愛德萬提供最佳SoC測試解決方案

DennyT

在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能
- \1 W- d) W# m3 o& D7 ?+ n6 e力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
+ d+ m% r# S4 Z0 _1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
+ h! N3 d% c  a4 N/ g& g2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
9 P& w# Y6 l9 ^' D# _) J3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.
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換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
, i* i, ~8 r  ~; `但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及
  a* [" m6 T! R/ Q( F0 E& t高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.

另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
4 w* l2 i8 I4 F- ?' Q$ X7 D及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
+ m- K" x) f5 V) u8 G% S* \3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
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愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
/ p5 Z5 P* I0 f5 v彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活.

DennyT

到處拉拉蛇, 遇到熟人了, 哈.

其實是看到一條新聞寫道 "IP產業生態系統已毀　亟需重新整併？", 覺得觀點與
9 k; }9 x  Q8 C9 m! m) F  k4 j這位仁兄(Mosaid Technologies的半導體IP部門副總裁Mike Kaskowitz)有所不同,
' }, I4 g6 a* D& T$ b. e6 w想屁一屁, 卻發現該站有論壇但不支援針對新聞的回應, 有點可惜, 所以就給了點
) K7 x) G8 q% A- F! K( q8 Q0 G! A3 L小建議.

DennyT

半導體測試協會(Semiconductor Test Consortium，STC)宣稱，有關測試設備(ATE)週邊介面標準開發的行動已取得重大進展。這被稱為STIX (Semiconductor Test Interface eXtensions)的行動，據說可解決ATE不斷增加的成本和效率挑戰。
5 G. G. g; J0 Y) B# |$ r! Y
, i; z9 X1 c; N) a# ySTIX行動同時包含開放式硬體和軟體規格。該行動的關鍵，在於不斷成立由新技術與產業驅動之工作小組，以解決相關的週邊領域問題。這些策略性工作小組旨在收集更多有關測試技術的意見。新成立的工作小組將與STC已經開始針對硬體擴展塢(hardware docking)、探針卡、標準測試介面語言(STIL)和產學合作專案進行研究的工作小組一起努力。

( e# ]& c( ^' [9 a( R+ P# E不過對於STC而言，還有一場硬仗要打。多年來，ATE公司已經單獨開發了各種專有測試裝置，但是現有模式近來出現總測試成本暴增的問題。為因應以上問題，包括Advantest、Intel等公司在2002年發起成立了STC；該組織的目標是為ATE領域建立一個“開放性架構”，這將可實現測試裝置的“即插即用”第三方模組的開發。在做這些工作的同時，STC希望降低不斷上漲的IC測試成本。
1 S% A  l3 T. W6 t( H5 i+ K) R( n
, P, x' d$ _' R2 K  _STC也試圖能取得來自第三方模組製造商與各競爭ATE廠商的技術支援。事實上一開始，該組織希望ATE廠商能以其技術架構為基礎，生產具備相容性的測試設備產品；不過看來現實發展還是跟STC的預期相去甚遠。
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1 K! U, n4 R9 C9 B(參考原文：ATE group to devise interface standards)
(Mark LaPedus)
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1 c3 \% Z7 n% q' d& _8 P" D6 S也就是說, ATE市場規則仍無異於其他市場, 前三大互相箝制, 單一方發起之規格或組織, 其他二者絕對是視若無睹, 豈有協助敵人坐大之理. 繼而也可無視於客戶的需求(Intel), 因為Intel早已選邊站(大量採買了Advatest T2000), 早已不是潛在客戶了.

這種"開放的"ATE週邊介面標準向來只受小公司歡迎, 因為可藉設計生產相容功能卡打入大客戶, 但是對ATE市場巨擘就不適用了, 各自的高性能功能卡(測RF, 測Video, 測Audio, 測高速differential serial I/F) 都是為了售出高價大型ATE主機而存在, 若這時還支援對手的主機, 豈不是資敵損己, 規則就是: 什麼都可以開放, 就是不對敵人開放.