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安捷倫發表開發7 Gb/s高速裝置適用的HDMI TMDS信號產生器平台

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發表於 2008-1-2 11:38:24 | 顯示全部樓層
安捷倫科技新款自動化光學檢測機台於德國Productronica展首度亮相
$ N# q5 j8 c/ K. v) ^
) H0 U- y2 Z& ?: e% S0 P; V
Medalist sj5000 AOI系統可為後迴焊檢測作業提供更佳的彈性及易用性

' C( n/ i! p# W  _9 m, z. e0 k5 K8 G+ P% l& k
安捷倫科技(Agilent Technologies)日前在德國舉行的Productronica商展中,發表了新款AOI,自動化光學檢測(Automated Optical Inspection)機台。
) R1 _& r# a' d7 g% C' `! T8 g$ R0 K# }2 r! P" a
Agilent Medalist sj5000 AOI解決方案鎖定後迴焊(post-reflow)檢測流程,採彈性的機台設計,相當容易使用,可協助印刷電路板製造商同步因應表面黏著技術(SMT)快速改變的需求。
; y! n& U: G, D) G' }
' e0 b. U1 T6 N5 v" U新款sj5000的設計特別注重彈性,並加入一些光學檢測的創舉和進一步改良機構方面的設計,包括與Rockwell Automation的一個事業部  - Anorad合作開發出新的線性升降架;更加簡化的新型輸送帶和夾鉗設計;以及新的表面設計,更容易維護系統組件,因此可提供更長的運作時間。不論是新手或經驗豐富的操作人員,都可以藉助於這些特性,在高速的SMT生產線上,迅速取得最多的檢測結果。 . R5 D6 M) @5 t$ p6 p: I9 {
/ w/ Y! s5 F. G1 G9 N
Agilent sj5000是特別針對今日複雜且愈來愈小的印刷電路板組件而開發的,甚至可用以檢測最小的01005元件,絲毫不影響速度和解析度,是安捷倫AOI解決方案的標竿,能輕易地整合到生產線中使用,取代客戶原本使用的Agilent Medalist SJ50系列3 AOI系統。
! r5 ^) t4 r7 X; C' ]% H+ L6 b
& u# s8 i& s% {& u: b安捷倫科技量測系統事業部的行銷總監NK Chari表示:「sj5000是我們新推出的彈性機台,日後將以它為基礎繼續開發更多AOI的創新之舉。我們目前所設計的解決方案將可以繼續解決製造商未來所面臨的挑戰,即使PCBA變得愈來愈複雜,生產線的產出速度持續提升也不成問題。」
* U1 a' ]% r3 Y, c0 n7 G: q$ O- I6 L1 R; M. x5 z3 [
安捷倫科技量測系統事業部副總裁暨總經理Daniel Mak指出:「我們的使命在於持續提供客戶最高品質和最大價值的產品與服務。增強過的新款AOI機台充分展現了我們致力於為客戶創新價值的決心與成果。」
& z9 H$ ^9 P" Z; N- M* ^# C: V  f" o: i# Q% p# f: ?6 J6 o
進一步的資訊: R9 _0 e6 V5 X( G4 f
6 R5 W' F5 A8 q
安捷倫科技新推出的Medalist sj5000將自2007年12月開始接受訂單,詳細資訊可查詢www.agilent.com/find/sj5000網站。
8 v- }6 M' l3 [( r2 r3 g, Z/ Q( A

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發表於 2008-1-8 12:18:19 | 顯示全部樓層
安捷倫發表新款自動化光學檢測平台
9 E* N* s1 P: _) i% }- k
. F( e% K3 ^( ]7 \' C
Medalist sj5000 AOI系統針對後回流檢測提供更高的彈性與易用性

( J: E! ?5 _9 e% L7 t0 i* q  g$ [$ O5 Y+ j
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)將於11月13日在德國Productronica貿易博覽會上展出新款自動化光學檢測(AOI)平台。
1 A5 ~( O! c! n4 F( |9 o1 F! V0 l  X( ^5 t) Q, f8 L
Agilent Medalist sj5000 AOI解決方案以後回流(post-reflow)檢測為目標,其採用容易使用且彈性的平台,可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術(SMT)瞬息萬變的需求。: R1 N8 V8 b9 A0 f& X9 j
4 @3 @. E, w; q: S+ v
新款sj5000以彈性為設計重點,並提供一系列創新的光學檢測技術和改良的機械功能,包括與Rockwell Automation的Anorad部門攜手開發的全新線性起重架;新的簡化型輸送機和夾緊裝置設計;以及更容易接觸到系統元件且能提供更佳運行時間(uptime)支援的新表面(skin)。這些功能可協助新手和資深的操作員在快節奏的SMT生產線上迅速達到最多的檢測結果。
6 L$ y( `- F' A$ k& q- d
! W. P" X' z4 y8 M5 E  n  L& s9 YAgilent sj5000是為了處理現今複雜且不斷縮小的印刷電路板組件而開發,它可以在不犧牲速度和解析度的情況下檢測最小的01005元件,此乃安捷倫AOI解決方案最大的特色。此平台可以輕易地整合到客戶目前採用Agilent Medalist SJ50 Series 3 AOI系統的生產線中。# S) M# v5 {1 N
, `0 ~7 ]; _4 z1 ]0 T
台灣安捷倫董事長申義龍表示:「sj5000為我們將來開發創新的AOI技術提供一個新的“彈性基礎”。我們現在所設計的解決方案,將能協助製造商克服未來的挑戰,即使PCBA變得愈來愈複雜且生產線拍速率(beat rates)持續地提高。」另外,申董事長亦指出:「我們承諾繼續為客戶提供最高品質且最大價值的產品與服務。此新款AOI平台的問世,正足以說明我們為客戶創造創新價值的決心。」
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發表於 2008-1-30 16:28:56 | 顯示全部樓層
安捷倫新款符合性測試解決方案 可促進產業建置PCI Express 2.0
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* a+ x4 s" m, C' a; ]' l. j安捷倫科技協定測試卡II有助於驗證PCI Express 2.0解決方案的功能與符合性設計: F. H$ k* @; K$ I& k! |
( d" E1 K& W8 J1 g
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)繼金標準(gold standard)協定測試卡I(PTC I)之後,再度推出PCI Express® (PCIe™) 2.0適用的PTC II。安捷倫科技PTC II提供所有必要的測試案例,可確保裝置符合PCI-SIG® (PCI Special Interest Group) 規格及促進產業建置PCIe。! q4 ~5 [: S) Q. A- Q1 w: B) S

/ S1 _- G6 N: s' e$ T1 m! |$ Q1 \研發工程師只要按一下滑鼠按鍵,便能執行所有的測試並可透過一份HTML報告來查看詳細的結果。針對PTC II進行一項簡單的軟體升級,就可讓硬體使用Compliance Assured Test Package來執行超過180項測試,或搭配完整的模擬器以納入Link Training and Status State Machine(LTSSM;鏈路訓練與狀態機器)測試。
3 K% v9 v2 U) k6 i2 C6 {$ e7 G
, o3 M) o1 |) x2 C$ PLSI Corp.儲存元件事業群系統工程經理Stu Nuffer表示:「身為創新矽晶片、系統與軟體技術的領導供應商,LSI Corp.強力支持安捷倫的PCIe 2.0測試工具,該工具能滿足除錯、分析、驗證與符合性測試需求。看到安捷倫持續推出領先業界的協定測試卡及開發Compliance Assured Test Package讓我們感到很興奮。這兩項工具可協助LSI在設計初期找出可能導致符合性失敗的原因,從而加強為客戶提供先進產品的能力。這使我們能夠向客戶證實產品完全符合PCIe 2.0標準。」! X! }! J2 ]4 v* N9 j
! _/ W4 Z0 {3 l) A. B
安捷倫PTC II測試卡的以下功能使廣泛的產業應用都能負擔得起PCIe,並可為大多數協定導向的驗證環境提供足夠的功能:
4 t' w6 E: j" m8 j! x6 k! Y5 }0 g! x, K. q8 N- T/ V
o傳輸率每秒5 Giga(GT/s)的電子PCIe 2.0實作,可插入主機平台並連接到任意鏈路寬度(最大到x16)的PCIe插槽中的任意插片;* u6 a5 g  n# G& W- ?% f
o可在以USB連接的外部主機上使用軟體來控制測試卡;8 V% {/ W3 {, `* J# b/ C
o主機的圖形使用者介面提供可選擇的驗證測試,只要按一下滑鼠便能執行。: O# G9 @, ~% A# h
9 \( [2 u& h2 e$ R
MindShare Inc.副總裁Don Anderson表示:「很高興安捷倫在成功開發PCIe 1.0適用的協定測試卡之後,繼續推出支援PCIe 2.0技術規格的PTC測試卡。我們發現客戶的需求已經明顯從PCIe 1.0轉向PCIe 2.0技術等級。根據PCIe 2.0來進行設計已經成真。安捷倫PTC採用與PCIe模擬器相同的硬體,對於想要迅速驗證設計的研發工程師來說是一大利器。我們在今年內會陸續舉辦幾場開放登記的PCIe研討會,活動中將會展出安捷倫的PTC。」2 c2 r# i7 r0 s& X$ A% R

* x8 m6 e& F# h' |& f以完整的產品保證而言,安捷倫科技透過將軟體升級到Compliance Assured Test Package的簡單動作提供180項額外的測試。Compliance Assured Test Package可執行94項交易層測試、31項鏈路層測試、57項組態空間測試及1項電子層測試。易懂的HTML報告分別以紅色、黃色和綠色來顯示未通過的測試、警告和通過的測試。Compliance Assured Test Package可確保推出高品質的產品及減少測試與除錯的時間。
8 O. V3 t# b7 Z2 _/ {* {) v( k1 K5 [
* E9 U$ \: ~; _; |% FNVIDIA策略行銷總監Michael Diamond指出:「說到測試與驗證設備,安捷倫堪稱業界翹楚。我們選用安捷倫最新的E2969B來驗證與除錯初期的設計,它使我們得以領先業界推出PCIe 2.0 GPU – NVIDIA GeForce 8800GT。」1 w7 ~0 B/ G  L5 t; A0 L0 e9 l

. j( _# b1 P6 \% s0 X: T就完整的模擬器與LTSSM模式來說,只要透過方便的軟體升級便可使用2.5 GT/s的 “Gen2Ready” 模擬器或5 GT/s的完整PCIe 2.0模擬器。模擬器可以注入錯誤並分析鏈路層和交易層,另外也可提供組態空間模擬及電源管理能力。
8 M5 s, e9 s" l. ~; r5 T6 L% D# K! Q
台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理申義龍表示:「安捷倫承諾提供測試工具以支援新的技術,PCI Express 2.0也不例外。我們依照安捷倫金標準E2969A PTC I的概念來設計PTC II,如此可確保技術在產業中的連續性,也可進一步簡化及加速符合性測試的過程。」
1 G) N# `- ?: `9 U* i$ U  ]* p9 `, {; U) O, F. B# l( ?) U3 t

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發表於 2008-3-26 11:41:41 | 顯示全部樓層
安捷倫科技針對Infiniium系列示波器  推出FlexRay車用通訊匯流排量測應用軟體
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安捷倫科技(Agilent Technologies)新近推出一套量測應用軟體,可為Infiniium系列示波器提供完善的FlexRay觸發、通訊協定解碼、除錯及眼圖分析能力。這套量測解決方案可協助採用嵌入式微處理器的汽車設計人員驗證FlexRay信號的完整性,以及有效地偵測和找出通訊協定與信號完整性的問題。- x/ f' K. }9 q9 V+ j, I

8 v! ~  G+ q5 G& r: l9 FFlexRay序列匯流排是一種車用的通訊匯流排,採取的是time-triggered及deterministic的架構。這種具fault-tolerant能力的高效能序列匯流排很快就被現今較高階的汽車設計所採用,包括BMW的X5 SUV,最初主要用於支援懸吊系統。由於FlexRay通訊協定具容錯的特性,因此在不久的將來,許多重視安全的應用都可望採用FlexRay技術,例如線控轉向(steer-by-wire)、線控煞車(brake-by-wire)以及防撞系統等。" W6 J* Y- B. P8 R3 W' ~
$ {) @. p4 B' B. a* \
安捷倫科技以Infiniium示波器為基礎所提供的FlexRay分析解決方案可以讓使用者選擇2.5 Mbps、5.0 Mbps、以及10 Mbps等標準的資料速率。解碼出來的資訊可以顯示FlexRay信號的訊框ID、週期數和payload(實體資料)。 6 v2 _; p8 C2 U& P& U! y1 {/ S

; Q% W3 P$ ]1 q$ K* ?# N- d0 T; l除了具有FlexRay匯流排的解碼能力之外,新的選項也可以將一個理想的10 MHz FlexRay時脈一一與每個byte start sequence(BSS,位元組起始序列)事件同步,以便透過軟體的方式回復時脈。回復的時脈可用以產生和顯示出即時的眼圖,由FlexRay的即時眼圖可以綜觀FlexRay信號的品質,包括自動量測系統的抖動。另外,也可以應用依據TP1、TP2、TP3或TP4條件所設定的波罩,自動進行合格/不合格測試。如果波罩測試的結果不合格,工程師也能輕易地“展開”眼圖,迅速找出有問題的位元。
- Y% C- K' {1 v$ o; D) J0 Q% |
! ~+ B; a- g% D0 z7 t2 r車用的嵌入式組件(包括FlexRay 組件)必須在環境控制室中,以模擬的極端條件進行測試,這些極端條件可能包括在超過100℃的溫度下,測試ECU(引擎控制單元)和差動式序列匯流排。今日典型的主動式探棒中的主動電路無法承受高於55℃的溫度,但工程師可以利用Agilent 1130系列InfiniiMax主動式探棒和N5450A SMP微波延長線,將探棒的主動式放大器延伸並移轉到環境控制室之外 。透過這樣的方式,工程師就可以將InfiniiMax被動式探棒頭連接到環境控制室(溫度範圍:-55℃到+155℃)中的測試點。
0 @: i4 z4 ?7 X6 c- v# I+ ^4 u9 Q, k! z' u# A, a: j
有關安捷倫科技N5402A更詳細的資訊,可查詢www.agilent.com/find/n5402a網站。 * K- U! q$ h5 v8 M

" l  {4 {* T7 f8 e  |有關FlexRay標準及FlexRay聯盟更詳細的資訊,可查詢www.flexray.com網站。
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% g. ~: X! ]! E5 Y$ _. F* _9 @) D3 I# v7 B! S  j

. N5 M3 W8 j1 Q' k1 C9 H# L5 x5 }7 g5 j  N2 e

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發表於 2009-1-5 17:52:53 | 顯示全部樓層
安捷倫發表整個開發週期適用的LTE測試解決方案
4 \5 F) v# M. g+ b
& p5 v) l$ ^3 s/ `- c1 x
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈旗下的LTE測試產品組合。這些產品提供一個專為LTE UE開發週期從初期的協定開發到後來的符合性測試而設計的強大、可擴充平台。  t, t8 }: j" n# G+ s3 q6 E1 l

7 j% V% @/ z3 I1 J6 ?安捷倫歐洲、中東與非洲現場營運副總裁暨總經理Benoit Neel表示:「身為電子量測產業的龍頭,安捷倫一直致力於提供整個LTE開發週期所需的解決方案。我們已開發出幾款市場領先的LTE測試產品,其可確保LTE的建置能達到積極縮短上市時程的目標。」7 y2 M3 I- ]' L2 Z2 o9 u

6 t& A: A/ U5 b- w1 g% U  V2 d安捷倫LTE測試解決方案1 z  N8 n9 w) W4 a5 U
+ W' ?7 J: u' U3 D$ y0 n0 C- S/ ?
οAgilent E8895 3GPP LTE Wireless Library
) D8 g- f+ T" a* F6 v2 v0 GADS軟體提供了3GPP LTE信號處理模型和預先配置好的模擬設定:可以讓設計人員產生符合March 2008 LTE標準且頻譜正確的測試波形。這些波形可用來執行接收器測試,以及量測3GPP LTE系統的RF元件之EVMPAPRCCDFACLR效能。此LTE Wireless Library目前支援36.211 v8.3.0LTE標準,並可支援完全編碼的FDDTDD上行/下行鏈路及下行鏈路中的MIMO
# R, \3 \# q% X& J$ h' F0 i( q& O: N
ο為射頻積體電路(RF-IC)和基頻ICBB-IC)開發者及無線手機整合人員提供完整的激發與分析能力安捷倫數位射頻(DigRFV4測試解決方案DigRF V4激發與協定分析工具,整合到安捷倫受歡迎的數位、RF與無線儀器中。新的安捷倫RDX(無線數位跨域)測試儀包含兩款新的模組,分別是Agilent N5343A模擬器模組和N5344A分析模組,其可安裝在安捷倫小型的模組式N2X主機中使用。模組式結構是為了配合未來的MIMO設計而打造的。3 x1 _0 ]* I+ v) t9 v& i

- x4 a0 X' |' L- c# O6 ^$ i2 Sο採用Agilent E6620A測試儀且符合LTE UE 3GPP標準的協定開發解決方案:這款測試儀為橫跨LTE UE研發週期的LTE測試解決方案,提供一個強大、共用的硬體平台。E6620A是一款適用於LTE的先進單機式測試儀,可透過RF或數位基頻為L1/L2/L3上行與下行鏈路提供即時、系統級的網路模擬。它提供完整的RF量測功能,是專為支援MIMO和協定符合性測試而設計。
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0 r" T3 g! E& w- HοAgilent N5106A PXB MIMO接收器測試儀提供MIMO通道模擬與共存測試能力:安捷倫PXB MIMO接收器測試儀可為開發BTS或行動手機接收器的研發工程師,將複雜的4x2 MIMO通道模擬變成經過校驗且可重複的測試程序。安捷倫PXB支援所有主要的無線標準,包括WiMAX(tm) LTE。完善的功能使這款新的PXB成為研發工程師依3GPP LTEWiMAX和新興的無線標準來開發與整合MIMO接收器的理想工具。  a: M+ I. b/ E- j2 c) f

% o' C8 W: G+ z' U+ IοMIMO- LTE信號分析:安捷倫先進的Agilent 89600系列向量信號分析軟體與高效能的中階MXA信號分析儀,以經濟的價格提供高效能的2x2 MIMO LTE信號分析能力。8 n9 J- l: u' f/ S2 A7 R
: h' R6 D" r" v# s* r, k" J
οLTE設計驗證與原型製造Agilent N9080A 3GPP LTE量測應用軟體加上安捷倫X系列信號分析儀,提供業界最完整的嵌入式解決方案,其配備硬鍵/軟鍵和SCPI程式設計使用者介面,在機架上就能執行上行和下行鏈路LTE信號的實體層測試。此外,Agilent 89600 VSA軟體加LTE選項也可搭配30多款安捷倫產品,例如頻譜和信號分析儀、示波器與邏輯分析儀,在方塊圖的任一點進行LTE量測從基頻到天線,針對數位或類比信號。" M/ ~6 g6 \! y# b

3 m7 _( |0 Y+ E. b& }$ [οLTE網路介面的被動探測與分析Agilent J7880A信令分析儀軟體平台可輕易地擴充,以配合從實驗室到實際運作等不同階段的動態測試需求。此平台可在一個真正分散的測試環境中執行單點監測與分析。在分散式的硬體前處理與可擴充的軟體結構的強大組合下,此信令分析儀平台將有助於確保LTE/SAE整合網路系統的成功建置。
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1 I/ D5 j) [7 s. h[ 本帖最後由 heavy91 於 2009-2-10 10:12 AM 編輯 ]
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發表於 2009-2-11 11:53:24 | 顯示全部樓層
安捷倫在PXI數位轉換器中加入高阻抗夾層功能

1 Q8 J# A& [( i3 [5 b( b7 N% z* W
* }" t% a1 H# _$ q5 ]! a/ M

: H/ J; H  X) B# P# M  U安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈將透過PXI數位轉換器的延伸功能,來擴充旗下的Acqiris高速數位轉換器產品線。Agilent U1061AU1062A分別是8位元和10位元的數位轉換器,現在提供一個高阻抗夾層選項,使這些裝置很適合搭配信號探棒,用於電信與半導體元件測試等ATE應用。1 Y; D+ d0 r4 {4 N8 g
+ V( y5 q$ {- D
Agilent U1062A是全球首款10位元、4 GS/s3UPXI數位轉換器,可提供高達2 GHz輸入頻寬256 MS/ch的擷取記憶體。該數位轉換器能大幅縮短測試和資料擷取時間,對於測試時間必須只受限於待測裝置(DUT)速度的高速ATE應用來說,是很理想的解決方案。二通道、8位元的Agilent U1061A擁有高達1 GHz的瞬時頻寬,其8 MS的擷取記憶體可為兩個輸入通道提供1 GS/s的同步取樣速度。在單通道應用中,兩款數位轉換器都可提供通道交錯(channel interleaving):可選擇任一個通道,而且ADC會交錯,分別可提供2 GS/s16 MS記憶體(U1061A),及4 GS/s512 MS記憶體(U1062A)。" b9 I+ H' {! q0 l7 U

9 y4 X& Y6 W0 Q5 w新的高阻抗前端為兩款產品提供了高電壓電測,其使用可程控前端電子來提供完整的輸入電壓範圍,在輸出到50Ω時為50 mV5 V全刻度,輸出到1 MΩ阻抗時則可高達50 V全刻度。Agilent U1061AU1062A的頻寬,在輸出到50Ω時,分別是1 GHz1.4 GHz,而在使用1 MΩ阻抗時,頻寬可達300 MHz。放大器響應已經過最佳化,除了具備可切換濾波(switchable filtering)功能之外,還能以超快的速度來回復超出範圍的信號。; C+ j* r5 m7 {3 Y! c
8 F& ^9 I! K& L3 c0 e. B" d4 L
這些數位轉換器完全符合PXICompactPCI標準,並支援AcqirisLiveAcqirisMAQS軟體,以及Windows®LinuxVxWorks驅動程式,可以很容易地整合到生產測試與自動化測試設備(ATE)中。& U3 |. n- G$ N5 Q( t# }/ |

/ ]2 ?* i7 ~- h* E5 s0 @. X- t相關的產品與應用. v/ g5 t7 v; x6 `+ H$ \5 L

# J5 F/ C8 h2 ?+ F產品
, o7 E3 s! u, _; ]3 Qο高速數位轉換器產品系列
3 E. n6 t9 e( tοAgilent N6030A任意波形產生器,15位元1.25 GS/s
- X3 V& \4 o/ T1 t; V+ S- D  h0 F: i$ o/ @$ Y
測試與量測應用2 g0 p. B# t! N
ο半導體元件、雷射印表機列印頭、硬碟機、電信基礎建設、汽車元件與醫療系統的ATE生產和功能測試
) z: r, X; D* b- _
& `- Y2 w3 @- R, h2 Y& q  m有關Agilent U1061AU1062A PXI高速數位轉換器的更詳細資訊,請上網查詢www.agilent.com/find/high-speed-digitizers  X% Q: @6 ~. ^$ Y

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發表於 2009-3-17 11:36:17 | 顯示全部樓層
安捷倫DDR測試套件的功能與優點:7 z1 a9 `) p# w/ [
2 l% J8 ^: i9 e& A" @8 L) E
οAgilent 16962A邏輯分析模組,提供2.0GT/s狀態速度和2GHz觸發序列速度,能夠可靠地觸發與擷取DDR3 1600信號。將該模組搭配新的DDR3探量解決方案和分析軟體工具使用,可為記憶體產業提供完整的系統整合測試能力。
" v2 N" o0 G! I  Q, h, u4 L
9 ~$ `% V% r2 Q7 ^- c9 h% h6 SοAgilent W3630A系列DDR3 BGA探棒,可以直接探量DRAM的錫球,不但負載低,對嵌入式系統設計上的信號完整性的影響也最小。這些探棒可搭配示波器和邏輯分析儀使用,以執行實體層測試與功能測試。5 X$ P4 b  b+ O- j, q8 c4 ^; k

9 m2 ^" x% M! }" dοAgilent N4835A DDR3插槽界接探測器,為伺服器與桌上應用,提供經由插槽連接器來探量1.6GT/s高速記憶體匯流排的功能。DDR3插槽界接探測器提供非侵入式的探量設計,可快速又容易地探量符合業界標準的DDR3 DIMM: u, J7 B7 {- ^: C! q
4 U* ^# u8 s! ^* ?' K, F3 C* K& k1 _
除了為業界提供完整的DDR解決方案之外,安捷倫還推出首款Agilent B4622A DDR2/3協定相容性與分析工具該工具提供時序和協定錯誤的核對、自動化實體位址觸發設定工具、及以匯流排統計資訊和位址存取直方圖來顯示系統效能的功能。這個工具可協助記憶體設計工程師縮短除錯的時間,並提升DDR設計驗證工作的生產力與效率。# E; K& p/ f! h3 L, H! v
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台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「從探量與分析的觀點來看,產業需要有完整的解決方案來進行DDR功能驗證。安捷倫新的探量解決方案,可滿足電腦與嵌入式設計市場的需求。新的協定相容性與分析工具,有助於洞察記憶體匯流排的活動,從而迅速找出設計問題,也可以讓我們的客戶更快地將產品推出上市。
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Agilent N4835A DDR3插槽界接探測器,支援業界標準的240-pin DDR3 DIMMAgilent B4622A DDR2/3協定相容性與分析工具,可以搭配安捷倫現有的DDR2/3解決方案使用。' b: F& o" n- Q" ]* n' E
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[ 本帖最後由 heavy91 於 2009-3-17 11:37 AM 編輯 ]
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發表於 2009-9-11 15:01:22 | 顯示全部樓層
安捷倫與
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SerialTek
結盟
擴大旗下 SASSATA 測試產品陣容
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安捷倫科技 (Agilent Technologies Inc) SerialTek 共同宣布,安捷倫已正式取得
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所有產品之全球獨家代理權,讓安捷倫旗下 Serial Attached SCSI (SAS) Serial ATA (SATA) 測試解決方案,再添 SerialTek BusXpert SAS/SATA 協定分析儀生力軍。
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隨著 SAS SATA 傳輸速度提高為 6 Gb/s,設計工程師須獲致最佳的電壓、強調位準 (emphasis level) 和邊緣變化率 (edge rate),以克服各種設計限制。同時,他們還須執行協定層測試,確保所有產品均遵循最新規格,並可在系統內彼此互通。% g6 ?, P7 Y' e- o* U1 k
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安捷倫提供完整的測試工具,包含Agilent Infiniium 3 h' x3 A, `# D  _, M2 p
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系列示波器、Agilent N5412A SAS Agilent N5411B SATA 電子效能驗證與相容性測試軟體、Agilent
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N5990A
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自動化特性分析測試套件、Agilent 16900 系列邏輯分析儀、Agilent J-BERT N4903B 高效能串列 BERTAgilent " I+ Y8 E4 w3 u# y# E& I0 C, Y
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寬頻取樣示波器,以及Agilent 81134A 脈衝碼型產生器,以執行發射器、接收器,及回返損耗 (return loss) 測試。加入SerialTek BusXpert系列產品後,安捷倫進一步擴大了協定層分析測試解決方案的陣容。" y; l! G0 u) v
BusXpert- I3 L- L3 b2 Y; W
亦支援 6 Gb/s 訊框錯誤率計數器 (FER counter),可用於安捷倫接收器測試解決方案。
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SerialTek BusXpert SAS/SATA 測試解決方案支援 1.5 Gb/s 到最新的6 Gb/s 傳輸速度,是業界最先進的協定分析儀。其創新特色包含PCI Express®-to-Host 連結、Trace Indexing,以及透過微處理器支援 InstaSearch等軟、硬體創新技術,以協助使用者以協定分析儀發展產品並進行除錯。除了前述創新技術外,BusXpert還支援業界最大的36 GB 緩衝區 (buffer),以及簡單易用的圖形使用者介面 (GUI),因此可用業界前所未見的速度,有效顯示、操控、觸發,並儲存信號軌跡。
8 Q4 v' v, V+ i) O" @6 w/ X4 x$ pBusXpert支援多樣化配置,包含不同數量與大小的連接埠、緩衝區,以及不同平台。PRO Micro 平台非常輕巧,易於攜帶與升級。
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台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「安捷倫的SAS/SATA 實體層測試產品,在各方面都是業界最佳產品,可有效克服產業面臨的各種挑戰;而SerialTek 團隊對儲存產業之深入洞察力與專業知識,使得BusXpert 擁有領先市場的功能與效能,補齊並強化了安捷倫領先產業的SAS/SATA 實體層測試解決方案。」, x  S- I6 _/ [% l1 c7 ]

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! d* U" p7 R: f# E3 [8 \7 oSerialTek總裁暨技術長Dale Smith指出:「自 2009 年初,SerialTek 開始與在地的儲存裝置發展廠商密切合作,確保 BusXpert 的創新特性,可更快執行儲存產品的分析與除錯。我們很高興與安捷倫結盟,並透過其全球通路銷售 BusXpert。藉由結合 SerialTek高效能SAS/SATA 分析儀,與安捷倫SAS/SATA實體層測試解決方案及全球服務與支援,儲存產品製造商現在可更輕易、更快速地確保產品相容性,並全面遵循目前之主流儲存協定。此外,藉由取得安捷倫各項專利的授權,SerialTek 一舉獲得 15 年以上的創新協定分析技術,進一步強化並提升領導地位。」
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