2/16 行動通訊NFC與LTE測試研討會

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【台北訊】羅德史瓦茲推（R&S）出LTE混附波輻射干擾測試（RSE）的經濟方案，可在載波存在的情形下，輕鬆地對LTE產品進行輻射干擾測試。此方案乃利用R&S OSP，開放式切換控制平台，搭配OSP- B155　硬體配備，來進行量測。其價格還低於傳統利用頻帶阻截濾波器（Notch Filter）方式的費用。
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+ p9 V: i3 ?! L! Z% [2 o( {無線設備製造商必須測量其產品的「混附波輻射干擾」（RSE, radiated spurious emissions），以確保他們產品不會干擾其他無線通訊的裝置。傳統之輻射干擾測試方法乃以濾波器抑制高強度的無線通訊信號載波。但LTE標準有258種頻寬的組合，使用這種方法會付出相當高的人力和成本。羅德史瓦茲公司推出一個非常簡單的解決方案- R&S OSP-B155，亦可協助客戶將預算控制在可接受範圍內。

% p1 O) `0 A; w$ q6 M& B9 |其插件模組可將整個接收到的信號頻譜調整至最佳功率範圍內，以使用EMI測試接收機的最大動態範圍來進行量測。此接收機不需要頻帶阻截濾波器就可對整個LTE信號頻譜進行分析。成功地以此嶄新技術進行測量之前提，在於測試接收機之高接收靈敏度．只有高性能的EMI測試接收機足以檢測出所有相關的干擾輻射。此外，測試接收機亦必須具有高動態範圍之特性，以避免載波信號的峰值功率影響量測結果。R&S EMI測試接收機ESU的高靈敏度，可達到-155 dBm / Hz，結合80dB的動態範圍，為輻射干擾測量的理想選擇。