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標題: ADC/DAC測試參數 [打印本頁]

作者: luwanzen    時間: 2008-8-6 03:28 PM
標題: ADC/DAC測試參數
當我們在測ADC/DAC時總是有一些參數,例如INL,DNL,THD,SFDR....
0 X4 |2 s' l. b6 B, I7 f但是測試出來後總是要知道我們量測值的好壞,請問有沒有一些standard是在定義這些參數所要符合的規格標準來與我們測試結果做比較呢?
作者: jerboa123456    時間: 2008-8-6 09:10 PM
有啊!一般的INL/DNL 不能超过 1LSB,THD与SFDR 就与理论计算值比较,以检测你实际AD/DA的性能.
作者: finster    時間: 2008-8-9 08:49 AM
一般來說並沒有一定的標準規格來定出到底你所作出來的ADC/DAC有多好
# W$ D& a: S: \% k7 Z$ ?% t; ~6 r絕大部份都是拿國外的datasheet來比說你所作出來的ADC/DAC能否達到類似的規格,如果差異太大,那就會受到別人的質問
& ~' J( g' t5 Q9 o. O( t5 r0 g我們絕大部份都是拿analog device公司的datasheet作為參考5 _5 z4 Q7 O! @, x+ b* p$ N
另外,ADC/DAC會因為bit數的不同,速度的不同而有不同的要求和規格- T: b3 v2 Q* V! `0 t& K: y
所以,在不同的應用下,會有不同的標準要求
作者: winnie22    時間: 2008-9-25 11:01 AM
可否請問ADC的DNL及INL簡單量測方式??




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