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標題: 請教兩個關于ESD的問題 [打印本頁]
作者: hvpower    時間: 2008-11-29 11:40 AM
標題: 請教兩個關于ESD的問題
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
4 g8 E" z7 E1 R, i9 t4 M$ ~9 |第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
作者: andyjackcao    時間: 2008-12-2 09:21 PM
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表 & z' F5 n0 }- i3 g. L
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
% w6 ?- p' e6 n3 a8 v& k第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...

8 X2 }9 P" r% T4 G( U" R# H, H" z- M. h
我是这样理解的：' G' _% v' M2 i, O+ v
第一個：输出PAD也要做ESD保护，否则这个NMOS管也容易损坏
5 V# ~6 ?1 t( k, i* _0 ^: N第二個：这是根据ESD测试标准来测试的，引脚由我们提供，测试公司只负责测试；2 a2 c5 x7 d# ^; H/ D' W
        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了，不需要每个都测试；
作者: alai    時間: 2008-12-11 01:56 PM
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电，测试时，任意两个引脚之间都应该进行放电测试，每次放电检测都有正负两种极性，所以对I╱O引脚会进行以下六种测试：( p2 g6 k; S- H* P' |/ _" x
1) PS模式：VSS接地，引脚施加正的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；, @7 D8 h  n4 M4 _0 Y
2) NS模式：VSS接地，引脚施加负的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；) L% {, T( b+ W
3) PD模式：VDD接地，引脚施加正的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；
% q" H8 M2 ]- y4) ND模式：VDD接地，引脚施加负的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；0 v2 Q; f; g& \6 ^- z6 M
5) 引脚对引脚正向模式：引脚施加正的ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空；$ @$ c# b" `# P+ q
6) 引脚对引脚反向模式：引脚施加负的：ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空。: M8 M% e( d3 u5 w
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试# y2 p8 a! W' b/ `

) z3 c% }. y  Z- h) v2 w8 b应该是one by one 的测试，管脚多的话，排列组合就多，很费时的。
作者: winter_dm    時間: 2008-12-11 01:57 PM
第二个：ESD测试都是有参考引脚的，也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的，而是相对于某个引脚的ESD电压，通常是对电源和地。因此，ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型，如HBM,CDM等
作者: hvpower    時間: 2008-12-22 01:50 PM
THANK YOU  ABOVE  
作者: csleea    時間: 2008-12-22 06:30 PM
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
作者: wesleysung    時間: 2010-1-12 06:22 PM
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路4 k- R+ t' {' ?4 |* Q$ }
2.每隻針腳都要測試　一根一根來你可以看JEDEC standard　
作者: xiangxianga396    時間: 2010-1-20 04:17 PM
回復 7# wesleysung : \! e! Y4 i, ?' c5 N+ S
* U& P) G3 e$ G7 {' a
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
8 r" L0 Y( O& n  u( w. n
8 {# Z8 b0 V7 m; i; c- @6 {8 d每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护，无论是input,output,power pad.& T7 i0 A0 C  e( m, @3 U% g
+ f% S3 [* s3 k+ `
第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。
( E. _- g7 f! ^( E
( u, `9 m$ Y" ?) k" c+ w+ A只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
# |9 w1 A$ v6 @% l: v  E; \每一个power pad VS. 每一个power pad;
. U, X- U; A3 S8 t" H5 Y% P6 A每一个I/O pad VS. 每一个power pad;. {* Z' l; G) f: u4 Q) a
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
作者: tacopippen    時間: 2010-1-20 06:45 PM
看了這些文章  r- a1 o7 j7 ^: Z( V. }4 F7 m3 S" j
對esd protection又有進一步的認識了
作者: wangdali163    時間: 2013-7-15 05:11 PM
每测一次，都要换新的IC吗？



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