美商吉時利儀器優越產品獲頒德州儀器卓越供應商獎

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美商吉時利儀器公司推出全新業界領先4200-SCS

* b4 j3 i7 e* W! F! m4 P- `包含整合式C-V模組和軟體使得C-V/I-V/PULSE測試更精確更迅速

5 F" A) K* Y2 @& X. m) D- N" u台北訊 – 2007年10月25日 - 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)針對其功能強大的Model 4200-SCS半導體元件特性分析系統發表新款C-V量測儀器。Model 4200-CVU 儀器可將CV量測模組，插入Model 4200-SCS的插槽，快速且輕易地量測fF至nF的電容，支援10kHz至10MHz的頻率。Model 4200-CVU其創新設計含有8項申請中的專利。這項設計提供直覺式點選的操作介面、及內建的元件模組以取得有效的C-V量測數據。讓每個使用者都能更輕鬆的執行C-V量測。
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6 H& ?0 V- }; E) e詳細資訊請瀏覽http://www.keithley.com/pr/078 。
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5 f8 O+ _7 |) ?7 o' {: fModel 4200-CVU 內含最完備的測試資料庫，大幅提升測試的效率。運用Keithley的Model 4200-LS-LC-12，這款特製交換矩陣、擴充卡搭配纜線及轉接器的組合，僅須一次量測就能完成緊密整合的C-V/I-V測試。選購的Model 4200-PROBER-KIT 套件，讓Model 4200-SCS 能輕易連結至最普及的探針，建構一個全面的C-V測試系統，易於設定與執行I-V測試。　
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' g8 j" g$ i' q' @0 ?/ P$ @6 \2 ?廣泛的應用支援

9 z  B1 W1 Y, Z; E! ^2 G3 U透過這些4200-SCS 系列最新產品，吉時利在C-V量測方面取得領先地位，如今能透過單一半導體測試儀器滿足範圍最廣的應用，涵蓋探針的配置、元件類型、製程科技、及量測方法，包括pulse I-V。Model 4200-CVU 和選購模組能解決其他特性曲線分析系統面臨的許多問題 ─ 不是無法提供整合式C-V/I-V/pulse功能，就是其使用者操作介面與軟體資料庫的支援有限。此外，系統的彈性與強大的測試執行引擎，可把I-V、C-V、及脈衝測試整合在相同測試流程。因此，Model 4200-SCS能以一個緊密整合的特性曲線分析解決方案，取代各種電子測試工具。吉時利的Model 4200-SCS也能支援 C-V/I-V/pulse 並搭配其他儀器等測試方法，這些特色讓4200-SCS/CVU 解決方案適合支援：
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．半導體技術開發 / 製程開發 / 可靠度實驗室

．材料與元件研究實驗室與聯盟

1 l, N7 u' D# c  @7 u# q．需要桌上型DC或pulse儀器的實驗室
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．大多數需要多重用途 / 多重儀器小型設備的半導體實驗室與使用者

功能強大的軟體
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4 O& Z, i5 o- K- LModel 4200-SCS 比起市面上的半導體特性曲線分析系統、擁有更簡易操作的Windows介面(GUI)。根據累積多年顧客互動與意見回饋進行研發，使用的簡易性擴及新款Model 4200-CVU 硬體與軟體模組，是其互動測試環境與執行引擎的自然延伸方案。吉時利為支援Model 4200-CVU 硬體，推出眾多樣本程式、測試資料庫、以及內建能立即執行的參數擷取範例。八個軟體資料庫提供範圍最廣的C-V測試與分析。它們涵蓋所有標準應用，包括C-V、C-t、及C-f量測與分析，支援高與低K介電係數結構、MOSFET、BJT、二極體、快閃記憶體、光伏特元件、III-V族複合元件、以及奈米碳管(CNT)元件。除了接合面、針腳對針腳、和互連電容外，分析與參數擷取軟體還能計算出摻雜情況、 氧化層厚度、移動電荷、載子生命週期等資料。這些測試結果包括各種不同的線性和客製化的 C-V 掃瞄、以及 C 對時間和 C 對頻率掃描。
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有別於其他特性曲線分析系統，吉時利 C-V/I-V 會在一個紀錄詳盡的開放式環境中進行分析與擷取程式運作，讓使用者能輕易修改與客制化設定其運作程序。整合型的範例程式，是根據吉時利工程師累積的應用知識所規劃，協助縮短開發時間。
Model 4200-CVU 還含有各種先進的偵測工具，協助確保C-V測試結果的有效性。若不確保測試結果是否精確呢？僅須點選螢幕上的 “Confidence Check” 按鈕，或使用即時前方面板，隔離測試區域以便進行驗證。　
Model 4200-SCS提供最佳的使用者經驗，帶來最短的學習曲線。它能解決半導體實驗室管理者面臨的許多問題，協助他們提高元件特性分析與模型建構時的生產力與效率。　
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: q$ E* u7 ~7 m9 H' H8 L為更高的量測效率打造　
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Model 4200-CVU最受稱讚的是其優異的量測準確性、速度、效率，這歸因於Model 4200-SCS的高速數位量測硬體，以及緊密的硬體與軟體整合，還有吉時利秉持的低雜訊系統設計原則。這些優點的組合，意謂Model 4200-CVU 能大幅增進使用者的生產力，不論工作是簡單的設定單一量測作業，或透過滑鼠點選的方式執行一連串的預設測試程序、或是像觸發與執行多個C-V掃瞄等複雜作業。系統的高速數位架構，意謂著Model 4200-CVU 能以即時模式執行與設定C-V掃瞄，速度超越任何其他廠商的C-V儀器。

4 a" M; a" W: y高度多元化的測試環境

除了把 I-V/C-V/pulse 測試功能整合至一個彈性化、完全整合的測試環境外，Model 4200-SCS 使用者還有許多其他方案可選擇。其中包括最多8個中或高功率SMU，雙通道脈衝與波形產生器、以及一個整合式數位示波器。和 Model 4200-CVU一樣，這些儀器都能插入至 Model 4200-SCS 插槽，並透過功能強大的Keithley Test Environment Interactive (KTEI，7.0版)軟體環境來控制。這個點選式介面能加速測試設定流程、測試程序控制、以及資料分析的作業。KTEI 還能控制各種外部儀表，包括大多數探針台、加溫基座、測試治具、以及吉時利高完整性矩陣式切換開關，提供業界最高的連結彈性。

避免設備快速淘汰
許多儀器製造商持續推出的產品，彼此之間可能無法相容，新產品的問市，經常代表前一代設備必須走入歷史 ─ 完全無法保護客戶的投資。Keithley持續將硬體與軟體升級至Model 4200-SCS的策略，意謂Model 4200-CVU模組，以及所有相關的軟體與選購硬體，都能更新至首款Model 4200-SCS。這種輕易升級的管道，讓客戶不必每隔幾年就須購買新的參數分析儀，以配合元件或材料技術的創新發展。客戶僅須以低廉的成本就能升級系統，以配合業界持續演進的測試需求，讓投入至Model 4200-SCS的資金能進一步延伸， 超越其他廠商的測試解決方案。此外，外部硬體與開發測試程式的需求，也減至最低程度。
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      4200-CV_PR

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搭配新型訊號分析軟體 提供RF訊號產生器和分析儀更高負載力

台北訊 – 2007年10月25日 - 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)針對新一代射頻通訊設備的研發和生產測試發表業界領先4X4 MIMO射頻測試系統(multiple-input, multiple-output RF test system)。MIMO射頻測試系統包含新款Model 2920向量訊號產生器(Vector Signal Generator,VSG)、Model 2820向量訊號分析儀(Vector Signal Analyzer,VSA)、Model 2895 MIMO同步單元以及強大MIMO訊號分析軟體。並沒有其他MIMO測試系統在工業界提供：
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．支援4X4 MIMO應用
" `. o7 o3 H- E% R．支援多種產業標準，涵蓋行動電話、WiMAX和WLAN
．±1nS 訊號取樣同步化
．低於1nS peak-to-peak訊號採樣延遲變化量
．射頻載波相位顫動(RF-carrier phase jitter)值：低於1度峰對峰值

/ F# \! o9 I! T4 r" b) n吉時利推出的全新系統藉由與這些高性能量測規格相容，可支援MIMO，對諸如802.11n 40MHz WLAN MIMO以及802.16e Wave 2 Mobile WiMAX進行量測。有關吉時利MIMO射頻測試解決方案請參考www.keithley.com/pr/077。

; L/ Y$ l, j$ y( G+ X; I* S3 WMIMO為一快速發展的科技，使用多個無線電收發資料。在射頻通訊設備中，增加資料傳輸量而不需額外頻寬。吉時利的4X4 MIMO 測試能力提供最先進、高性能MIMO測試平台，可供未來產品發展以期能藉由簡單的軟體升級達到最複雜訊號結構的測試，包括WiMAX Wave 2和4G長期演化(long term evolution,LTE)和超行動寬頻(ultra mobile broadband,UMB)。
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高達6GHz，高度精確並具備可重複性的量測

9 {( ?2 I0 E- k, q9 C5 N吉時利MIMO射頻測試解決方案由支援高達6GHz的頻率範圍、新的射頻訊號產生器跟射頻訊號分析儀所組成。吉時利蓬勃發展中的射頻產品線中最新的產品為Model 2920向量訊號產生器。Model 2920使用的頻率範圍可在10MHz-4GHz或是10MHZ-6GHz。一個可選用配備80 MHz任意波型產生器、搭配100x106取樣數 波型記憶體的頻寬，給予使用者測試商業通訊訊號廣大陣列的能力，包括GSM、EDGE、W-CDMA、cdma2000、 SISO WLAN和工業界最苛求的802.11 n 40MHz WLAN MIMO訊號。
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吉時利新推出的Model 2820向量訊號分析儀具有40 MHz的標準頻寬，分佈在4 GHz或6GHz的結構。Model 2820具備多功能並能測試各種不同訊號，包括：GSM、EDGE、W-CDMA(uplink/downlink)，以及cdma2000，伴隨著大量WLAN訊號，例如MIMO和SISO中包含的802.11n 40MHz WLAN MIMO訊號。

- q6 g& B9 ]  h5 F% Z4 B吉時利MIMO射頻測試解決方案提供訊號精確同步化、低取樣器和射頻載波相位顫動，並包含高準確、可重複性的量測，以確保產品的高品質和高產量。此外，Model 2820和Model 2920可被設定在2、3或4通道的架構裡。這些雙重目的的儀器可獨立作業也可作為4X4 MIMO測試系統的一部份，所以使用者不需要添加個別的訊號分析儀或訊號產生器。

MIMO同步單元提供精確跟穩定的校準
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Model 2895 MIMO同步器提供訊號來同步MIMO測試系統中儀器，最多可至4X4 MIMO測試同步。使系統在最多4個訊號分析儀跟訊號產生器間高精確跟穩定的校準。Model 2895分配一般訊號例如局部震盪器(local oscillator)、共同時脈和精確的觸發器到所有被連結到系統的儀器，並允許精確和可重複的量測 OFDM MIMO訊號。

! d5 x5 w* g4 t: K  r1 y8 {業界領先的軟體分析工具
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/ D! ]- J% S4 X8 H; m吉時利也推出Model 280111 WLAN 802.11n MIMO訊號分析軟體。其為業界領先的個人電腦分析工具、針對802.11x的單通道或多通道訊號分析。這個最快、最強力的軟體工具以分析所有802.11x訊號也能夠支援4X4 MIMO通道架構。該軟體使用者介面很容易設定也配合著SCPI指令在測試系統中快速設定。
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7 k% y( c/ J( s  d! p1 p! X; V4 X$ y吉時利的4X4 MIMO射頻測試系統對研發工程師以及WLAN和WiMAX設計研發中心的設計人員是相當理想的。此外，相關於3GPP手機生產和射頻功率放大器製造的測試工程師、W-CDMA基地台和其他可應用於國防和航空的無線連結解決方案，也可利用這些強力測試系統所提供的速度性、準確性和彈性。

吉時利下一代射頻儀器被設計以應付今日無線科技的設計人員跟製造商所面對的挑戰，並適合大多數未來技術。吉時利的射頻測試儀器被建立在下一代儀器平台，該儀器平台使用最先進RF和高速DSP科技以減少測試成本跟縮短上市時間。它們提供必需的量測精確度以確保高品質、高產量、高測試速度跟低設備成本以減低測試成本。

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KEITHLEY 與STRATOSPHERE SOLUTIONS 攜手達成SUB-65nm先進製程特性分析

  f) Q/ a8 L3 D$ @' \& |合力推出經過矽實體驗證的互通解決方案，提昇參數良率

台北訊 -- 2008年3月12日 -- 先進量測方案領導廠商美商吉時利儀器(Keithley Instruments；NYSE:KEI)宣布今後將與Stratosphere Solutions(Sunnyvale, CA)進行密切合作。Stratosphere Solutions是專為IC廠商提供創新參數良率改良方案的領導廠商。兩家公司將合作，運用Array TEG (測試元件群)技術，以支援先進製程的開發和監控。
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IC製造商試圖製造越來越小的元件，因此sub-65nm的製程變異參數，對設計與測試工程人員形成艱鉅的挑戰。也因此，半導體產業愈來愈需要能夠有效監控極端敏感製程的解決方案，以提高IC效能同時維持良率。
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Keithley 與Stratosphere Solutions 將為雙方的顧客提供獨特的特性分析架構，結合Keithley的S600系列參數測試系統 以及StratoPro™ IP，達成高產量、高流量、且可靠的參數量測，以確保顧客的成功。
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Keithley事業管理副總裁Mark Hoersten表示：「隨著半導體技術的開展，元件微型化已達奈米等級，量測技術不僅必須跟上甚至還得超越製造商製造與測試這些元件的能力。作為半導體量測技術的領導廠商，Keithley希望與其他業界領導廠商合作，針對最先進的應用開發各種創新的解決方案。 」
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Stratosphere Solutions策略長Prashant Maniar則表示：「我們很高興與Keithley合作，連結最頂尖的工具，推出各種創新、立即可用的互通解決方案。當技術邁向45nm製程，越來越多客戶面臨改進參數良率的挑戰；我們所共同推出經緊密整合且通過矽實體驗證(silicon-proven)的解決方案，能協助客戶提高參數良率、降低改進參數良率的成本、縮短測試時間、進而提高投資報酬率(Return on Investment, ROI)。

  q1 F# \) f5 {  FKeithley的S600系列參數測試系統能針對日新月異的元件技術進行調整，協助晶圓廠與晶圓代工業者降低測試的成本。此外，還能夠以極低的成本改成DC、RF或是array TEG測試器，藉由設備資產的再利用，降低整體測試成本。Series S600的最新成員Model S680，在單一測試系統中，融入平行測試功能、高DC靈敏度分析、fA等級的解析度、以及高達40 GHz的RF S參數量測功能，在65nm技術層級，提供業界最高的處理速度以及更低的持有成本。
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' V9 P' j1 C9 o, FStratosphere獲獎無數的StratoPro屬於array TEG 架構產品。隨著製程技術精密到65nm，這類架構產品在半導體製程的特性分析上變得更為重要。此外，頂尖半導體廠商需要業界標準的方案來協助，StratoPro可符合這些需求，因為能在相同的矽元件空間內提供高出數千倍的密度、最高解析度的量測能力、 以及更優異的整體測試完整性。

: S' q" E( G7 u: M. z# w- OStratoPro™是一款Parametric ActiveMatrix™ 矽元件IP 平台，讓晶圓廠與輕晶圓廠客戶能進行高準確性的特性分析，並得到各項電氣參數及其變異等晶粒內的統計數據。客戶可選擇經過65nm與45nm矽實體驗證的StratoPro平台，因為它提供10到1000倍的測試結構密度，能執行極高解析度的量測，搭配Keithley的測試器平台，更大幅縮短測試時間。晶圓廠客戶可在製程發展初期、良率提昇、以及生產監控等階段運用StratoPro™；輕晶圓廠客戶則可運用這款解決方案來分析與設計模式有關的製程變數。

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原帖由 chip123 於 2008-5-20 11:14 AM 發表
新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)宣佈為其Automated Characterization Suite (ACS) 自動特性分析套件軟體，加入選擇性的晶圓級可靠性(WLR)測試工具，可支援各種半導體可靠度 ...

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' u* ^5 l/ \4 O1 {3 j) X: _. J% BKEITHLEY推出高成本效益的元件測試方案
, \0 {8 {! D4 [- k. }( W兼具使用上的簡便及強大的曲線掃瞄功能
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　　台北訊 – 2008年12月15日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments； NYSE:KEI)日前發表ACS Basic Edition，以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件(ACS)陣容，搭配業界最完備的電源量測單元(SMU)，也就是Keithley的 SourceMeter® 系列產品，可取代老舊的曲線掃瞄儀器，透過單一解決方案執行基本的曲線掃瞄及參數測試，並將成本壓至極低的水準。ACS Basic Edition 現已開始供應，欲進一步了解詳細資訊，請瀏覽
http://keithley.acrobat.com/acsbasic/

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/ Q; O) ]! H$ \% v# G; p　　Keithley於2007年首先推出其ACS整合測試系統，提供獨特的量測功能，以及強大靈活的自動導向軟體，能滿足元件、晶圓、或晶舟層級的半導體特性分析需求。初期的ACS系統是針對大型晶圓探針台以及規模較大的晶圓測試應用所設計；而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用，這類應用雖不需整合式探針設備，但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。
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( f0 f, g- r$ W6 k' Z簡單軟體讓您輕鬆上手
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6 F7 _7 ~$ W" ~; l0 V! g　　有別於其他測試系統，ACS Basic Edition提供一套龐大的資料庫，內含許多預設的元件測試程序，不僅能縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫，還能簡化測試流程。ACS Basic Edition 結合了簡單易用的曲線掃瞄儀，以及參數分析儀的分析功能，任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試，並立即進行特性分析曲線與參考曲線的比較。
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ACS Basic Edition提供一系列工具讓用戶根據不同元件類型輕鬆進行設定，技術人員僅須選擇所需元件類型的圖示，再選擇想要進行的測試項目，幾分鐘後螢幕上就會顯示特性曲線。ACS Basic Edition不僅搭配容易操作的曲線掃瞄儀，還提供空白表格讓您輕鬆套用格式。這項擴增功能得力於formulator，能針對未處理的曲線掃瞄資料進行數學或參數的擷取處理，意謂參數的特性分析，和曲線掃瞄儀一樣容易使用。在需要執行超過一種測試的情況，ACS Basic Edition 強悍的多重測試功能，讓使用者能在單一裝置上進行一連串的測試。

+ P8 Y7 z; d1 \% w* `" g5 L' xSourceMeter協助進行更廣泛的測試

　　Keithley的SourceMeter系列產品提供ACS Basic Edition電源量測功能。ACS Basic Edition 能搭配全系列Series 2400、Series 2600或Series 2600A儀器，提供高功率或微小訊號的特性分析功能，涵蓋1KW脈衝一直到極敏感的 1fA量測解析度。在分析高功率元件的特性時，ACS Basic Edition通常會搭配Keithley Model 2612A雙通道SourceMeter系統儀器，這款儀器每個通道支援200V (兩個通道支援400V) 或 10A的脈衝( 1.5A連續式)。在更高功率的測試方面，ACS Basic Edition可搭配Keithley Model 2430 1kW Pulse Mode System SourceMeter尋找信號源及在150 微秒脈衝內、量測高達100V、 10A的信號。在分析各種敏感元件─像是先進的矽閘(silicon gates)或奈米元件─的時候，通常會採用Keithley Model 2636A雙通道SourceMeter，提供兩個量測解析度達 1fA的電源量測通道。亦可組裝多部SourceMeter儀器以得到更多元化的功能。
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' l' i  k( e$ h4 C, J( r0 f& `1 K. R3 r　　ACS Basic Edition 不僅支援Keithley全系列SourceMeter系統產品，還支援各種切換開關解決方案、常用的 LCR 儀器、以及各種測試配件。結合ACS Basic Edition的多樣測試能力，加上 Keithley Series 3700 或Model 707A 切換開關主機，讓系統能針對更複雜的元件─其中包括排列電阻器(resistor network)、運算放大器、或其他針腳數較高的元件，執行一連串的測試。有些元件需要進行DC I/V測試，以及電容或C-V量測。ACS Basic Edition能輕易利用多樣測試與切換開關功能，執行 DC I/V測試以及 LCR 量測作業。
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$ L5 w8 S; Y! w' p( F* m9 C6 F# C! B在ACS與ACS Basic Edition軟體之間順暢切換

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5 m2 v4 G* t8 B& J　　目前初期推出的ACS系統，支援封裝層級與晶圓層級的特性分析測試應用，包括參數化晶粒測試、晶圓級可靠性測試、參數特性分析、以及元件測試。包括新推出Basic Edition在內的所有ACS系統，均使用相同的關鍵設備，故能維持測試專案的可攜性，並維持系統間的相容。例如，在Basic Edition中建立的專案，可在任何使用相容硬體的ACS系統上執行。這意謂著小規模的ACS Basic Edition測試系統，可搭配運用在20部SourceMeter儀器上，藉以發展一個多點晶粒分類測試系統(multi-site die-sort system)。

詳細資訊
- M" B+ n5 V7 l9 z! G' [
* j. p# U) y8 e2 ]　　有關Keithley ACS Basic Edition、ACS系統、或其他半導體測試方案的詳細資訊，請瀏覽 https://admin.acrobat.com/_a16893448/acsbasic/