Chip123 科技應用創新平台
標題:
Wireless Telecom推出Noise Com J7000系列抖動測試系統
[打印本頁]
作者:
jiming
時間:
2007-8-20 12:41 PM
標題:
Wireless Telecom推出Noise Com J7000系列抖動測試系統
Wireless Telecom Group(WTG)推出Noise Com J7000抖動測試系統,是功能強大的測試儀器,能夠通過注入高斯雜訊來反映真實的信號行為,從而可以根據需要改變串列信號流,完成測試功能。為評估器件和系統性能,J7000能夠向信號流中精確加入白雜訊,測試信噪比(SNR)、載波雜訊比(CNR)和位錯率(BER)。
# w- \4 y/ n9 ? ]. f
" s& [3 R( `/ g0 J% r
J7000系統可支援從1 MHz至5 GHz的不同頻段;大於18dB的極高波峰因數(Crest Factor)保證隨機事件的最優分布,從而可以評估低BER事件。J7000系列可提供從-131d Bm/-66dBm至-3dBm(依賴於頻率)的輸出功率,並提供超低失真信號通路。
/ {" n3 b4 \- O: |/ q8 { @5 A7 Q
, \$ ~- G8 s% f; d! M2 b
WTG表示,Noise Com是無線、蜂窩衛星通信及軍用市場測試儀器的老品牌;利用在射頻數位信號生成方面的經驗推出的J7000系列,為高速串列數位應用的研發和生產提供理想的測試工具。J7000是WTG與微處理器和電腦晶片、數位存儲控制器及隨機記憶體晶片等器件的領先製造商密切合作開發。(
www.noisecom.com
)
6 c F2 e9 q' k% `! Y1 u
- T7 b1 N( [/ T0 n9 G5 s* A
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)
Powered by Discuz! X3.2