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標題: 4/29 NS 監控、測試及測量系統解決方案研討會 [打印本頁]

作者: chip123 時間: 2008-4-11 04:09 PM
標題: 4/29 NS 監控、測試及測量系統解決方案研討會
監控、測試及測量系統廣泛用於汽車、醫療、軍事、生產及測試等多種不同行業。美國國家半導體是市場上居領導地位的類比晶片供應商，一直致力於開發可支援不同系統設計的創新製程技術，以確保產品不僅可發揮極高的能源效率，而且性能更穩定可靠。

本次研討會是探討如何構思獨特的設計，讓產品在市場上脫穎而出? 有興趣者實不容錯過這個難得的觀摩交流機會。

研討會的舉行日期、時間及地點如下：

報名表

研討會的議題包括：
· 電源管理解決方案
· LED 的應用
· 適用於安全系統的 PoE 供電系統
· 低速放大器 + 類比/數位轉換器
· 高速放大器 + 類比/數位轉換器
· 介面產品

會議全程將以中文解說並附英文講義，現場也設有產品展示區。所有出席研討會的人士都會獲發一份有關研討內容及其他文宣方面的資料。此外，研討會圓滿結束之後，每一位參加者都可獲贈精美 Waterman 原子筆, 價值新台幣 $1,200，並可參加幸運抽獎，獲得時尚蘋果iPod!

有意參加者必須線上預先登記，由於名額有限，請盡速報名參加，以免向隅。
報名表

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