Chip123 科技應用創新平台

標題: 第四屆線上自動化測試高峰會 [打印本頁]

作者: jiming 時間: 2007-4-26 10:46 AM
標題: 第四屆線上自動化測試高峰會
美商國家儀器(NI)將於2007年5月8日在網際網路上舉辦第四屆自動化測試高峰會(Automated Test Summit 2007)，此次技術研討會，將著重在未來的趨勢探討，以及超越自動化測試的新挑戰。網站上的內容將提供90天的隨選即播功能。在免費的全天研討會中，與會者可檢視主題展示、觀賞技術研討會、參與現場問答討論區、以及在展示區中與廠商互動。

美商國家儀器自動化測試產品經理Kevin Bisking表示，美商國家儀器每年皆與技術領袖及ATE供應商合作，主辦自動化測試高峰會。在會中，美商國家儀器將呈現最新的測試策略和技術，以處理頂尖電子製造廠商的測試工程師和資深經理所面對的挑戰。為了使工作負荷越來越重的工程師更容易參加研討會，2007年美商國家儀器將在線上主辦這次的研討會。工程師可以用自己最方便的方式，了解測試開發的最佳實務範例。

微軟(Microsoft)/英特爾(Intel)/太克(Tektronix)/Averna/BAE Systems等代表皆將於研討會中分享其技術專業知識及最佳實務方法。美商國家儀器事業和技術部門Mike Santori將以「開發新一代測試系統」作為其演講主題。德州儀器(TI)自動化基本架構經理Marvin Landrum則負責下午「開發通用測試程式策略」主題演講。

美商國家儀器網址：www.ni.com/taiwan

歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://chip123.com/)