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[問題求助] 請問 job view 的注意事項

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1#
發表於 2008-2-18 21:03:57 | 顯示全部樓層
Job View在我們公司 是RD跟 Device去做CHECK的
& K# v; ~; u5 v( ^因為不可能整顆IC 每個 Pitch  width  spacing 都CHECK
  n& t/ A& q+ T& Z, J/ w所以只能用  隨機取樣的方式  做 CHECK
* f7 Y1 @' M- D我認知的步驟如下:
8 N' ~8 J" A+ \3 M  k5 G( ]$ M6 K& b+ L
1.  Check  Version  Code  要確定  這層光罩  全部LAYER的 Version code都有出現,  如果有缺少6 E% v" S) o. q7 S3 f9 \7 g) a
     就要跟FAB廠 comfirm  看看是不是本來就沒有放.: f' x' h5 w2 ^9 u5 H# J8 \$ Y# N
( q9 e( `4 s3 _2 S- f0 }% o$ Z# O
2.  找一個 這層光罩  每個LAYER都有出現的地方  (為了便利性)
: i6 Z8 O% O$ ]# ~( i     如果這是個 OPC LAYER 就要找  環境類似或重複性很高的地方去量  X-axis 與 Y-axis的 Pitch- I; v1 h# V2 q* J; {* y
     如果不是OPC LAYOUT  就只要找  X-axis 與 Y-axis 的任一 width跟 spaing來量
: d/ |& m' }$ e, P, Q( W+ J) }/ Q4 K     選擇的 樣本數   越多  自然自己就會越心安   JOB Deck view 出包機率也會下降 (因為光罩很貴,你年薪都沒那麼多)
/ h# M3 I- I8 z; M# ]    在這邊要特別注意,  如果這層光罩  有  L1+L2+L3+L4    你要盡量去量   Layer與Layer有重疊或鄰近地方的
1 e( Q6 M( f# P6 O; H- i2 c; _    wdith, spacing 或 Pitch  才能夠順便CHECK   光罩有沒有在做OR運算的時候出錯, e4 x, B5 f; Z- Y3 j0 K# t- K

# C) ~  w7 c* B6 A3 M1 z3.   最後要確定 光罩有沒有  Shift9 ?* Y& l5 j/ C& x' ~5 i& @4 f- T
      把之前VIEW過的 光罩拿出來疊   看看  width,spacing ,pitch有沒有跑掉,  X軸與Y軸都要看& _, M, l& k" C/ S- }6 g
9 U: ~; ^4 O8 Y8 ?  v% G
4.   如果是改版的話,   就只要看兩個版本不一樣的地方, 還有疊起來是不是除了改的地方之外 是完全重合的& z' D. g- G' s( z. Z" a: M) v
6 u% i# U/ A% X, g$ r
5.   如果這層光罩  有很多不同類型的地方,  比如  ESD   IO Interface,  PAD,  Array, ....etc    b  q$ _3 B( Z. R5 n
      為了保險起見   最好每個地方都重複  2-3的步驟   以確保萬無一失( r# G6 f$ e9 z+ g+ O  e  a
* z% \% v3 n$ x- z$ ^
這是我所知道的CHECK方式,如果有遺漏的地方  也請其他好心的大大補充.
& r( m* c' ~6 j1 |; C/ \
5 L) s+ ]1 @5 o/ C1 g* o" X                                                                                                                                YHCHANG
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