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標題: 什麼樣的設備能夠滿足你的測試要求? [打印本頁]

作者: chip123    時間: 2007-1-10 09:28 AM
標題: 什麼樣的設備能夠滿足你的測試要求?
如何構建完整的激勵響應測試環境?: W8 N) K; B) @% U7 Y8 w: u
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 邏輯分析儀的可升級性對用戶來講具有實際意義。可以保護用戶投資的方案,花相對少的錢,購買現在所需的指標的邏輯分析儀,隨著設計工作的不斷複雜,若現有的儀器指標不能滿足要求,不用像以前那樣放到一邊,重新購買一台新的,而是通過購買升級選項,將現有儀器的指標提高到新的檔次。    
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; X0 D1 m3 T( `4 L 在一台邏輯分析儀�同時具備碼型發生器和邏輯分析的功能,通過碼型發生器產生電路系統所需的激勵信號,這些信號可通過編輯形成,也可把通過邏輯分析儀捕獲的信號轉換而來。這樣,系統中的每個部件,每個子系統可單獨提前進行測試,而不用等到集成到一起時才能測試,這時若才發現致命問題,以前的設計可能會前功盡棄,導致巨大的浪費並嚴重影響產品推向市場的時間。" z. G: b7 Y% W  t. N
 
  U" |! y3 h2 z1 L    用戶購買儀器越來越趨向於購買一個針對特定應用的解決方案而不只是一台儀器的概念。邏輯分析儀的主要指標包括:通道數,存儲深度,定時分析速度,狀態分析速度等等。這些指標並不是孤立的,都有其制約因素,如存儲深度深、記錄時間長,則導致儀器的處理速度可能會減慢。新型的設備中會內置硬體加速電路,保證了快速回應,快速查找資料,使用起來很爽,決不會拖拖拉拉的等半天才有反應' k( [7 m2 f1 e
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! k/ b; p# `$ s* B* {5 }- Y    此外,定時分析速度越快,就要求存儲深度不能太淺,否則捕獲不到完整的信號過程。定時分析速度越快,還要考慮到邏輯分析通道間的時間偏差 ( channel to channel skew) 的影響,否則,高的採樣速率會被高達幾百ps的通道間的時間偏差淹沒掉了等等。




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