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標題: 8/21 2008年機器視覺技術研討會∼迎向新一代自動光學檢測 [打印本頁]
作者: heavy91    時間: 2008-8-8 10:54 AM
標題: 8/21 2008年機器視覺技術研討會∼迎向新一代自動光學檢測
機器視覺已在全世界廣泛運用於半導體、電子業、汽車、食品、醫藥等各種產業。在台灣，除平面顯示器(FPD)、印刷電路板(PCB)、發光二極體(LED)、太陽能(Solar cell)等之生產與檢測設備外，模具、螺絲、鑽頭等工件檢測設備也使用機器視覺的技術，包含工件有無之判斷、條碼辨視、定位、尺寸量測到顏色檢測、印刷檢測、瑕疵檢測等功能。而隨著檢測速度、精度要求以及待測物體積的提升，影像處理的速度需求儼然成為機器視覺領域中的新趨勢。本次研討會將探討新一代光學自動化檢測技術上，提供國內業者將高解析度自動化光學檢測設備國產化的解決方案，增加產業的競爭力，佈局平面顯示器(FPD)、印刷電路板(PCB)、發光二極體(LED)、太陽能(Solar cell)的新商機。
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7 ]8 d. k4 w9 o, A7 r由自動化應用平台領導廠商 凌華科技 與工業用攝像機市佔率第一的 東芝泰力 (Toshiba Teli)，以及影像擷取卡及圖像分析軟體的比利時廠商 Euresys 共同主辦『2008年機器視覺技術研討會∼迎向新一代自動光學檢測』，將帶領您一探當前機器視覺的技術新趨勢並藉此機會與業界討論分享成功案例。透過動態實機展示，說明機器視覺應用中所需之工業用攝像機及數位化影像處理整合方案，其中包括高速度千萬像素工業攝影機、彩色線陣掃描應用之影像擷取卡，以及PCI Express高速度高頻寬之匯流排技術等解決方案。
日期：2008年8月21日(星期四)
地點：台北國際會議中心101C室 ( 台北市信義路五段1號   地圖  )
聯絡窗口：02-82265877 分機 537 陳小姐
Time 時間Agenda 課程Speaker 演講者
13:15 - 13:30報到 Register
13:30 - 13:50自動化的明日之星--機器視覺 Next generation of machine vision technology凌華科技 ADLINK
( a" i: A+ D; d9 f$ K" G6 tEthan Huang 黃怡家
13:50 - 14:30Color scan 影像擷取技術及應用 New technology of color scanEuresys  E" P' y. e# E6 }  B
Marc DAMHAUT
14:30 - 15:00運用PCI Express 匯流排升級影像系統頻寬 High bandwidth vision system: From PCI to PCI Express凌華科技 ADLINK
9 F" D8 `+ [% I  v* Z6 l' MNeil Chen 陳文吉
15:00 - 15:20休息 Tea Break
15:20 - 16:00提升影像解析度--跨入千萬像素工業攝像機: l# l! j" t$ N  v+ ]
The most advanced digital camera - 10M Pixels Ultra High resolution & High speed Camera		Toshiba Teli CTO8 f9 }, l" u: o2 h% _  e
川上河幸
16:00 - 16:40機器視覺整合應用於節能產業
( Y3 `, ~9 S9 d$ N  V/ N# BMachine vision solution in energy saving industry		凌華科技ADLINK
8 w; w8 ~  Z0 }, |, g. _" [" ZLynn Kuo 郭瑞昕
16:40 - 17:00現場問答/問卷回收（備有精美小禮物）Q & A
注意事項：
  • 本活動免費參加，座位有限，請於8月14日 (四) 前傳真(02) 8226-3337 或線上回覆報名。
  • 請於活動開始前完成報到。未能準時報到或當天無法出席之學員，主辦單位無法為您保留座位及資料袋。
  • 現場報名之學員，主辦單位視現場狀況保有開放進場與否之權利。
  • 參加學員憑公司名片於報到時換取研討會資料袋及活動贈品乙份。
主辦單位：凌華科技、東芝泰力(Toshiba Teli)、Euresys




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