KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
( l1 u. e T1 m: u$ J( l7 c$ \ T提供業界最快最簡易的I-V特性分析
% p+ |( F0 E; J) J% i' p7 A8 X# n( z; {9 m
台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments; NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單,且具備卓越的量測效能及彈性,能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊,請瀏覽:
https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
9 E9 w$ q3 K8 K% i. g, T* c) U
% H2 t0 ~% t. u5 j) O9 e5 B2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
+ @9 A/ R. i( Q# Z' |7 v
2600A系列在硬體和軟體上都有了改善,不僅支援桌上型的單通道測試;也支援多通道的測試系統:
" g% c \9 x, M0 M
.領先業界的最快測試速度以及採樣速率
2 U( Z( n( L8 T9 {: v; a.幾乎無上限的通道擴充能力
! [3 Z) t) o; A$ x( ?& m.先進的平行測試能力
' m! y5 W4 d* `4 w. N, B$ ~' o.獨特的A/D 轉換技術,提供快速而精確的量測;系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器,大大提升量測效率。
& H4 j/ c& Y; D- @5 u.簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體,能夠快速且輕易地執行一般I-V測試,而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
$ B6 i- I) c3 R/ K6 S
.符合LXI Class C標準,能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
4 I0 S9 y& m" H2 Y7 I+ q! v9 \; q% a! I
/ v( j$ C1 f c( PKeithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求:從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
- W4 ~" x. k* j) L0 |# ^7 ^$ f. G+ c! p( q! C, U5 N
Keithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器,儀器本身將能包辦完整的測試程序,包括複雜的決策制定,不須把數據傳回PC。因此,能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲,整體測試時間也大幅縮短,為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
) y) c0 Z$ L: f J
8 }( C B$ ~" C5 M0 P- S. FTSP-Link是Keithley的擴充匯流排,讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器,為測試系統擴增通道,並緊密整合為一多通道系統。由此可見,使用者具備足夠的彈性擴充系統,即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
7 f7 E8 s: S1 B' I$ O7 c$ w
) a0 f* p+ {; ^) W% c/ f超快的測試速度及測試彈性 ! ]" n, E6 j( I8 q7 B
雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用,更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎,協助大幅提升量測效能:
7 j0 ~# q+ A- v, T7 N3 \.每秒讀取速度高達20,000讀值,能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
# E% C& \# f: Q0 ^4 v% `3 |.電子隔離通道(Electrically isolated channel),協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍,進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
/ L6 v8 Q, d+ l" @.較先前推出的SourceMeter儀器,時間精確性提高400倍, 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化,同時更緊密掌握測試條件。
% U0 w! \; ?2 k& R* e0 ^.支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
- `: C! ?: b& A
.提供平行測試功能,能同時執行32項測試(最高達64通道);所有SMU通道都能同步,或非同步地在系統中對任何通道數量,執行相同或不同的測試。
; f# N5 V: A* g# R! Z. 改良後的雜訊輸出性能,避免敏感元件受損
' E! }8 [* ]! V& _8 k
2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下,一個典型的BJT測試項目,搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24%。
# A1 x* Z5 h+ r
* K; L T9 l+ ] k7 y! [$ t% D簡化桌上型應用的操作程序& U0 w0 m. z3 N f
從各種角度評估,2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外,Keithley在軟體工具方面也有類似的提升,使其同樣能在實驗室裡,單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
6 b8 G1 A! t* G) D2 I
搭配2600A系列的新款TSP Express軟體,Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言,使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數,TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢,協助工程師更輕易的進行測試工作。
( Z, A9 }! W# [5 Z1 B% N& i9 E1 l* \6 q2600A系列甚至配備一個USB介面,協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
0 q# @! f( ^5 O4 H4 ?詳細資訊
" Z8 A; X' l+ U' N& L9 _3 o
有關Keithley各款射頻測試產品的資訊,請瀏覽:
http://www.keithley.com/rf