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標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題 [打印本頁]

作者: jiming    時間: 2007-1-8 03:49 PM
標題: 測試工程師面對數位RF技術的難題
數位RF技術的提升在消費者需求逐漸增加的刺激下,不斷向前邁進,同時也引領無線通訊的快速成長。然而,測試工程師卻面臨許多空前的難題,包括:
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1.數位 RF 訊號承載複雜的調變,
! l. y7 _: V, m6 A$ P2.訊號隨時間改變,從此刻就轉變到下一刻、跳頻、爆發、
- _: c- z/ X1 Z# d  r' c7 @8 y3.訊號發生短暫突波而後消失...6 d- ?- d2 _0 X8 n
.
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' u6 D4 f" Q9 y" en.互通性持續成為無線世界的重要議題...

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這些瞬間與時變傳輸技術協助 RF 設備避免干擾並最大化其尖峰功率... 測試工程師,進來交流討論吧?! :o) N/ r& ^- Q0 Y" P

4 ]3 C$ K* ]9 H7 [6 A. u! t& i1 [$ d數位 RF 的測試儀器不僅需搭配較寬的頻寬,而且這些頻寬還需具備高動態範圍、快速訊號擷取,以及能夠與時域、頻域和調變域完全相關聯。6.2 GHz RSA6106A 和14 GHz RSA6114A 提供110 MHz 的即時頻寬,並同時提供73 dB的無混附訊號(spurious)動態範圍,所以對於各種RF 應用,從先進的蜂巢式無線電的功率放大器,到最新的脈衝雷達訊號等,都能完全符合產品在應用上的需求。
作者: Leo    時間: 2007-1-9 11:14 PM
確實! 對於日益複雜的RF訊號, 一直以來對工程師來說都是嚴苛的挑戰, 小弟也很好奇一個測試工具到底需要具備麼條件? 才能稱的算是"好的"工具.
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"速度"算是決勝的關鍵嗎? 還是...
作者: ajay168    時間: 2007-1-11 04:42 PM
個人覺得一般的儀器都能滿足測試特性9 R! G1 O: D; \! W% y9 a
問題在於整合性問題8 P- a' b* c4 }, n& r0 k0 F$ A8 Z% R
個人最近一年在研究使用LABVIEW來做整合
2 H8 y/ B4 b& a; I( a9 @1 o% g發現它可以做到的事太多了; T. P# }! `0 `* |
只要擷取一小部份訊號加以運算就可以得到令人滿意的結果
* O7 s- _+ f1 @! P1 J! p8 G4 V當然長時間追中;存檔這都是必備的1 e5 j3 l2 h  b
而且它相同的硬體 可以做多變的組合 符合眾多不同樣式型式的產品$ G+ o% \7 \/ n5 r: T. O
所以囉 個人見解  RD是需要學習labview的 並且精進它
5 j8 g: J& Z9 u8 X我認識的RD都是很排擠它 因為認為那是現場生產在用的東西 用於研發不夠格! }0 n3 }" q; ^: h
以上為個人見解
作者: Leo    時間: 2007-1-11 08:43 PM
標題: 回復 #3 ajay168 的帖子
LabVIEW確實在做儀器量測數據的整合較為簡單, 但是對於大量儀器的整合可能就沒那麼好用了喔! 對於此類的應用, 一般大多使用LabvWindow或是VC...來控制才比較會有系統些
作者: DennyT    時間: 2007-1-15 05:02 PM
標題: 面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
) ]. }' H7 ]3 y' gLabview還要寫寫修修, 等不及了.
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通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用# D# {4 g$ ?: |" @2 F8 M" |5 N' [
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率' a: [9 A! S( u! W$ j* K- p
以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput
7 B) _- r; q2 z3 \& l5 d最大化, 以降低test time overhead.
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
% K6 I# x6 O* i0 \3 j' A儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
5 c8 Y& ~6 ]; P8 k( b上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.$ `  }) J+ v, j  `  l4 F8 Q+ q/ T+ F

8 s* V. x  K1 n8 X3 I! r而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.2 G/ g; _: N2 ^
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至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
; `# B5 Z0 \, z8 V3 J$ d; @6 w因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了- g. r8 K3 @) {: }
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,  i( O) F! {1 ^
向老闆提預算買solution的事要做了.
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而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
0 a. i" p" z- l+ D2 H測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的0 y; G: }  y" I8 |
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他1 z2 g0 r0 ?+ ]! r' V" K( T2 \( x
解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了.




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