的應用領域─例如汽車、電子液晶顯示器、微機電等。
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& {# n3 B0 P2 c4 d此外，KTEI V7.1亦擴增對其他新功能的軟體支援：

* Z3 V$ m3 g% O) ]+ C, B2 K! D·差動式直流偏壓 (Differential DC bias)
8 l+ z9 {; R0 p·準靜態C-V測試 (Quasistatic C‑V testing)
8 e# Y7 e  e. y/ j+ h: P  J" q0 N·擴增的元件測試資料庫
·各種軟體強化功能，協助加快與簡化測試程序
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0 ]$ l& c! w6 [7 p支援高功率元件的測試功能

, P4 Z# R' @  |- O; Q* ~; U新款Model 4200-CVU-PWR C‑V Power Package 硬體選購配備，能搭配KTEI V7.1的C-V軟體工具，檢測高功率元件的電流與電壓，最高達200VDC (或400V差動偏壓)以及 300m A的電流。這種電流-電壓測試功能，可用來設計、測試、以及建構汽車電子元件模型、MEMS微機電系統、LDMOS、液晶顯示器、以及其他更高功率的元件。

在加入Keithley的Model 4200-CVU-PWR CV Power Package後，Model 4200-SCS現在支援更高功率的C-V、脈衝I-V (電流-電壓)、以及直流 I-V 應用，並將所有功能整合至同一機殼內。

升級方案的另一項重要功能，是對差動直流偏壓(differential DC biases)的運用。Model 4200-CVU 結合C-V 儀器的對稱式線路，和快閃記憶體的升級，能在C-V HI 與C-V LO終端運用高達60伏特的差動DC偏壓。Keithley是第一家推出這項獨特功能的參數分析儀廠商，在受測元件的電場控制(electric fields)方面獲得更高的彈性；對於建構像奈米元件等獨特元件的模型，這項功能也特別有用。KTEI V7.1已加入4200-CVU韌體升級功能，因此省去把設備送回原廠重新設定的麻煩。
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軟體升級方案支援創新的準靜態電流-電壓量測技術，斜率法(Ramp Rate Method)能運用Model 4200-SCS現有的SMU以及前置放大器。準靜態C-V技術適合針對低功耗CMOS、高介電材料、顯示元件、以及其他低漏電元件進行特性分析。
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繼續的系統增強功能確保持續性的生產力
Keithley的Model 4200-SCS取代各種電子測試工具，提供緊密整合的單一特性分析解決方案，適合各種應用─包括可靠性實驗室、材料與元件研究實驗室、產業聯盟等組織、以及任何桌上型DC或pulse儀器的實驗室，進行半導體技術開發、製程開發、以及材料研究。Keithley持續提升軟硬體的性能表現並改良系統，確保一條具成本效益的升級管道，讓使用者不必淘汰舊的參數分析儀。系統可以高成本效益的方式進行升級，配合產業持續演進的測試需求，因此，將關鍵的投資放在Model 4200-SCS所獲的的效益，將遠超過其他廠商的測試解決方案。
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價格與供貨時程
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KTEI 7.1版已針對現有的Model 4200-SCS系列提供免費升級方案，亦可透過Keithley業務人員訂購；另外也可選購配件Model 4200-CVU-PWR CV Power Package。
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. Q2 p3 d3 m' f0 v: f[ 本帖最後由 jiming 於 2008-9-4 02:49 PM 編輯 ]

jiming

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台北訊 – 2008年9月4日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI) 今日宣布擴增其 3700系列 System Switch/Multimeter 以及擴充卡(Plug-in Card)系列 產品，包括兩款新款擴充卡Model 3724 Dual 1X30固態FET Relay多工卡(Solid State FET Relay Multiplexer Card)以及Model 3750多功能I/O 擴充卡(Multifunction I/O Card)。新款擴充卡為測試工程師提供更廣泛的支援，配合更多切換開關組態(switching configurations)，以因應日趨複雜的測試需求。欲進一步了解Model 3724 或Model 3750的詳細資訊請瀏覽 http://keithley.acrobat.com/series3700tour 。

　　Model 3724 Dual 1X30 FET 多工卡執行量測的掃瞄速度超過每秒1,000個頻道；純切換(switch-only)的掃瞄速度則超過每秒1200個頻道，並提供200V，0.1A的switch/carry能力，產生低於10nA的偏移電流(offset current)。此外，這款擴充卡也可自動裝配成dual 1x30 或1x60 組態的多工卡、具備溫度量測功能跟自動CJC感測器，可搭配選購的螺絲端配件一起使用。Model 3724 可用在各種產品測試重視速度與壽命週期的應用─像是加速應力測試設備的研發與製造、生產測試、製程監控、資料擷取、以及元件特性分析等。  

  D# e3 _2 p0 O% b4 n$ t　　Model 3750 多功能I/O擴充卡則含有40個數位I/O通道，搭配高電流驅動輸出，最多可輸出300mA的電流，不需任何介面電路就能直接驅動繼電器。Model 3750 亦含有兩個可編程的類比輸出，提供電壓與電流可編程的獨立類比輸出，包括0-20mA、4-20mA或+/-12VDC。此外，還含有4個32位元解析度的總計/計數器(totalizers/counters)，可承受高達1MHz的輸入頻率。Model 3750 適合支援各種生產測試應用，這類應用中感測器和其他機械/電氣轉化元件互動頻繁。

* N4 i# W6 a9 K8 |　　Model 3724 與Model 3750是Keithley為3700系列 System Switch/Multimeter平台持續擴增的擴充卡及控制卡成員之一。其他還包括各種高密度及通用型的擴充卡，能容納各種訊號與拓撲，包括多工器、矩陣(matrix)、以及獨立的交換功能(isolated switch functions)。
1 N- a5 i" K- b( T% g2 L
! _' ~7 k7 ]. h# _' N2 s& b- M& ]　　Series 3700 提供可擴充、高效能的切換開關與多通道量測功能，針對電子產品與元件的自動測試進行優化。Keithley的新一代3700 平台滿足中量通道數至多量通道數應用的各種需求，採用業界領先的6插槽、2U機架規格，不僅能控制高達576個多工器通道，還能節省寶貴的機架空間，並降低測試成本。高效能的整合式DMM選購方案─Model 3706協助提供高速、低雜訊的量測功能，其解析度達7½  digit，價錢卻比一般6½ digit的DMM還要低。
" |* s$ K* W1 V* V/ t
/ e1 M; `7 V7 @5 a3 a8 P% M　　3700系列  System Switch/Multimeter 與擴充卡系列產品包含許多業界領先的功能，像是LXI Class B依據IEEE 1588 的時間同步；Keithley的測試腳本處理器 (TSP™) 技術，藉著把類似PC的功能融入到儀器中，提供強大的系統自動化功能、處理流量、以及彈性；以及TSP-Link™這個主/從式通訊匯流排，能根據未來的測試需求進行簡單的系統擴充。

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KEITHLEY擴展MIMO射頻測試能力搶先推出8X8 MIMO測試系統
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: ]+ F; L3 L6 S台北訊– 2008年9月15日–新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)擴大在RF MIMO測試領域的領導優勢，推出業界首款量測級8x8 MIMO系統。新系統主要用來研究新一代RF MIMO元件與技術。
1 |/ ]" `" _% |$ f. z　　Keithley 在2007下半年推出業界首款4x4 MIMO測試設備，協助客戶開發各種研發設備。新款8x8 MIMO系統以同一備受肯定的量測平台為基礎，提供業界其他射頻測試系統望塵莫及的功能與效能：
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• 支援各種MIMO研究應用，從雙通道到8通道
• 個別存在的系統元件，可自由裝配組成，達到彈性化的系統組態
• 可控制射頻載波上的相位與振幅
• ±1奈秒訊號取樣同步化
• 低於1奈秒峰對峰道訊號採樣延遲變化量
• 射頻載波相位顫動(RF-carrier phase jitter)值：低於1度峰對峰值

　　為了與這些高效能的量測規格進行精準且穩定的多重單位同步化(multi-unit synchronization)，新款Keithley系統擴展4x4 MIMO的量測功能─目前，4x4 MIMO的量測功能主要被用於支援高階訊號的商業測試設備，像是802.11n WiFi、802.16e Mobile WiMAX Wave 2，以及4G LTE(長期演進)與UMB(超行動寬頻)等未來標準，甚至是仍在研發階段的新一代技術與設計。Keithley藉著提供各種尖端的MIMO測試系統，協助客戶不管在技術初探階段、還是新產品研發專案階段、以及最後的量產階段，有效加速產品上市時程。欲進一步了解有關Keithley MIMO射頻測試解決方案的詳細資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf
　　MIMO 為一快速發展的科技，使用多個無線電收發資料。在射頻通訊設備中，增加資料傳輸量而不需額外頻寬。Keithley從2x2 到8x8全系列的 MIMO 測試系統，提供最先進且高效能的MIMO測試平台，供研究及產品開發之用；並能輕易測試各種極為複雜的訊號與通訊架構。Keithley的系統協助客戶測試各種通道組態，一次最多可使用8個無線電；並支援各種研究應用，包括天線設計與組態測試、波束成型(beam-forming)、評估智慧型天線AAS(Adaptive Antenna Systems, 又稱為具調適因應性的天線系統)等。先進的8x8 MIMO解決方案為客戶提供單一量測平台，不僅支援技術研究，還支援後續產品設計及開發等工作。
( Z+ t/ W8 c# c; @1 n/ ]+ J3 K9 h5 c. c　　Keithley MIMO 射頻測試系統採用Keithley強大的射頻訊號產生器與分析儀平台，包含Model 2820 RF 向量訊號分析儀(VSA)，使用的頻率範圍介於400MHz-6GHz；Model 2920 RF 向量訊號產生器(VSG)，能產生介於10MHz-6 GHz的頻率；以及Model 280111 WLAN 802.11n 訊號分析軟體，該軟體提供一個相當完整的量測套件，進行單通道或多通道的訊號分析，也能支援4x4 MIMO通道架構。另外，藉由Model 2895 MIMO同步單元(Synchronization Unit)還可提供精確且穩定的訊號校正功能。
7 S- O! P; p' D2 @5 L　　Model 2820 與Model 2920皆內建支援MIMO的硬體連結及韌體，為客戶提供充裕的彈性，不僅可作為MIMO測試系統中的組成元件，也可以當作獨立的單輸入單輸出 (single-input, single-output, SISO)儀器來使用。
0 b+ g8 q5 t5 z. t頂級的量測效能與訊號校正
　　Keithley的8x8 MIMO測試系統提供市面上其他產品望塵莫及的量測功能：
·支援高達8個通道的系統組態
·比起其他MIMO測試系統能提供最精確且穩定的校正功能
·Keithley的量測平台，採用一個彈性的DSP-based 軟體定義無線電架構，能夠迅速因應無線通訊市場快速升級的測試需求。它提供一個彈性的射頻測試平台，藉由快速的頻率調校、振幅設定、以及波形或量測切換，有效縮短測試時間。相較於其他功能、效能相近的儀器，其成本不到它們的一半。
·儀器組裝具備充足的彈性，可在MIMO測試機架中使用這些儀器，輕易增加MIMO通道數目；或僅僅作為單一儀器使用。客戶可根據不同研發階段的不同需求進行擴充；也可視需要分隔訊號產生器的子系統和訊號分析儀的子系統。這樣的彈性，使得產品研發和設計人員都能得到量身打造的測試儀器。
8 t+ G- v  L8 m2 Y( O4 Z詳細資訊
$ B6 D$ x% m1 s  d　　有關Keithley各款射頻測試產品的資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf
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[ 本帖最後由 heavy91 於 2008-9-15 05:20 PM 編輯 ]

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KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
提供業界最快最簡易的I-V特性分析
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台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單，且具備卓越的量測效能及彈性，能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊，請瀏覽：https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
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2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
4 h( `& |) x3 [, ^4 r( p2 J" ]2600A系列在硬體和軟體上都有了改善，不僅支援桌上型的單通道測試；也支援多通道的測試系統：
．領先業界的最快測試速度以及採樣速率
# Q; S' ]. d; V- w0 x．幾乎無上限的通道擴充能力
7 o: p2 \' @/ |, Z．先進的平行測試能力
．獨特的A/D 轉換技術，提供快速而精確的量測；系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器，大大提升量測效率。
．簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體，能夠快速且輕易地執行一般I-V測試，而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
7 @2 g+ K3 B1 x．符合LXI Class C標準，能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。

, g# q& _; L4 i/ M+ y( V8 l: oKeithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求：從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
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8 \, g& l, s/ e  r; X6 XKeithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器，儀器本身將能包辦完整的測試程序，包括複雜的決策制定，不須把數據傳回PC。因此，能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲，整體測試時間也大幅縮短，為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
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$ M0 ~' A9 h$ E- S6 B; ZTSP-Link是Keithley的擴充匯流排，讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器，為測試系統擴增通道，並緊密整合為一多通道系統。由此可見，使用者具備足夠的彈性擴充系統，即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
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) Y# U; j% K& W2 i& v, f超快的測試速度及測試彈性
雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用，更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎，協助大幅提升量測效能：
．每秒讀取速度高達20,000讀值，能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
．電子隔離通道(Electrically isolated channel)，協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍，進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
3 s7 {7 t( `; \3 {* @! {．較先前推出的SourceMeter儀器，時間精確性提高400倍， 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化，同時更緊密掌握測試條件。
．支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
．提供平行測試功能，能同時執行32項測試(最高達64通道)；所有SMU通道都能同步，或非同步地在系統中對任何通道數量，執行相同或不同的測試。
． 改良後的雜訊輸出性能，避免敏感元件受損
2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下，一個典型的BJT測試項目，搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24％。
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$ s2 S8 m$ P4 j( ]: e簡化桌上型應用的操作程序
4 x' \8 Y" o4 B從各種角度評估，2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外，Keithley在軟體工具方面也有類似的提升，使其同樣能在實驗室裡，單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
搭配2600A系列的新款TSP Express軟體，Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言，使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數，TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢，協助工程師更輕易的進行測試工作。
2600A系列甚至配備一個USB介面，協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
詳細資訊
' \% y( g0 h! H　　有關Keithley各款射頻測試產品的資訊，請瀏覽： http://www.keithley.com/rf

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KEITHLEY推出雙通道電池╱充電模擬器 為可攜式電池裝置提供高速測試  

　　台北訊 – 2008年10月20日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)推出Model 2308可攜式設備電池╱充電模擬器。該模擬器具備雙通道、並能模擬電池╱充電器電源，可以極低成本測試各種推陳出新、具備複雜傳輸機制的手機；以及消耗極低電量的可攜式設備。

　　Model 2308的瞬間反應速率在各種負載電流狀況下皆能維持穩定電壓，進而提高生產良率。此外，能更精準地執行全功率運作與低電流睡眠模式的特性化分析，藉以定量化功耗大小，讓設計人員與製造商確保新型的可攜式電子裝置擁有理想的電池續航力。經過優化設計的Model 2308協助製造商降低測試成本。欲進一步了解有關Model 2308的詳細資訊，請瀏覽： https://admin.acrobat.com/_a16893448/p12404430/ 。

瞬間反應速率創造最高的生產良率
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　　有別於傳統的電源供應器，Model 2308具備極快的回復速度，即使當負載電流變化幅度達到10倍或更大─通常可攜式裝置或元件在瞬間從休眠或待機模式切換至全功率運作模式、然後回復至原始狀態，就會發生這樣的狀況─仍能迅速回復。若負載脈衝(load pulse)太短，傳統的電源供應器可能來不及回到穩定的輸出值。即使在較長的測試前導階段為電源供應器與受測元件之間的負載電路加入大量的電感，Model 2308仍能維持穩定的輸出電壓，來應付各種脈衝負載─包括低於90mV的瞬間壓降、以及低於35µs的瞬間回復時間。對於運作於新型EDGE、WiMAX、以及未來的LTE等脈衝調變式技術的手機而言，這項功能更是重要；才能維持一貫的輸出電壓，確保受測元件在測試時不會突然故障，並有足夠的電力維持正常運作，以避免因電力不足而發生的假性故障。此外，瞬態過衝電壓會減短元件壽命。Model 2308擁有瞬間反應機制，能提高生產良率與產品品質，避免傳統的供電模式由於無法快速回應持續變化的負載情況、所造成的假性故障。
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高速與高解析度的負載電流量測，縮短測試時間並為品質把關

6 L- M0 i" ?% o. N: ?* G1 P7 j　　Model 2308 亦能快速量測負載電流，以節省寶貴的測試時間；優化的指令架構，在產品測試中，能降低變動範圍與電流量測時間。Model 2308變更範圍以及進行電源週期量測時，僅耗用27ms，速度居業界第一。四個電流範圍橫跨5A至5mA；解析度則從100µA 到0.1µA，測試工程師能監控量測負載電流時的微小變化，在生產階段做好嚴格的品質把關。此外，在負載電流方面，即使僅50µs的脈衝，都能透過整合式A/D技術進行量測。整合式A/D技術會持續擷取訊號，而非擷取離散的樣本，故能提供較其他A/D技術更精準的量測結果。擷取離散樣本的缺點是，當兩個樣本之間的資訊遺失，將會降低整體量測的精準度。此外，整合式A/D轉換器內含的雜訊較低，讀取的電流數據更為穩定。綜合以上各點，Model 2308提供了優異的速度，及高品質的量測功能。

具備充裕的彈性可支援研發與產品測試

3 U; j5 P# m2 l& y　　Model 2308 搭載的功能使其適合用在產品測試以及研發環境。在生產應用方面，Model 2308採用四線訊號輸出與遠端量測，即使當受測元件無法置於電源供應器附近，也能進行精確的電壓輸出。優異的輸出精準度，讓Model 2308通道能作為手機或其他可攜式設備中電池監控電路的校正源，應用層面包括手機與其他可攜式裝置。把兩個通道裝入一個半機架儀器，其中一個通道模擬電池，另一個則模擬充電器。此外，每個通道皆能作為負載以及訊源。模擬電池的通道可抽取電流來模擬一個放電電池，藉以測試受測元件的充電控制電路。在研發應用方面，Model 2308不僅具備極廣的電流量測範圍，能分析功耗，電源也擁有類比輸出端，讓研發人員能分析負載電流的所有細節，包括啟動程序以及所有運作模式。因此，研發人員能輕易研判整體設備的功耗大小。此外，Model 2308能利用一個可編程的輸出電阻來模擬電池的內部電阻，進而模擬電池的效能。和電池一樣，Model 2308的輸出電阻可以變更，以電壓作為電源，模擬電池在放電時，電池內部電阻上升的狀況。研發業者因此可判斷在使用實際電源時，其元件運作的大致狀況。

多樣儀器組合節省最多成本
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　　Model 2308 內含兩個電源通道，一個為受測元件量測電壓的DVM，以及開關控制的數位控制埠。整體產品組合一系列生產過程中的必備儀器；並節省實驗室中寶貴的空間。
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應用範圍

　　Model 2308 特別適合用來設計與測試使用電池的低功耗裝置，像是3G手機、智慧型手機、MP3隨身聽、藍芽耳機、PDA、以及可攜式GPS接收器。Model 2308亦針對各種元件與子系統進行優化，像是基頻╱電源控制晶片組、射頻功率放大器、射頻功率電晶體、發送器、以及收發器。

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　　台北訊 – 2008年10月27日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)推出Model 3390 50MHz任意波型╱函數產生器，擁有傲視同級產品的波型解析度以及最佳的性能價值比。Model 3390 是一款高度彈性、且易於使用的可程式化訊號產生器，具備先進功能、脈衝、並能產生任意波型。其優異的訊號完整性、更快的上升與下降時間、更低的雜訊、結合更大的波型記憶體共同輸出高品質的輸出訊號，並以四倍於市面上其他廠商容量的波型記憶體支援產生高解析度波型。

9 K4 E5 K+ z# R, fModel 3390諸多實用功能包括：

l        50MHz 最高正弦波頻率
l        最低寬度10ns的25MHz 脈衝頻率  
l        256K，14位元解析度的任意波型產生器  
( \$ ~/ G" h5 {9 K* x& cl        內建包括正弦波、方波、三角波、雜訊、DC等函數產生功能
0 E2 j8 C' _. u. }' B( U8 _l        精準的脈衝與低於10ns上升/下降時間的方波
3 i2 R# @# @; I2 el        內建10MHz外部時間基準，支援多台同步
l        內建AM、FM、PM、FSK、PWM 調變
l        掃頻與猝發能力(burst capability)
: p! Z* x% ?! [# r' c2 ~$ m6 Zl        LXI Class C 相容的乙太網路、TMC相容的USB以及標準GPIB 介面
% T2 W" D6 R. d( M' D6 il        數位波型輸出埠與控制能力
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; q6 T$ T6 C9 M) A! x- M業界領先的採樣速度與記憶體容量
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* M0 F7 Y7 Z- ]2 G  |0 E/ l9 z　　Keithley的Model 3390 50MHz任意波型╱函數產生器，具備比同級產品中快至少2倍的波型重複率。除了高正弦波頻率外，提高速度亦帶來許多應用利益，像是正弦波、三角波、斜波、與任意波型都有更高的重複率；脈衝與點對對任意波型轉換有更快的上升時間；更高的調變頻率；以及更逼真的雜訊模擬。Model 3390的記憶體容量為其他廠商產品的四倍，有256,000個解析點，一般的波型產生器僅提供8000或64000個解析點─更多的解析點協助產生更平滑的波型，或在相同解析度下長四倍的波型。

具備彈性的多功能產品
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　　Model 3390能執行六種不同的重要功能，包括函數產生、脈衝產生、波型產生、波形圖樣產生、雜訊產生、以及調變等功能，不需購買其他儀器進而節省寶貴的機架空間。Model 3390 擁有10 MHz標準外部參考時脈埠，讓使用者能輕易同步化多個Model 3390或其他設備，簡化設備之間同步的流程。
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無與倫比的易用性
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　　Model 3390內建許多標準波形，並讓使用者能自行定義與儲存自己的客製化波形。其配備Keithley的KiWAVE軟體，協助建立客製化任意波形並管理波形記憶體。KiWAVE讓使用者能以實際單位來檢視波形並編輯波形。

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大幅簡化SISO與MIMO訊號的產生與分析流程，節省時間更提高生產力
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　　台北訊 – 2008年11月17日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI) 擴充其強大的SignalMeister™軟體平台，加入射頻訊號分析與射頻訊號產生功能。於2007年首度問市的SignalMeister軟體是目前市面上唯一將訊號產生與分析功能整合為一的軟體套件，具備強勁的速度與使用上的簡便。此外，新一代SignalMeister更能在單一環境下產生與分析單一輸入單一輸出(SISO)與多重輸入多重輸出(MIMO)的訊號。透過SignalMeister軟體，研發、設計、以及測試工程師能透過功能強大且容易使用的圖式使用者介面，快速且輕易地產生與分析訊號。此外，SignalMeister射頻通訊工具套件支援最新的無線MIMO通訊協定標準，包括WiMAX Wave 2 以及802.11n WLAN；亦提供許多額外的複雜功能，像是WLAN通道模式(modeling)、波束成型(beamforming)、模擬、各種IQ作業、以及完整的資料匯入與匯出工具。欲進一步了解有關Keithley SignalMeister射頻通訊工具套件的詳細資訊，請瀏覽：https://admin.acrobat.com/_a16893448/signalmeister3 。

　　SignalMeister軟體是新一代的射頻通訊工具套件，讓工程師建立與分析各種高度複雜的訊號，快速且完整地滿足現今各種射頻測試需求。可擴充的軟體平台結合通用的使用者介面，讓使用者在單一開發環境下，根據各種訊號標準建立波形，同時提供增加的訊號損害修復(signal impairment)與頻道模型建立等功能。SignalMeister軟體讓MIMO訊號能像SISO訊號一樣易於建立與分析，簡化MIMO測試的複雜程序，讓製造商不管在生產還是研發階段中，都能順利開發與供應手機、無線基礎設施、以及射頻晶片組等產品。

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調頻更快！透過USB實現25倍快的資料傳輸率
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　　臺北訊 – 2009年6月29日 – 先進電子量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, NYSE:KEI)日前宣佈將其廣受歡迎的射頻向量訊號分析儀全線產品升級，降低了訊號擷取和量測的時間。吉時利全新Model 2820A射頻向量信號分析儀能在400MHz∼4GHz或400MHz∼6GHz的頻率範圍內提供40MHz的訊號擷取頻寬，在如今的高傳輸量、複雜調變和較廣頻寬的無線通訊標準中，該設備提升了對無線設備的測試能力。
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　　三大優勢讓Model 2820A得以提供更快的測試速度，分別列舉如下：

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頻率切換速度快：Model 2820A可在250 μs之內切換到一個新的頻率，速度比市面上其他訊號分析儀都要快。當對一個在廣泛頻率範圍內或是多重頻率範圍內工作的設備進行測試時，能有效減少整體測試時間。
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·高速資料傳輸率：新技術允許透過USB匯流排從儀器傳輸大量的調變後I、Q資料到PC，每秒速度超過了100Mb─較前一代的產品快了25倍。Model 2820A提供兩種操作模式：傳統的控制面板和PC遙控控制。「桌上型電腦控制」(Desktop Control Panel)模式透過讓PC控制儀器並作為處理器的方式，實現高速傳輸。該模式避開儀器的內部處理器，讓資料直接從DSP處理模組傳輸到每秒傳輸速率100Mb的USB匯流排。在這個模式下，資訊並不在儀器的前端面板進行顯示，而是在PC的螢幕上顯示。使用者只需透過PC即可完全控制儀器。一但擷取到WiMAX訊號，即可立即傳輸至PC，然後在80ms之內進行包括EVM的九項測量工作，並在700µs之內完成每次的功耗測量。Model 2820A同樣能夠對連續猝發資料(data burst)進行後製，因此使用者可以擷取一系列的EDGE Evolution猝發(burst)，並分別對每個猝發進行後製，在小於10ms的情況下對每個脈衝進行解調分析。
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- P9 p0 C' M" o9 \. p5 A+ v: F· 快速排序測試：Model 2820A使用了單一指令、多重操作技術(single-command, multi-operation technique)來縮短發送器校準(transmitter calibration)和性能測試時間。只要簡單的設定，即可針對各種頻率、各種功率和各種標準之間的發送訊號進行大規模的量測。功率測量和調變品質的測量，比如EVM和I、Q偏移(I, Q offset)，都可以在單一資料擷取的操作內完成。

　　Model 2820A結合了快速調頻(frequency tuning)、桌上型電腦控制、高速USB介面和快速排序測試，為業界最快的發送器校正源(transmitter calibrator)，並充分降低測試時間和測試費用。

　　更重要的是，吉時利所提供更快的測試速度不代表測量性能的折衷；事實上，測量性能更有顯著的提升：

8 y8 N6 A5 ?/ [8 d·超低相位雜訊模式：新的合成器讓Model 2820A擁有極為出色的相位雜訊表現。例如，在2GHz載波300kHz偏移下，相位雜訊小於140dBc/Hz，對20MHz WLAN 802.11n進行測量時的EVM量測值的動態範圍低至-48dB。當選用超低相位雜訊模式時，Model 2820A可以在小至1ms的時間調整到一個新的頻率。使用者採用這個模式可以透過軟體在最大測試性能和最快速度之間進行切換。
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· 優異的平均雜訊位準：除了超低相位雜訊表現，通過內建的前置放大器，Model 2820A顯示的平均雜訊位準優於143dBm/Hz。
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　　除了具備GSM、EDGE、EDGE Evolution、WCDMA、HSDPA、cdma2000、WLAN和WiMAX等標準的解調和訊號分析功能，Model 2820A更進一步能分析3GPP Release 7、HSPA+等訊號。每個預設值的特性針對不同的標準提供豐富的測量組合、儀器設定和測試限制。這些特性節省了設定時間並減少操作錯誤的可能。

MIMO測試領域的領導廠商
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. x- e& P! _6 X* |. i7 s　　Model 2820A是吉時利MIMO(多重輸入多重輸出)測試系統解決方案的最新的產品之一。新產品具備每秒100Mb的資料傳輸率，允許研究人員在通道聲探(channel sounding)和波束成型(beam forming)等領域進行先進MIMO技術的開發。此外，Model 2820A也為MIMO訊號提供前所未有的時間和相位同步，多台Model 2820A可精確地、同步地擷取多個傳輸串流。訊號擷取同步顫動(signal acquisition synchronization jitter)小於等於250ps，使用者因此可確認訊號串流之間的延遲是來自發送器或通道的問題，而非測試儀器所造成。採用配備吉時利Model 2820A的MIMO測試組合可實現高達8X8 MIMO系統的測試。而利用吉時利SignalMeister™射頻通訊測試工具軟體、Model 2920向量訊號產生器並配合Model 2820A可輕鬆的產生和分析MIMO訊號。

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臺北訊 – 2009年8月4日 – 先進電子量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, NYSE:KEI)日前為其3700系列 System Switch/Multimeter產品增加了Web瀏覽器介面、多通道圖形繪製工具，這樣將資料形象化的功能皆已內建於最新3700系列的主機韌體中。當使用者選用內建的數位電錶(digital multimeter)進行通道量測時，即能輕鬆觀察量測資料與時間的關係，無需另外編寫程式或處理任何資料檔案。
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* R) i( s2 X" E' P& \+ G這種「提前查看」的功能讓使用者能對長期的測試過程進行精確的估計，並在量測結果與預期不符時快速進行修正。無須使用吉時利的TSP®腳本語言、LabVIEW®或在Visual Basic®編程環境下編寫代碼，即可從儀器的讀取緩衝區中提取資料至其他廠商提供的分析軟體或者試算表(例如，微軟的Excel)以匯出圖形。3700系列主機支援高速、多通道的量測，新增的圖形繪製工具讓使用者自由選擇要以數字或是圖像的方式、表示多達40通道的同步擷取資料，另外，也可選擇即時、或是使用者自訂的頻率查看擷取的資料。上述功能簡化了以前需要逐一比較和對照每個通道量測結果的程式，更能快速辨認潛在問題。舉例來說，該功能特別適合需要同時進行多組溫度、電壓和電阻的量測，然後在測試過程中尋找特定趨勢的測試應用，例如預燒測試(burn-in testing)。

在研發應用中必須進行元件特性分析的工程師，對於這款圖形繪製工具的需求特別殷切。它能簡化從讀取緩衝區擷取資料並使用外部元件分析、這種耗時很長而且容易導致混亂的動作。如此一來，即能加快並簡化主機和測試系統建立時間、通道和信號交互作用以及遠端通道監測與時間關係等應用。
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新功能透過擴展在許多LXI儀器內建的儀器控制網頁，使3700系列相容於LXI標準。無需在電腦或3700系列主機上安裝新的軟體─該功能已包含於主機韌體中並可通過任何標準Web瀏覽器進行存取，包括Internet Explorer、Firefox和其他瀏覽器。該款工具軟體奠基於原本就包含在3700系列中、用來控制和監測安裝在主機和數位電錶配件中的開關卡(switching card)的Web-based 儀器控制功能，而這樣的圖形化使用者介面(GUI)能讓您進入特別版的吉時利測試腳本建立器(Test Script Builder)時，輕鬆編寫測試腳本以建立獨一無二的測試功能。3700系列主機針對電子產品和零件的自動測試，提供可擴充且高性能的開關以及已優化的多通道量測(switching and multi-channel measurement)。新世代3700系列System Switch/Multimeter能滿足中等至高通道數應用的需求，機架具備6插槽，能控制多達576個多工通道，從而節省了寶貴的機架空間且降低了測試成本。搭配Model 3706─一款高性能、整合數位電表(DMM)的配件─能提供快速、低雜訊、更靈敏的量測，以低於標準6½位DMM的價格提供高達7½位解析度和15,000讀數╱秒的速度。

3700系列System Switch/Multimeter包含多種優化功能以進行高速測試，例如LXI B級支援IEEE 1588時間同步協定。其他提高測試速度的功能包括吉時利嵌入式測試腳本處理器(TSP®)技術，能像操作PC一樣操作儀器；以及TSP-Link®主╱從通訊匯流排架構能夠簡化系統的擴充。同時TSP-Link可提供3700系列與2600A系列系統SourceMeter®無縫般的整合，可用來增加高速I-V源和量測能力。

供貨時程

新款3700系列System Switch/Multimeter皆配備圖形工具韌體。舊款3700系列主機的使用者可於下列網址下載免費軟體自行進行更新。

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　　臺北訊 – 2010年3月5日 – 先進電子量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments, NYSE:KEI)，今日宣佈推出最新的4225-PMU Ultra Fast I-V模組，進一步擴充了4200-SCS半導體特性分析系統的功能選擇。在4200-SCS既有的強大測試環境中整合了超快速的電壓波形產生和電流/電壓測量功能，實現了業界最廣的電壓、電流和上升/下降/脈衝時間動態量測範圍，並提高了系統對新材料、元件和製程(process)進行特性分析的能力。除此之外，利用4225-PMU可像進行直流測量一樣輕鬆地提供I-V輸出並量測之。其寬廣的可程式化電壓/電流源及量測範圍、脈寬和上升時間使其非常適於對電壓輸出的速度有高度需求、且需要同步測量的應用—例如奈米CMOS或快閃記憶體。
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7 I) Z$ }* G; [, v" y+ J& j5 R與之前需要多達三種不同測試平臺才能對元件、材料或製程進行充分特性分析的方案不同；4225-PMU憑藉其寬廣的動態量測範圍，只需一套儀器即可完成對元件、材料和製程的全方面特性分析。目前，實驗室僅需安裝一套靈活的系統即可處理以下三種類型的量測：精密直流I-V測試(Model 4200-SMU)、交流阻抗(4210-CVU C-V儀器)和Ultra Fast I-V或Transient I-V測試(4225-PMU)。

; p( z" `6 L, [3 l0 w' B' E整合雙通道電壓電流源和量測功能於單一模組內
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& @! I* F# q7 Y# K/ a每個4225-PMU模組提供了雙通道、整合電壓電流源和量測功能的模組，且僅佔用九插槽機架其中的一個插槽。每個機架最多可安裝四個這樣的模組，實現最高8個超快速的電壓電流源/量測通道。每個通道兼具高速電壓輸出(脈寬範圍從60奈秒到直流)和同步電流與電壓量測兩大功能。這種模組為高速電壓脈衝提供同步電流與電壓量測，採集速率高達200 MS/s，具有14位元類比數位轉換器(A/D)，每個通道採用了兩個A/D(每個模組含四個A/D)。使用者可以選擇兩種電壓源範圍(±10 V or ± 40 V into 1 Mohm)，以及四種電流量測範圍(800 mA, 200 mA, 10 mA, 100 uA)。

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可透過硬體擴充的源-量測彈性
9 y2 J. b8 t% B, J8 ~. B* M每個4225-PMU模組可以配備多達兩個可選購的4225-RPM遠端放大器/開關，從而提供了四種額外的低電流範圍。它們還有助於減少電纜電容效應(cable capacitance effect)，並且支援在4225-PMU、4210-CVU和機架中其他SMU之間的自動切換。除此之外，能部份取代4225-PMU電壓源功能的4220-PGU脈衝產生器，也可供您選擇。

+ @# B2 P9 m; h! m$ E# Q$ X支援材料、元件和製程的特性分析應用
- a0 d/ o) l  J( G3 b4225-PMU和4225-RPM結合在一起能夠支援其他單台儀器無法實現的多種應用，例如：

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l通用Ultra Fast I-V量測。脈衝式I-V測試能被應用在很多地方；透過使用窄脈衝和/或低Duty Cycle脈衝而非直流信號，能夠防止元件自發熱效應(device self-heating)。

lCMOS元件特性分析。4225-PMU/4225-RPM的高速電壓源和電流量測的靈敏度使其非常適於CMOS元件的特性分析，包括high-K元件和先進CMOS技術，如絕緣層覆矽晶圓(Silicon-on-Insulator, SOI)。

l非揮發性記憶體測試。安裝於系統上的KTEI軟體適用於對快閃記憶體和相變化記憶體(phase change memory, PCM)的元件測試；適合單個儲存單元或小規模儲存陣列的測試，例如研發或製程驗證之類的應用。

l化合物半導體元件與材料的特性分析。4225-PMU能夠對III-V族材料進行特性分析，例如氮化鎵(GaN)、砷化鎵(GaAs)和其他一些化合物半導體。它允許使用者設置一個脈衝偏移電壓，然後從非零值進行測量，從而研究元件的放大增益或線性特性。

lNBTI/PBTI可靠性測試。可選購的4200-BTI-AUltra Fast BTI 套裝軟體整合了目前已知、執行BTI測試時所需的所有軟硬體，並具有最快、最靈敏的測量性能。此外，自動特性分析套件(ACS)軟體還支援全自動晶圓和晶舟層級測試，內建NBTI/PBTI測試庫，搭配容易使用的GUI。
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四種可程式控制的掃描選項(Sweep Option)

0 s4 e! I  i& G$ |. b6 }6 w9 V4225-PMU支援四種掃描類型：線性、脈衝、任意波形和專利申請中的Segment ARB®。Segment ARB模式簡化了波形的創造、儲存和產生過程，最高支援由2048個使用者自定義線段所組成的波形，具備出色的波形產生能力。

高效能纜線配置方案
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! v* X4 h: }9 D( m  S6 V& D8 K可選配的高效能纜線方案與4200-SCS相容，能夠連結至探針台進行多種測試，並簡化在直流I-V、C-V和極速I-V測試之間的頻繁切換過程，無需重新佈線，進而增強了訊號的準確性(signal fidelity)。

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吉時利儀器公司宣佈2010年會計年度第三季度銷售額增長31%，淨盈餘為560萬美元
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7 U8 n8 x5 L6 r/ M( k* l* }- ?克利夫蘭, 7月28日 /美通社-PR Newswire/ -- 先進電氣測試設備與系統的全球性領導者吉時利儀器公司 (Keithley Instruments, Inc.) 今天公佈其截至2010年6月30日的2010年會計年度第三季度業績。
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. R/ g( E( ]/ C% P& m該公司本季度的摘要

——該公司本季度訂單額為3180萬美元，同比增長34%﹔該公司本季度儀器產品的訂單額大約同比增長30%
  m0 y* g: }2 V——該公司本季度淨銷售額為3070萬美元，同比增長31%
, W9 X, p# L& G, E( ^3 `——該公司本季度稅前盈餘為470萬美元，而上年同期稅前虧損為280萬美元
——該公司2010年會計年度第三季度淨盈餘為560萬美元，每股盈餘 (EPS) 為0.34美元

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該公司2010年會計年度第三季度業績
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" ^7 p. a7 S- g' [吉時利儀器公司公佈截至2010年6月本季度的淨銷售額為3070萬美元，淨盈餘為560萬美元（合每股0.34美元）。而上年同期淨銷售額為2340萬美元，淨虧損為340萬美元（合每股0.22美元）。

- N# ~8 L. h1 P6 @6 s該公司2010年會計年度第三季度淨銷售額為3070萬美元，較上年同期2340萬美元增加720萬美元，增長31%。該公司2010年會計年度第三季度非美國區的淨銷售額在總銷售中大約占70%。這種更加強勁的美元對該公司2010年會計年度第三季度所帶來的影響較上年同期相比，已經產生了負面作用。該公司本季度淨銷售額環比增長3%。其中包括該公司2010年會計年度第三季度從 S600 產品最終訂購而實現銷售額大約為150萬美元。
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3 [0 K0 v, s6 i4 E% _# v" T該公司2010年會計年度第三季度公佈按公認會計準則 (GAAP) 計算的運營盈餘為470萬美元，而上年同期按公認會計準則計算的運營虧損為280萬美元。這反映了因為較高淨銷售額方面的毛利潤有所提高，在淨銷售額增加720萬美元基礎上，運營盈餘增加了750萬美元。該公司本季度毛利潤對淨銷售額的百分比增長至64.1%，而上年同期為53.3%。如不計重組費用和與出售 RF 生產線相關的費用，該公司2009年和2010年按照公認會計準則計算的業績是一樣的，而該公司這兩個時期按非公認會計準則 (non-GAAP) 計算的業績也是相同的。

8 G8 L3 o- P6 m1 E7 @( y: P0 |& @9 Y該公司董事長、總裁兼行政總裁 Joseph P. Keithley 表示： 「我非常滿意我們當前會計季度所取得的業績。這種業績持續證明了我們不斷關注我們核心測試及測量業務的策略，以及我們有能力保持我們對成本結構已經完成的改善。我們看到了我們已經奠定的穩固經濟基礎所帶來的成果，這將使我們能繼續利用我們的盈餘來增加客戶的需求。 」

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臺北訊 – 2011年4月15日 –先進電子量測方案的世界級領導廠商吉時利儀器公司日前推出2600A SourceMeter®系列的最新產品Model 2651A高功率系統電源電錶。2651A專為高功率電子的特性分析而設計，提供業界最寬的電流應用範圍。此應用範圍對各種研發、可靠度和生產測試應用至為關鍵，例如測試高亮度LED (HBLED)、功率半導體、DC-DC轉換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模組和零件。
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與2600A系列的產品成員相同，2651A具備高度彈性、四象限電壓源和電流源/負載，以及組合精密電壓和電流錶。該電源電錶在單個全尺寸機架中組合了多種儀器功能：包括半導體特性分析儀、精密電源、真正電流源、數位多功能電錶、任意波形產生器、電壓或電流脈衝產生器、電子負載、觸發控制器；除此之外，還可透過吉時利的TSP-Link®技術、完全擴展為多通道同步系統。與競爭者產品的有限功率、量測速度和/或解析度能力不同，2651A可輸出或汲入高達2,000W脈衝功率(±40V，±50A)或200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)。該數位電源電錶同時能以高達每微秒讀取一次的速度，實現小至1pA和100μV訊號的精密量測。

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兩種量測模式：數位化或積分
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* r/ _/ F6 n1 S  v% l  [- |, j2651A提供數位元化或積分量測模式選擇，進行暫態和穩定行為的特性分析。兩個獨立類比轉數位(A/D)轉換器定義每種模式—一個用於電流，另一個用於電壓，可同時精準地重複(readback)電源輸出，而不影響測試效率。  

8 w. V+ G, g( W3 a' d8 Z  N數位元化量測模式的18位元元A/D轉換器能夠以每微秒一點進行連續取樣，每秒可量測多達1百萬筆讀值，使其成為波形擷取和高精密暫態特性量測的最佳選擇。而競爭者所提供的方案則必須藉由對多個讀值進行平均來產生一個量測值，無法量測暫態特性。  
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7 \" \/ r/ S$ d- i積分量測模式是基於22位元元A/D轉換器，使儀器在進行需要最高可能量測準確度和解析度的應用中，達到最佳的運作性能。因此就連常見於新一代元件中的極小電流和電壓，也能精確量測。全部2600A系列儀器均提供積分量測運作模式。

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寬廣動態範圍能因應更廣泛的應用

6 O* n+ c/ I) R- }4 W( v: @透過TSP-Link並連兩台2651A，可將系統的電流範圍從50A提昇到100A。這比競爭者的最佳方案高出兩倍半到五倍。兩台串聯時，電壓範圍從40V提高到80V。包含於全系列2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)讓使用者將多個單元整合作為單台儀器使用，進而簡化測試運作。2651A的內建觸發控制器能夠讓所有連接的通道在500奈秒內同步運作；2651A的這些能力提供業界所需最寬廣的的動態範圍，適合於各種大電流、大功率的測試應用，包括：
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% q8 }  h) v  J3 `0 }功率半導體、高亮度LED(HBLED)與光元件特性分析和測試
GaN、SiC及其它複合材料和元件的特性分析
0 \( {6 [5 ?2 _# a" n半導體介面溫度特性分析
( Z6 ?& b' \% O" \$ j* V可靠度測試
高速、高精度數位化
( R1 l( ^' x+ Z5 R3 ^電致遷移現象(Electromigration)研究

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高速脈衝避免測試元件自熱
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6 K+ C; W5 k0 i, R4 n$ {自熱效應是進行高功率半導體和材料測試時普遍會產生的問題，為瞭解決此問題，2651A提供高速脈衝能力，讓客戶能精確地偵測並量度脈衝。可程式化脈衝寬度從100μs至DC，工作週期則從1%到100%。而競爭對手所提供的方案，通常受制於儀器工作週期，因此彈性較為不足。

強大的測試腳本開發工具
7 B  Z9 @( o1 }
, N4 J9 I/ X1 ~% X! c$ @) x5 N8 K吉時利LXI型I-V測試軟體的TSP Express內嵌於儀器中，無需額外安裝、設定軟體。無論是基本或是高階測試，TSP Express皆可透過三個簡單步驟—包括連接、配置和擷取—輕鬆獲得元件測試資料。此外，也簡化了連接儀器的工作，以因應高脈衝位準的應用。測試結果可以圖形或表格型式呈現，然後輸出到.csv格式檔案，以應用於電子表格軟體。另外還提供兩款用於建立測試程式的強大軟體工具；Test Script Builder應用軟體提供TSP腳本的建立、修改、除錯、執行和管理功能，IVI型的LabView®驅動程式則簡化2651A整合到LabView測試程式的工作。