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Tektronix推出適用於RF干擾場測搜尋的快速靈活解決方案) f5 R+ z! N! T# @* Y4 \ e
全新的SPECMON頻譜分析儀提供暫態RF干擾的快速疑難排除功能,充份簡化了頻譜管理作業
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【2012 年 10 月 9 日 台 北 訊】–全球測試、量測和監控領導供應商Tektronix 日前宣佈,推出SPECMON 頻譜分析儀,提供RF干擾源場測的搜尋工作一個快速又靈活的解決方案。SPECMON具有掃描DPX技術、先進觸發、寬擷取頻寬以及三域訊號分析等特性,可以探索並擷取短如3.7 µs的事件 (100%攔截機率),讓使用者輕鬆找出干擾並快速進行疑難排除。- U; k2 X, D/ a! @- s0 [, {
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隨著無線通訊設備無處不在的趨勢,干擾已成為一個重大的問題;許多重要的安全問題亦隨之浮現,如對於機場雷達和緊急通訊通道等的干擾。同時,由於這些設備普遍使用捉摸不定的跳頻寬頻訊號,使得干擾訊號的偵測作業更窒礙難行。而SPECMON能在充滿雜訊的RF環境中輕鬆分類訊號,有效提高了場測的搜尋效率,同時降低測試成本。: ]1 s5 J9 v3 M1 F; @& a8 A( _
' t6 N! u' L( Y# @Tektronix頻譜分析儀產品線總經理Jim McGillivary 表示:「隨著跳頻技術的廣泛使用,使得以傳統頻譜監控接收器和設備來搜尋場測中的暫態訊號幾乎不可能。一旦有了SPECMON,頻譜管理人員就能利用其各種先進的功能,如:更寬的頻寬、單一設備多項整合功能,以及相容於業界標準的開放資料格式,輕輕鬆鬆掌控所面臨的干擾問題。」 |
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