Cascade Microtech WinCal XE提供更快、更精準的晶圓級RF量測

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XE 版本加入先進的多埠校正、本地資料分析及元件特性描述支援工具

2 j6 e2 C: z4 q  Q6 W奧勒岡，Beaverton–2007年2月5日—由於複雜、多埠RF架構之無線消費性電子裝置不斷增加，使得工程師必須於其晶圓級 RF 元件進行更高難度及更複雜的RF 量測。為簡化製程， Cascade Microtech 進一步擴充其廣受歡迎的 WinCal 校正軟體功能，以包含重要特性，並提供更快、更精準的晶圓級 RF 量測。
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WinCal XE 在晶圓測試市場擁有其獨特性，其是唯一整合先進校正及 RF 精度強化功能的軟體。透過強大的新量測支援工具及導引系統將作業風險達至最低， WinCal XE 能達到精準並可靠的RF量測，而其為今日複雜半導體設計的關鍵。

. f2 d, Q4 M( d# Y2 mWinCal XE 為市場首要的校正軟體套件再增新功能
8 J- ?6 r: c8 b# f( x+ yXE版本主要新功能包括:

, ~; U' A' y+ X) R5 E. J4 S' L• 針對多埠量測的混合校正: 多達4個埠的自動化多埠混合校正
• 針對實驗室內的量測確認及資料分析之本地端資料矯正: 與其他校正軟體不同的是，現在你可以擁有先進的本地端資料分析，其允許在產出前，早期偵測出可疑的資料
• 元件特性分析工具 –包含廣泛選擇之強大量測工具，其能支援元件特性描述

針對四埠校正的獨特混合校正
! e% x* C: `; k一項越來越普遍的RF 量測挑戰，是針對差分架構之特性描述需要四個量測埠。目前可見的先進雙埠校正方式，能忍受晶圓探測時常見不確定的探針擺置，但針對四埠量測的先進校正方式則還未可見。另一項複雜性則是四埠系統的設定及較正，所需步驟較雙埠校正更多，因此發生錯誤的機會也相對較高。
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WinCal XE 提供了前所未有、獨有的全新先進混合校正演算法。此混合校正為四埠差分量測確保了精準的 “探測容忍” 校正。 WinCal XE亦透過直接的多埠設定導引、多埠校正標準及向量網路分析儀 (VNA) 埠管理、多達四埠之自動校正及確認，簡化了四埠量測。
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WinCal XE 提供以下先進校正，其為任何其他商業產品所無法達到的:
• 針對例行校正時趨增的精準度之eLRRM cal
• 混合四埠校正，包括SOLT-eLRRM 及SOLT-SOLR 以提供四埠校正精準度
, O: l& D8 O% h+ X8 f5 H0 v  P: j• 多線TRL 以將你優先的校正方式與 NIST-style 參考校正進行比較

先進的本地端資料分析
$ P% x8 i' a9 [功能強大的新工具能讓使用者轉換已測的s參數至適當元件格式。使用者能以各種形式檢閱其資料，而不需經歷產出及轉換結果的費時過程，如此，將能輕易地發現從其他顯示格式中較不易看得出來的影響或異常，並能在資料產出前，快速確認此系統設定及校正 。此系統同樣能簡單地創製及分享顯示樣板及客製資料庫的開發。透過 WinCal XE的先進資料程序，工程師將可在不離開實驗室的情況下獲得立即、本地端的資料分析，並解決問題。
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元件特性描述工具
  @5 {9 c' m& }9 X1 P$ sWinCal XE 提供廣泛而多樣的量測工具，其能支援元件特性描述。其中包括了說明如何針對需求應用既有函數樣本報告及顯示樣板。使用者可修改內建函數，以建立最常使用函數的資料庫，其中並包含了許多基本函數。而錯誤設定管理師提供錯誤設定增強及錯誤設定比較工具，對於管理資料品質提供高度彈性。

' `2 h; i/ `" G: Z# P. L& t定價及供貨
新產品供貨為接單後三週。如需更多資訊，請加email]Hsales@cmicro.com[/email] 電子郵件聯繫 Cascade Microtech 業務代表。

關於 Cascade Microtech
9 |: a# [0 p/ n5 ]. J3 TCascade Microtech, Inc. (Nasdaq: CSCD) 為精準電子量測、IC及其他小型架構測試之全球領導廠商。針對需要評估小型架構的科技事業單位及科學機構， Cascade Microtech 提供從晶圓、積體電路、IC封裝、電路板及模組、MEMS、生物學架構、光電元件等存取電子資料之方案。 Cascade Microtech的高可靠性產品晶圓測試解決方案，提供半導體業界領導等級的探針卡，降低了複雜半導體的製造成本。相關 Cascade Microtech 資訊，請參閱網站 www.cascademicrotech.com.