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標題: 3/27 Leaptronix邏輯分析儀應用於FPGA量測應用研討會 [打印本頁]

作者: chip123    時間: 2008-3-6 05:16 PM
標題: 3/27 Leaptronix邏輯分析儀應用於FPGA量測應用研討會
完整的 FPGA 解決方案能夠簡化您的 FPGA 除錯和測試工作,讓您可以花時間解決問題,而非花時間尋找問題。擁有高密度、高容量、低耗電功率與多腳位優勢的FPGA,讓使用者容易設計、製作自己需要的系統,使產品能快速上市。然而隨著產品上市,依據設計與運用需求而選擇最合適的FPGA晶片,並善用軟體設計工具,以及適時考慮採行現成可用的IP,如此即可用最靈活、變化、彈性的方式,來完成嵌入式CPU的週邊設計搭配。5 R% r. Z* }+ ?6 L0 S
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Leaptronix 誠摯邀請您出席參加於3月27日盛大舉辦的FPGA量測研討會,針對FPGA竭誠歡迎您報名參加。會中將與您分享Leaptronix LA系列獨立可攜式邏輯分析儀的應用展示,幫助您解決在研發時遇到的瓶頸;您更可以與技術工程師交換意見,並觀看Leaptronix儀器的現場展示。同時您還能瞭解未來Leaptronix在量測技術的應用及主要方向。. X# ]" h+ j$ X# a% W6 k6 x& k
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參加這場FPGA量測應用研討會,聽取Leaptronix技術工程師在量測領域所發表的寶貴意見,相信對於您創新研究及發表研發成果有很大助益。此外,Leaptronix另有電源供應器、邏輯分析儀A系列多項系列產品可供選購,竭誠歡迎您踴躍出席。詳情請上網站:www.leaptronix.com查詢




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